[實用新型]電磁閥的傾斜探針測試機構

有效

• 申請號: 201721740666.6
• 申請日: 2017-12-14
• 公開（公告）號: CN207528841U
• 公開（公告）日: 2018-06-22
• 發明（設計）人: 李東旭
• 申請（專利權）人: 蘇州美科威爾自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

本實用新型公開了電磁閥的傾斜探針測試機構，其包括固定柱，所述固定柱腰部設置有傾斜氣缸，所述傾斜氣缸側端設置有傾斜滑軌，所述傾斜滑軌設置有傾斜滑塊，所述傾斜滑塊固定有傾斜探針，所述傾斜氣缸的活塞桿一端與傾斜探針連接，所述傾斜探針通過傾斜氣缸沿傾斜滑軌滑動，所述固定柱頭部設置有下壓氣缸，下壓氣缸的活塞桿一端固定有用于下壓元器件的下壓柱。當傾斜探針斜壓頂針時，保證電磁閥固定不動從而保證測試的精準度。所述第一連接塊分別設置有縱向通孔和橫向通孔，縱向通孔與固定柱腰部螺柱連接，橫向通孔與第一橫向柱一端螺柱連接，所述第一橫向柱另一端與傾斜氣缸連接，便于控制傾斜探針的斜壓頂針的位置，擴大了機構的適用性。

技術領域

本實用新型涉及電磁閥的傾斜探針測試機構。

背景技術

目前電磁閥內部電路板有部分是相對于水平工作臺是傾斜的，利用探針測試時，需要斜壓電磁閥，雖然有底座固定，但是因是斜方向對電磁閥用力，極易造成電磁閥偏位。此外，探針檢測只能針對單一產品檢測，適用范圍小。

鑒于此，克服上述現有技術所存在的缺陷是本技術領域亟待解決的問題。

實用新型內容

本實用新型解決的技術問題是提供一種便于對傾斜的電路針進行檢測的電磁閥的傾斜探針測試機構。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：電磁閥的傾斜探針測試機構包括固定柱，所述固定柱腰部設置有傾斜氣缸，所述傾斜氣缸側端設置有傾斜滑軌，所述傾斜滑軌設置有傾斜滑塊，所述傾斜滑塊固定有傾斜探針，所述傾斜氣缸的活塞桿一端與傾斜探針連接，所述傾斜探針通過傾斜氣缸沿傾斜滑軌滑動，所述固定柱頭部設置有下壓氣缸，下壓氣缸的活塞桿一端固定有用于下壓元器件的下壓柱。

進一步的是：還包括第一連接塊和第一橫向柱，所述第一連接塊一端設置有縱向通孔，第一連接塊另一端設置有橫向通孔，所述縱向通孔與固定柱腰部螺柱連接，所述橫向通孔與第一橫向柱一端螺柱連接，所述第一橫向柱另一端與傾斜氣缸連接。

進一步的是：還包括第一子連接塊，所述第一子連接塊一端設置有第一子橫向通孔，第一子橫向通孔與第一橫向柱遠離固定柱的一端螺柱連接，所述第一子連接塊遠離第一子橫向通孔的一端與傾斜氣缸連接。

進一步的是：還包括第二連接塊和第二橫向柱，所述第二連接塊一端設置有第二縱向通孔，所述第二連接塊另一端設置有第二橫向通孔，所述第二縱向通孔與固定柱頭部螺柱連接，第二橫向通孔與第二橫向柱一端螺柱連接，所述第二橫向柱另一端與壓氣缸連接。

進一步的是：所述傾斜滑軌靠近傾斜探針的一端設置有用于對傾斜滑塊限位的限位螺釘。

本實用新型的有益效果是：傾斜探針測試時通過下壓固定電磁閥位置，保證測試精準度；調節便利，適用范圍廣；保護結構。

附圖說明

圖1為電磁閥的傾斜探針測試機構的示意圖。

圖2為電磁閥的傾斜探針測試機構的局部示意圖。

圖中標記為：固定柱1、傾斜氣缸2、傾斜探針3、下壓氣缸4、下壓柱5、第一連接塊6、縱向通孔61、橫向通孔62、第一橫向柱71、第二橫向柱72、第一子連接塊81、第一子橫向通孔811、第二連接塊9、第二縱向通孔91、第二橫向通孔92、傾斜滑軌10、傾斜滑塊11、限位螺釘12。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型進一步說明。