[實(shí)用新型]基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時(shí)間測量系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721746909.7 | 申請日: | 2017-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN207636277U | 公開(公告)日: | 2018-07-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 閆亞東;何俊華;張敏;韋明智;薛艷博;許瑞華 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人: | 陳廣民 |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 漫反射白板 橢球面 取樣 時(shí)間測量系統(tǒng) 背向散射光 靶點(diǎn) 本實(shí)用新型 測量裝置 取樣裝置 時(shí)間誤差 漫反射 散射面 散射 光闌 光學(xué)測量技術(shù) 時(shí)間分辨率 背向散射 測量系統(tǒng) 光闌中心 漫反射光 時(shí)間測量 真空靶室 反方向 焦點(diǎn) 光路 面型 入射 橢球 激光 室內(nèi) 引入 | ||
1.一種基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時(shí)間測量系統(tǒng),包括取樣裝置和測量裝置,其特征在于:所述取樣裝置包括球狀真空靶室和取樣光闌,所述球狀真空靶室內(nèi)設(shè)置有靶點(diǎn)和橢球面漫反射白板;打靶激光入射靶點(diǎn)產(chǎn)生的近背向散射光沿打靶反方向散射后由橢球面漫反射白板產(chǎn)生漫反射,漫反射光經(jīng)取樣光闌取樣后進(jìn)入測量裝置;所述靶點(diǎn)位于橢球面漫反射白板的一個(gè)焦點(diǎn)上,所述取樣光闌中心位于橢球面漫反射白板的另一個(gè)焦點(diǎn)上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時(shí)間測量系統(tǒng),其特征在于:所述測量裝置包括沿光路傳播方向依次設(shè)置的成像鏡頭、縮束正透鏡和二向色鏡;所述二向色鏡將光譜分離后,長波被透射進(jìn)入長波透射光測量單元,短波被反射進(jìn)入短波反射光測量單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時(shí)間測量系統(tǒng),其特征在于:所述長波透射光測量單元包括長波時(shí)間測量耦合鏡和長波時(shí)間測量快光電管;長波透射光由長波時(shí)間測量耦合鏡成像于長波時(shí)間測量快光電管所在的長波取樣光闌像面上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時(shí)間測量系統(tǒng),其特征在于:所述長波取樣光闌像面上設(shè)置有長波光吸收陷阱。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時(shí)間測量系統(tǒng),其特征在于:所述長波取樣光闌像面上還設(shè)置有長波光譜取樣光纖。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時(shí)間測量系統(tǒng),其特征在于:所述短波反射光測量單元包括短波時(shí)間測量耦合鏡和短波時(shí)間測量快光電管;短波反射光由短波時(shí)間測量耦合鏡成像于短波時(shí)間測量快光電管所在的短波取樣光闌像面上。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時(shí)間測量系統(tǒng),其特征在于:所述短波取樣光闌像面上設(shè)置有短波光吸收陷阱。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時(shí)間測量系統(tǒng),其特征在于:所述短波取樣光闌像面上還設(shè)置有短波光譜取樣光纖。
9.根據(jù)權(quán)利要求2-8中任一所述的基于橢球面漫反射白板的近背向散射光時(shí)間測量系統(tǒng),其特征在于:所述成像鏡頭將橢球面漫反射白板成像于一次像面上,所述一次像面上設(shè)置有雜散光濾波裝置。
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