[實用新型]積分球組件及晶粒點測機有效
| 申請號: | 201721685643.X | 申請日: | 2017-12-06 |
| 公開(公告)號: | CN207650344U | 公開(公告)日: | 2018-07-24 |
| 發明(設計)人: | 鄧朝旭 | 申請(專利權)人: | 深圳市朝陽光科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市深軟翰琪知識產權代理有限公司 44380 | 代理人: | 孫勇娟 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍華*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 換擋 積分球 晶粒 容納結構 點測機 本實用新型 進光孔 濾光片 檢測結果 出光孔 轉動 | ||
本實用新型公開了一種積分球組件及晶粒點測機,積分球組件,包括積分球,還包括:容納結構,所述容納結構的下方設有進光孔,上方設有出光孔;所述容納結構內裝有換擋塊,所述換擋塊上設置有兩個以上的槽,不同槽內裝有不同規格的濾光片;當所述換擋塊轉動換擋時,相應規格的濾光片與所述進光孔對應。本實用新型技術方案提高了晶粒點測機的通用性及檢測結果的準確性。
技術領域
本實用新型涉及測試技術領域,具體涉及一種積分球組件及晶粒點測機。
背景技術
目前,LED芯片主要通過晶粒點測機進行檢測,以獲取光電參數。現有技術中的晶粒點測機中裝有一個積分球組件,該積分球組件內裝有單一指定規格的濾光片,當檢測過程中檢測到的LED芯片光強度變化較大,尤其超出最佳檢測范圍時,會導致晶粒點測機無法檢測到結果,或者即便勉強檢測到結果,檢測結果的準確性也比較差。
綜上所述,現有技術中的晶粒點測機通用性差,存在無法檢測到結果,或者即便勉強檢測到結果,檢測結果的準確性也比較差的問題。
實用新型內容
本實用新型實施例提供一種積分球組件及晶粒點測機,用于提高晶粒點測機的通用性及檢測結果的準確性。
為解決上述技術問題及達到上述有益效果,本實用新型提供一種積分球組件,包括積分球,還包括:
容納結構,所述容納結構的下方設有進光孔,上方設有出光孔;
所述容納結構內裝有換擋塊,所述換擋塊上設置有兩個以上的槽,不同槽內裝有不同規格的濾光片;
當所述換擋塊轉動換擋時,相應規格的濾光片與所述進光孔對應。
本實用新型還提供一種晶粒點測機,所述晶粒點測機包括上述的積分球組件。
從以上技術方案可以看出,本實用新型實施例具有以下優點:通過容納結構及換擋塊,換擋塊上設置有兩個以上的槽,不同槽內裝有不同規格的濾光片,當換擋塊轉動換擋時,相應規格的濾光片與進光孔對應,從而可提高晶粒點測機的通用性及檢測結果的準確性。
附圖說明
為了更清楚地說明本實用新型實施例技術方案,下面將對實施例和現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其它的附圖。
圖1是本實用新型實施例提供的積分球組件的結構示意圖。
具體實施方式
本實用新型實施例提供一種積分球組件,用于提高晶粒點測機的通用性及檢測結果的準確性。本實用新型實施例還提供相應的晶粒點測機。
為了使本技術領域的人員更好地理解本實用新型方案,下面將結合本實用新型實施例中的附圖,對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分的實施例,而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例,本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都應當屬于本實用新型保護的范圍。
本實用新型的說明書和權利要求書及上述附圖中的術語“第一”、“第二”、“第三”等是用于區別不同的對象,而不是用于描述特定順序。此外,術語“包括”和“具有”以及它們任何變形,意圖在于覆蓋不排他的包含。例如包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統、產品或設備沒有限定于已列出的步驟或單元,而是可選地還包括沒有列出的步驟或單元,或可選地還包括對于這些過程、方法、產品或設備固有的其它步驟或單元。
下面通過具體實施例,分別進行詳細的說明。
實施例一、
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