[實(shí)用新型]用于智能儀表的電源轉(zhuǎn)換芯片性能測(cè)試電路

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721847623.8
• 申請(qǐng)日: 2017-12-26
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN207601240U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-07-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張曉丹;章歡;林明星;王東雪
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 金卡智能集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/26
• 分類號(hào): G01R31/26
• 代理公司: 杭州華鼎知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 33217
• 代理人: 魏亮

本實(shí)用新型提供了用于智能儀表的電源轉(zhuǎn)換芯片性能測(cè)試電路，屬于測(cè)試電路領(lǐng)域，包括：電源轉(zhuǎn)換芯片，在電源轉(zhuǎn)換芯片的一端連接有電源，在電源轉(zhuǎn)換芯片與電源之間設(shè)有固定電阻，在電源轉(zhuǎn)換芯片的另一端連接有可調(diào)電阻；在電源轉(zhuǎn)換芯片的兩端還并聯(lián)有實(shí)時(shí)獲取性能測(cè)試電路中采樣點(diǎn)電壓值的微控制器，微控制器的輸入端分別與固定電阻的兩端、可調(diào)電阻的兩端相連，微控制器的輸出端經(jīng)通信接口與獲取性能測(cè)試電路中電路參數(shù)的上位機(jī)相連。通過(guò)令微控制器采集電源轉(zhuǎn)換芯片的輸入輸出電壓并計(jì)算電壓轉(zhuǎn)換效率和負(fù)載調(diào)整率，無(wú)需從高低溫環(huán)境中引出測(cè)試線到高低溫箱外的電壓表、電流表，避免引入測(cè)試線帶來(lái)的測(cè)試線壓降保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于測(cè)試電路領(lǐng)域，特別涉及用于智能儀表的電源轉(zhuǎn)換芯片性能測(cè)試電路。

背景技術(shù)

電源轉(zhuǎn)換芯片是智能儀表中常用的電源管理芯片。電源轉(zhuǎn)換芯片的負(fù)載調(diào)整率和電壓轉(zhuǎn)換效率是其重要的性能指標(biāo)。

目前在測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率及電壓轉(zhuǎn)換效率時(shí)，均需借助電流表、電壓表以及電子負(fù)載等進(jìn)行測(cè)試。常溫測(cè)試時(shí)可以利用數(shù)字萬(wàn)用表將表筆直接點(diǎn)在芯片輸入端和輸出端采集電壓，但是在高溫和低溫測(cè)試時(shí)必須在電源轉(zhuǎn)換芯片的輸入端和輸出端引出一段測(cè)試線連接到高低溫箱外部的電壓表及電子負(fù)載上進(jìn)行電壓的采集和負(fù)載電流的調(diào)整，測(cè)試線上會(huì)存在一定的壓降，并且負(fù)載電流越大壓降越大，這樣會(huì)導(dǎo)致此時(shí)采集到的電壓值或電流值不準(zhǔn)從而影響測(cè)試準(zhǔn)確性。

實(shí)用新型內(nèi)容

為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點(diǎn)和不足，本實(shí)用新型提供了用于智能儀表的電源轉(zhuǎn)換芯片性能測(cè)試電路，能夠借助微控制器直接采集電源轉(zhuǎn)換芯片輸入輸出端的電壓避免了引入人為的測(cè)試誤差，從而提高測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性。

為了達(dá)到上述技術(shù)目的，本實(shí)用新型提供了用于智能儀表的電源轉(zhuǎn)換芯片性能測(cè)試電路，所述性能測(cè)試電路，包括：

電源轉(zhuǎn)換芯片，在電源轉(zhuǎn)換芯片的一端連接有為性能測(cè)試電路供電的電源，在電源轉(zhuǎn)換芯片與電源之間設(shè)有固定電阻，在電源轉(zhuǎn)換芯片的另一端連接有可調(diào)電阻；

在電源轉(zhuǎn)換芯片的兩端還并聯(lián)有實(shí)時(shí)獲取性能測(cè)試電路中采樣點(diǎn)電壓值的微控制器，微控制器的輸入端分別與固定電阻的兩端、可調(diào)電阻的兩端相連，微控制器的輸出端經(jīng)通信接口與獲取性能測(cè)試電路中電路參數(shù)的上位機(jī)相連。

可選的，在電源與固定電阻R之間設(shè)有采樣點(diǎn)A，在固定電阻R與電源轉(zhuǎn)換芯片之間設(shè)有采樣點(diǎn)B，在電源轉(zhuǎn)換芯片與可調(diào)電阻之間設(shè)有采樣點(diǎn)C，微控制器分別獲取采樣點(diǎn)A、B、C的電壓值。

可選的，所述電路參數(shù)包括：

采樣點(diǎn)電壓值、固定電阻的電阻值R、可調(diào)電阻的電阻值R`。

可選的，所述通信接口為串口。

可選的，所述可調(diào)電阻為滑動(dòng)變阻器。

本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案帶來(lái)的有益效果是：

通過(guò)令微控制器采集電源轉(zhuǎn)換芯片的輸入輸出電壓并計(jì)算電壓轉(zhuǎn)換效率和負(fù)載調(diào)整率，無(wú)需從高低溫環(huán)境中引出測(cè)試線到高低溫箱外的電壓表、電流表，避免引入測(cè)試線帶來(lái)的測(cè)試線壓降保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本實(shí)用新型提供的用于智能儀表的電源轉(zhuǎn)換芯片性能測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)作進(jìn)一步地描述。

實(shí)施例一