[實用新型]位移控制探針機構

有效

• 申請號: 201721754777.2
• 申請日: 2017-12-15
• 公開（公告）號: CN207682062U
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: 宇金龍
• 申請（專利權）人: 昆山冠品優精密機械有限公司
• 主分類號: B23Q17/20
• 分類號: B23Q17/20
• 代理公司: 昆山中際國創知識產權代理有限公司 32311
• 代理人: 尤天珍

本實用新型公開了一種位移控制探針機構，主體能固定安裝于外殼內，探針一端插設于主體的通孔結構內，探針另一端伸出外殼一端外側形成探測頭部，探針一端圓周外側壁與主體的通孔結構之間存在設定間隙，主體一端間隔設有至少兩個鋼珠組，每個鋼珠組由兩個沿主體圓周方向間隔排列的鋼珠組成，探針一端設有至少兩個徑向延伸的通斷觸點，各通斷觸點對應的搭設于各鋼珠組的兩個鋼珠上，各鋼珠、通斷觸點及信號發生裝置順序串聯成第一回路，壓敏電阻兩端分別與探針相鄰兩個通斷觸點之間的側壁及外殼固定，各個壓敏電阻以及信號發生裝置順序串聯形成第二回路，信號發生裝置傳信于控制系統，本實用新型能實現高精密檢測，有利于提高工件加工精度。

技術領域

本實用新型涉及一種檢具，特別涉及一種位移控制探針機構。

背景技術

目前探針機構多用于機床加工位置檢測和測量設備對工件尺寸的檢測，而現有的探針檢測時由于通訊延時等原因會導致探針接觸到工件后，伺服電機不能馬上停下來，探針實際上還會繼續向前運動一個微小的距離，進而導致檢測誤差無法避免，由于檢測誤差的存在，就給無法進一步提高加工精度，難以實現高精度加工，給高精密產品使用造成影響。

實用新型內容

為了克服上述缺陷，本實用新型提供了一種位移控制探針機構，該位移控制探針機構結構簡單，能夠自動進行誤差補償和修正，輸出精確的檢測結果，檢測誤差小，精度高。

本實用新型為了解決其技術問題所采用的技術方案：一種位移控制探針機構，包括外殼、主體、探針(最佳為三分量接觸式位移傳感器)、信號發生裝置、鋼珠、壓敏電阻和控制器，所述主體能夠固定安裝于筒狀的外殼內側，主體內側形成有軸向通孔結構，探針一端插設于主體的通孔結構內，探針另一端伸出外殼一端外側形成探測頭部，探針一端圓周外側壁與主體的通孔結構之間存在設定間隙，主體一端表面間隔的設有至少兩個鋼珠組，每個鋼珠組由兩個沿主體圓周方向間隔排列的鋼珠組成，探針一端圓周外側壁上設有至少兩個徑向延伸的通斷觸點，各個通斷觸點恰一一對應的搭設于每個鋼珠組的兩個鋼珠之間，所述各個鋼珠、探針底座上的各個通斷觸點以及信號發生裝置順序串聯形成第一回路，壓敏電阻一端與探針一端位于相鄰兩個通斷觸點之間的側壁相連，壓敏電阻另一端與外殼固定定位，所述各個壓敏電阻以及信號發生裝置順序串聯形成第二回路，信號發生裝置傳信于控制系統。

作為本實用新型的進一步改進，還設有彈性件，所述彈性件兩端分別與壓敏電阻和探針一端側壁固定連接。

作為本實用新型的進一步改進，所述探針一端位于相鄰兩個通斷觸點之間的側壁上設有徑向凸起結構，彈性件一端設有環套結構，該環套結構套設于探針一端圓周外側壁的徑向凸起結構上。

作為本實用新型的進一步改進，所述鋼珠組為三個，均勻分布于主體一端表面上的同一圓周線上，壓敏電阻也為三個，均勻分布于兩兩相鄰的鋼珠組之間。

作為本實用新型的進一步改進，所述探針包括探針底座和探針頭，所述探針底座為一端直徑大于另一端直徑的T形圓柱體結構，探針頭為桿狀結構，探針頭一端固定插設于探針底座另一端內，探針頭另一端形成圓球形接觸部。

作為本實用新型的進一步改進，所述探針底座直徑小的另一端圓周外側固定套設有一導向套，導向套圓周外側邊緣上形成有軸向凸起環，外殼和本體之間恰形成一圓環狀容納槽，導向套上的軸向凸起環容納于所述圓環狀容納槽內，且圓環狀容納槽沿其徑向的寬度大于導向套圓周外側邊緣的軸向凸起環沿其徑向的寬度。

作為本實用新型的進一步改進，所述探針一端圓周外側表面為圓錐面，本體軸向通孔結構為與探針一端圓周外側的圓錐面匹配的圓錐孔。

作為本實用新型的進一步改進，所述探針一端的端面上設有第一磁鐵，外殼另一端內側面上設有第二磁鐵，第一、二磁鐵同軸正對，且第一、二磁鐵之間存在設定距離。

作為本實用新型的進一步改進，所述外殼另一端固定設有一接頭，該接頭能夠與機器插接口快速卡接相連。