[實用新型]一種射頻同軸開關射頻觸點接觸組件有效
| 申請號: | 201721775984.6 | 申請日: | 2017-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN207624874U | 公開(公告)日: | 2018-07-17 |
| 發明(設計)人: | 劉貝;劉六五;華海月 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第四十研究所 |
| 主分類號: | H01P1/12 | 分類號: | H01P1/12 |
| 代理公司: | 蚌埠鼎力專利商標事務所有限公司 34102 | 代理人: | 王琪 |
| 地址: | 233010 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 射頻 內導體 簧片 射頻同軸開關 觸點接觸 間隔布置 環形槽 長度方向兩端 縱截面形狀 觸點表面 水平布置 有效解決 側接觸 非接觸 共軸線 結霜 豎直 同軸 同心 | ||
一種射頻同軸開關射頻觸點接觸組件,包括兩個豎直間隔布置的內導體、水平布置的射頻簧片,兩個內導體的結構和規格分別對應相同,射頻簧片的形狀為長方形,內導體由自上而下依次同軸相接的第一圓柱、第二圓柱、第三圓柱、第四圓柱構成,第一圓柱的直徑大于第二圓柱的直徑,第二圓柱的直徑與第四圓柱的直徑相同,第三圓柱的直徑小于第二圓柱的直徑,射頻簧片的長度方向兩端與兩個第一圓柱的上側接觸或非接觸,其特征在于:每個第一圓柱的上側設有若干內外同心、間隔布置、與第一圓柱共軸線的環形槽,每個環形槽的縱截面形狀為V形。本組件能夠有效解決因射頻觸點表面結霜造成的開關失效。
技術領域
本實用新型涉及一種射頻同軸開關射頻觸點接觸組件。
背景技術
射頻同軸開關作為一種在軍事、航天、民用等系統工程中十分重要的元器件,廣泛使用在溫度為-55℃~+85℃,濕度為0~90%的環境中,主要作用是傳輸和切換射頻信號。
射頻同軸開關包括射頻觸點接觸組件等零部件,射頻觸點接觸組件包括兩個豎直間隔布置的內導體、水平布置的射頻簧片,兩個內導體的結構和規格分別對應相同,射頻簧片的形狀為長方形,內導體由自上而下依次同軸相接的第一圓柱、第二圓柱、第三圓柱、第四圓柱構成,第一圓柱的直徑大于第二圓柱的直徑,第二圓柱的直徑與第四圓柱的直徑相同,第三圓柱的直徑小于第二圓柱的直徑,射頻簧片的長度方向兩端與兩個第一圓柱的上側接觸或非接觸。
當射頻簧片的長度方向兩端與兩個第一圓柱的上側接觸時,兩個內導體之間借助射頻簧片呈電導通狀態,射頻同軸開關實現閉合;當射頻簧片的長度方向兩端與兩個第一圓柱的上側非接觸時,兩個內導體之間呈非電導通狀態,射頻同軸開關實現斷開。
在進行低溫環境試驗時,射頻開關常發生大規模的射頻觸點接觸失效,無法滿足用戶實際使用要求。造成這種失效的主要原因是射頻開關在進行低溫試驗過程中,隨著溫度的降低,射頻觸點表面形成凝露,當溫度降至零度以下時,凝露結霜,從而導致開關射頻觸點無法接觸,開關失效。而低溫下射頻觸點表面結霜是一個不可避免的物理現象。因此,低溫下開關的可靠性成為困擾國內外射頻開關廠商的難題。
現階段國內外射頻開關廠商主要采用射頻腔體和射頻觸點反復清洗工藝,盡量降低射頻腔體內雜質含量,降低凝露的露點。但由于技術、工藝等限制,現階段的射頻開關無法做到密閉式結構,隨著使用時間的推移,射頻腔體內雜質含量逐漸增多,射頻開關在低溫下失效概率大大增加,影響射頻開關低溫下工作的可靠性。
實用新型內容
本實用新型所要解決的技術問題是提供一種射頻同軸開關射頻觸點接觸組件,其能夠有效解決因射頻觸點表面結霜造成的開關失效,保證了開關的低溫可靠性。
為解決上述技術問題,本實用新型提供了一種射頻同軸開關射頻觸點接觸組件,包括兩個豎直間隔布置的內導體、水平布置的射頻簧片,兩個內導體的結構和規格分別對應相同,射頻簧片的形狀為長方形,內導體由自上而下依次同軸相接的第一圓柱、第二圓柱、第三圓柱、第四圓柱構成,第一圓柱的直徑大于第二圓柱的直徑,第二圓柱的直徑與第四圓柱的直徑相同,第三圓柱的直徑小于第二圓柱的直徑,射頻簧片的長度方向兩端與兩個第一圓柱的上側接觸或非接觸,每個第一圓柱的上側設有若干內外同心、間隔布置、與第一圓柱共軸線的環形槽,每個環形槽的縱截面形狀為V形。
為簡單說明問題起見,以下對本實用新型所述的一種射頻同軸開關射頻觸點接觸組件,均簡稱為本組件。
本組件的工作狀態為:當射頻簧片的長度方向兩端與兩個第一圓柱的上側接觸時,兩個內導體之間借助射頻簧片呈電導通狀態,射頻同軸開關實現閉合;當射頻簧片的長度方向兩端與兩個第一圓柱的上側非接觸時,兩個內導體之間呈非電導通狀態,射頻同軸開關實現斷開。
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