[實用新型]近背向散射光學測量系統

有效

• 申請號: 201721746134.3
• 申請日: 2017-12-14
• 公開（公告）號: CN207636486U
• 公開（公告）日: 2018-07-20
• 發明（設計）人: 閆亞東;何俊華;王維;韋明智;薛艷博;張敏
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所
• 主分類號: G01N21/47
• 分類號: G01N21/47
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 陳廣民

1.一種近背向散射光學測量系統，包括取樣裝置和測量裝置，其特征在于：所述取樣裝置包括球狀真空靶室和系統成像鏡頭，所述球狀真空靶室內設置有靶點和散射板；打靶激光入射靶點產生的近背向散射光沿打靶反方向散射后由散射板產生漫反射，漫反射光穿過球狀真空靶室上的測量窗口后，再經過系統成像鏡頭進入測量裝置。

2.根據權利要求1所述的近背向散射光學測量系統，其特征在于：所述測量裝置包括沿光路傳播方向依次設置的光束縮束鏡和二向色鏡；所述二向色鏡將光譜分離后，長波被透射進入長波透射光測量單元，短波被反射進入短波反射光測量單元。

3.根據權利要求2所述的近背向散射光學測量系統，其特征在于：所述長波透射光測量單元包括沿光路傳播方向依次設置的長波相機取樣鏡、長波光譜時間取樣鏡和長波能量測量聚焦鏡；所述長波相機取樣鏡將一部分長波透射光反射后，經長波相機成像鏡頭成像在長波相機上；所述長波光譜時間取樣鏡將另一部分長波透射光反射后，經長波光譜時間測量耦合鏡耦合至長波光譜時間測量像面上，所述長波光譜時間測量像面上設置有長波時間測量快光電管和長波光譜取樣光纖，所述長波光譜取樣光纖與光譜儀相連；所述長波能量測量聚焦鏡將剩余的長波透射光聚焦于長波能量卡計探頭上；

所述短波反射光測量單元包括沿光路傳播方向依次設置的短波相機取樣鏡、短波光譜時間取樣鏡和短波能量測量聚焦鏡；所述短波相機取樣鏡將一部分短波反射光反射后，經短波相機成像鏡頭成像在短波相機上；所述短波光譜時間取樣鏡將另一部分短波反射光反射后，經短波光譜時間測量耦合鏡耦合至短波光譜時間測量像面上，所述短波光譜時間測量像面上設置有短波時間測量快光電管和短波光譜取樣光纖，所述短波光譜取樣光纖與光譜儀相連；所述短波能量測量聚焦鏡將剩余的短波反射光聚焦于短波能量卡計探頭上。

4.根據權利要求3所述的近背向散射光學測量系統，其特征在于：所述長波光譜時間測量像面上設置有長波光吸收陷阱；所述短波光譜時間測量像面上設置有短波光吸收陷阱。

5.根據權利要求4所述的近背向散射光學測量系統，其特征在于：所述長波相機成像鏡頭與長波相機取樣鏡之間設置有長波相機成像鏡頭可變光闌；所述短波相機成像鏡頭與短波相機取樣鏡之間設置有短波相機成像鏡頭可變光闌。

6.根據權利要求1-5中任一所述的近背向散射光學測量系統，其特征在于：所述系統成像鏡頭將散射板成像于一次像面上，所述一次像面上設置有雜散光濾波裝置。

7.根據權利要求6所述的近背向散射光學測量系統，其特征在于：所述系統成像鏡頭與球狀真空靶室的測量窗口之間設置有測量系統可變總光闌。

8.根據權利要求7所述的近背向散射光學測量系統，其特征在于：所述散射板是帶有打靶激光通道的異形散射板。

9.根據權利要求8所述的近背向散射光學測量系統，其特征在于：所述異形散射板為橢球面漫反射白板，所述靶點位于橢球面漫反射白板的一個焦點上，所述測量系統可變總光闌的中心位于橢球面漫反射白板的另一個焦點上。

10.根據權利要求9所述的近背向散射光學測量系統，其特征在于：所述長波相機和短波相機均為門控ICCD相機。