[實(shí)用新型]無(wú)線性能檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721789828.5
• 申請(qǐng)日: 2017-12-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN207720150U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-08-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周智偉;劉光躍;王剛;王智;張建超;陳云波;趙小進(jìn);李觀強(qiáng);周海波
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 杭州海興電力科技股份有限公司;寧波恒力達(dá)科技有限公司
• 主分類號(hào): H04B17/29
• 分類號(hào): H04B17/29;H04B17/15
• 代理公司: 杭州凱知專利代理事務(wù)所(普通合伙) 33267
• 代理人: 邵志

本實(shí)用新型涉及一種無(wú)線性能檢測(cè)裝置，主要應(yīng)用于用電信息采集的無(wú)線技術(shù)檢測(cè)領(lǐng)域。無(wú)線性能檢測(cè)裝置，包括：主控器、抄控器、衰減器、以及用于放置待測(cè)無(wú)線模塊的第一屏蔽箱，其中，主控器，分別與抄控器、衰減器和待測(cè)無(wú)線模塊相連；用于在待測(cè)無(wú)線模塊主動(dòng)與主控器交互時(shí)，識(shí)別待測(cè)無(wú)線模塊的型號(hào)；抄控器，置于第二屏蔽箱內(nèi)；衰減器，分別與抄控器和待測(cè)無(wú)線模塊相連。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種無(wú)線性能檢測(cè)裝置，主要應(yīng)用于用電信息采集的無(wú)線技術(shù)檢測(cè)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

目前用電行業(yè)應(yīng)用無(wú)線通訊越來(lái)越多，一個(gè)無(wú)線模塊需要通過(guò)大量的性能檢測(cè)來(lái)保證其產(chǎn)品的質(zhì)量。

目前的檢測(cè)方法都是通過(guò)人工的方法，特別是無(wú)線模塊的性能逐項(xiàng)檢測(cè)時(shí)，需要人工頻繁的調(diào)整參數(shù)，以達(dá)到檢測(cè)的目的，例如檢測(cè)待測(cè)無(wú)線模塊的發(fā)射靈敏度，需要檢測(cè)每個(gè)頻點(diǎn)的發(fā)射靈敏度，其頻率調(diào)整需要人工設(shè)置，同時(shí)需要昂貴的設(shè)備(如頻譜儀)進(jìn)行檢測(cè)。檢測(cè)過(guò)程中需要投入大量的資源來(lái)設(shè)置參數(shù)，效率低，浪費(fèi)人力、時(shí)間，并且成本高。測(cè)試數(shù)據(jù)無(wú)法實(shí)現(xiàn)信息化，并形成數(shù)據(jù)庫(kù)，不適合批量轉(zhuǎn)產(chǎn)的檢測(cè)。

發(fā)明內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的在于克服上述存在的問(wèn)題，提供一種無(wú)線性能檢測(cè)裝置。

本實(shí)用新型的目的是通過(guò)如下技術(shù)方案來(lái)完成的，

無(wú)線性能檢測(cè)裝置，包括：主控器、抄控器、衰減器、以及用于放置待測(cè)無(wú)線模塊的第一屏蔽箱，其中，

主控器，分別與抄控器、衰減器和待測(cè)無(wú)線模塊相連；用于在待測(cè)無(wú)線模塊主動(dòng)與主控器交互時(shí)，識(shí)別待測(cè)無(wú)線模塊的型號(hào)；

抄控器，置于第二屏蔽箱內(nèi)；

衰減器，分別與抄控器和待測(cè)無(wú)線模塊相連。

作為優(yōu)選，所述主控器與抄控器、衰減器和待測(cè)無(wú)線模塊之間通過(guò)通訊接口相連；所述衰減器與抄控器和待測(cè)無(wú)線模塊之間通過(guò)射頻接口相連；所述檢測(cè)裝置還包括與主控器相連的信息終端。

無(wú)線性能檢測(cè)裝置，包括：主控器、抄控器、衰減器、以及用于放置待測(cè)無(wú)線模塊的第一屏蔽箱，其中，

主控器，分別與抄控器、衰減器和待測(cè)無(wú)線模塊相連；用于設(shè)置參數(shù)、向抄控器傳輸控制命令以發(fā)射數(shù)據(jù)幀、讀取待測(cè)無(wú)線模塊接收的數(shù)據(jù)幀；

抄控器，置于第二屏蔽箱內(nèi)，用于向待測(cè)無(wú)線模塊發(fā)射數(shù)據(jù)幀；

衰減器，一方面設(shè)定衰減值，保護(hù)抄控器和待測(cè)無(wú)線模塊，另一方面調(diào)整衰減值，以檢測(cè)待測(cè)無(wú)線模塊接收靈敏度。

作為優(yōu)選，所述參數(shù)包括衰減器的衰減值、合格抄包率和次數(shù)、抄控器的發(fā)射頻率；所述主控器與抄控器、衰減器和待測(cè)無(wú)線模塊之間通過(guò)通訊接口相連；所述衰減器與抄控器和待測(cè)無(wú)線模塊之間通過(guò)射頻接口相連；所述檢測(cè)裝置還包括與主控器相連的信息終端。

無(wú)線性能檢測(cè)裝置，包括：主控器、抄控器、衰減器、以及用于放置待測(cè)無(wú)線模塊的第一屏蔽箱，其中，

主控器，分別與抄控器、衰減器和待測(cè)無(wú)線模塊相連；用于設(shè)置參數(shù)、向抄控器傳輸控制命令以發(fā)射數(shù)據(jù)幀、讀取待測(cè)無(wú)線模塊接收的數(shù)據(jù)幀和通訊成功率；

抄控器，置于第二屏蔽箱內(nèi)，用于向待測(cè)無(wú)線模塊發(fā)射數(shù)據(jù)幀；

衰減器，用于設(shè)定衰減值，保護(hù)抄控器和待測(cè)無(wú)線模塊。

作為優(yōu)選，所述參數(shù)包括衰減器的衰減值、合格抄包率和次數(shù)、抄控器的發(fā)射頻率；所述主控器與抄控器、衰減器和待測(cè)無(wú)線模塊之間通過(guò)通訊接口相連；所述衰減器與抄控器和待測(cè)無(wú)線模塊之間通過(guò)射頻接口相連；所述檢測(cè)裝置還包括與主控器相連的信息終端。

無(wú)線性能檢測(cè)裝置，包括：主控器、抄控器、衰減器、以及用于放置待測(cè)無(wú)線模塊的第一屏蔽箱，其中，