[實用新型]NPN型三極管有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721825396.9 | 申請日: | 2017-12-22 |
| 公開(公告)號: | CN207587739U | 公開(公告)日: | 2018-07-06 |
| 發(fā)明(設計)人: | 馮榮杰;劉東;胡鐵剛 | 申請(專利權)人: | 杭州士蘭微電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/735 | 分類號: | H01L29/735;H01L29/06;H01L21/331 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 智云 |
| 地址: | 310012 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 摻雜 本實用新型 電場 表面位置 底部位置 電場集中 高壓擊穿 擊穿電壓 摻雜區(qū) 發(fā)射極 集電極 濃度比 緩變 延伸 懸空 | ||
本實用新型提供了一種NPN型三極管,自所述N型注入層表面開始并延伸至所述N型外延層內(nèi)部的P型摻雜區(qū)域,所述P型摻雜區(qū)域包括第一P型摻雜區(qū)域及自所述第一P型摻雜區(qū)域表面開始并延伸至所述第一P型摻雜區(qū)域內(nèi)部且超出所述第一P型摻雜區(qū)域外側(cè)的第二P型摻雜區(qū)域,所述第二P型摻雜區(qū)域的摻雜濃度比所述第一P型摻雜區(qū)域的摻雜濃度低,由此形成了緩變的摻雜區(qū),減少了電場的集中程度,從而所述第二P型摻雜區(qū)域能夠補償所述N型注入層所引起的BVcbo降低問題,同時,可以將所形成的NPN型三極管的電場集中點從表面位置移至底部位置,即移到高壓擊穿位置,由此可以提高發(fā)射極懸空時集電極對基極的擊穿電壓BVcbo。
技術領域
本實用新型涉及集成電路技術領域,特別涉及一種NPN型三極管。
背景技術
技術的發(fā)展中,雙極器件組成的集成電路因其高壓、大功率管的特點一直扮演著重要的角色。雙極器件通常指的是含有集電極、基極、發(fā)射極三端引出的NPN型三極管和PNP型三極管。集電極、基極、發(fā)射極分別簡稱為C、B、E。具體請參考圖1,對于集成電路中的NPN型三極管而言,集電極為做在P型襯底10上的N型外延層11中的N型摻雜區(qū)12,基極為N型外延層11中摻雜形成的P型區(qū)域13,發(fā)射極為在基區(qū)中重摻雜形成的N型區(qū)14;另外,P型襯底的接觸端在集成電路中通常從外延層表面引出,通常將襯底的引出端簡稱為S。
NPN型三極管有這幾個與耐壓有關的最重要的電參數(shù):基區(qū)懸空時集電極對發(fā)射極的擊穿電壓BVceo、發(fā)射極懸空時集電極對基極的擊穿電壓BVcbo、基極相對襯底的擊穿電壓Vbs、集電極對襯底的擊穿電壓Vcs。其中最重要的是BVceo,其決定了器件可正常工作的最高電壓。通常電路應用中,也只對BVceo提出明確的要求。由器件原理可知,為了得到足夠的BVceo,BVcbo一定不能低于設定的BVceo要求,否則BVceo會受限于BVcbo。因此在實際制造中,只需保證器件的BVcbo比BVceo大20%-50%即可。
當需要提高BVceo時,通常也要提高BVcbo。BVcbo一般由基區(qū)的結深曲率半徑和外延電阻率決定,因此通常就要調(diào)整基區(qū)退火時間和外延濃度。外延變淡時,為了防止表面寄生PMOS開啟,有時會在整個外延表面做一層淡的N型注入層15(具體請參考圖2),用于N型外延表面加濃,但這層加濃會引起B(yǎng)Vcbo降低,抵消了BVcbo提高的部分。在現(xiàn)有技術中,有時會將N型淡注入層從不用光刻版的整片注入改為用光刻版來實現(xiàn),將P型基區(qū)本身及其周圍一定范圍的N型淡注入?yún)^(qū)域刪除,這方法不僅增加了一次光刻使得成本增加,且仍留有局部未被N型淡注入層加濃的N型外延表面,容易形成PMOS的開啟溝道。此外,現(xiàn)有技術所形成的NPN型三極管的電場集中點位于表面位置16(具體請參考圖3),即位于低壓擊穿位置,這也一定程度上降低了發(fā)射極懸空時集電極對基極的擊穿電壓BVcbo。
因此,如何提高BVcbo仍是本領域技術人員需要解決的一個問題。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的在于提供一種NPN型三極管,以提高發(fā)射極懸空時集電極對基極的擊穿電壓BVcbo。
基于上述目的,本實用新型提供一種NPN型三極管,所述NPN型三極管包括:
P型襯底;
位于所述P型襯底上的N型外延層;
位于所述N型外延層表面的N型注入層;
自所述N型注入層表面開始并延伸至所述N型外延層內(nèi)部的P型摻雜區(qū)域,所述P型摻雜區(qū)域包括第一P型摻雜區(qū)域及自所述第一P型摻雜區(qū)域表面開始并延伸至所述第一P型摻雜區(qū)域內(nèi)部且超出所述第一P型摻雜區(qū)域外側(cè)的第二P型摻雜區(qū)域,所述第二P型摻雜區(qū)域的摻雜濃度比所述第一P型摻雜區(qū)域的摻雜濃度低;
自所述P型摻雜區(qū)域表面開始并延伸至所述P型摻雜區(qū)域內(nèi)部的第一N型摻雜區(qū)域;及
自所述N型注入層表面開始并延伸至所述N型外延層內(nèi)部的第二N型摻雜區(qū)域。
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H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結耗盡層或載流子集結層的電容器或電阻器;半導體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導體本體的特征區(qū)分的
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H01L29-66 .按半導體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
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