[實用新型]一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭

有效

• 申請號: 201721775902.8
• 申請日: 2017-12-19
• 公開（公告）號: CN207571023U
• 公開（公告）日: 2018-07-03
• 發明（設計）人: 丁海泉;高洪智;王動民;于新洋;蘇建全
• 申請（專利權）人: 廣東星創眾譜儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/3563
• 分類號: G01N21/3563;G01N21/359;G01N21/01
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 黃磊;陳宏升

1.一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭，其特征在于：包括一個以上的窄光譜光源、光源架、光電探測器、光電探測器保護筒，以及控制電路；其中光電探測器保護筒位于光源架的中心軸上且光電探測器保護筒的頂端與光源架固定連接，光電探測器保護筒的底端安裝有光電探測器，且光電探測器的感光面朝下；一個以上的窄光譜光源以光源架的中心軸為中心，均勻地朝下設置在光源架上；控制電路控制一個以上的窄光譜光源依次點亮。

2.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭，其特征在于：還包括保護罩，保護罩安裝于光電探測器保護筒的底部，用于保護光電探測器。

3.根據權利要求2所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭，其特征在于：所述保護罩的形狀為細圓筒狀。

4.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭，其特征在于：所述窄光譜光源采用窄光譜LED。

5.根據權利要求4所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭，其特征在于：還包括窄帶濾光片，窄帶濾光片分別設置在一個以上的窄光譜光源的正下方。

6.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭，其特征在于：所述窄光譜光源采用寬光譜LED，同時在寬光譜光源的正下方設置窄帶濾光片。

7.根據權利要求5或6中任一權利要求所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭，其特征在于：還包括透光玻璃片，透光玻璃片設置在窄帶濾光片的正下方。

8.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭，其特征在于：所述一個以上的窄光譜光源的波長不同，且均處于600～1100nm范圍內。

9.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭，其特征在于：所述光電探測器為單點探測器；所述光源架為圓形。

10.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭，其特征在于：所述窄光譜光源與光電探測器間的距離在2cm～5cm之間。