[實用新型]基于Chroma3360P的指紋芯片測試系統

有效

• 申請號: 201721682663.1
• 申請日: 2017-12-06
• 公開（公告）號: CN207586370U
• 公開（公告）日: 2018-07-06
• 發明（設計）人: 廖鈺
• 申請（專利權）人: 安徽華宇創芯科技有限公司深圳分公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 重慶百潤洪知識產權代理有限公司 50219
• 代理人: 高姜

本實用新型公開了基于Chroma3360P的指紋芯片測試系統，包括測試裝置，所述測試裝置的頂部設置有顯示電腦，所述測試裝置的內部設置有測試箱，所述測試箱的外側設置有透明罩，所述測試裝置的底部設置有測試裝置底箱，所述測試裝置底箱的底部設置有防滑支柱，所述防滑支柱的內側設置有萬向輪，所述測試裝置的表面設置有啟動開關，所述啟動開關的頂部設置有連接按鈕，所述防護圍罩的內部設置有指示燈，從而使每個芯片的各項參數正常并且每項參數的一致性調整到最優，同時顯示電腦可以通過彈簧栓牢牢固定在測試裝置頂部的凹槽中，機械夾內部的防滑橡膠層可以在防止芯片滑落的同時起到保護芯片的作用。

技術領域

本實用新型屬于指紋芯片測試系統技術領域，具體涉及基于Chroma3360P的指紋芯片測試系統。

背景技術

指紋芯片測試系統主要是為指紋芯片提供測試服務，測試機和測試電路通過DUT連接到待測芯片,可實現對多顆芯片的測試，在測試機連接機械手后,可對指紋芯片進行自動化量產測試,并將測試機測試電性參數后的測試結果保存下來，同時將芯片中的不良品篩選出來，在機械手這端把不良品記錄下，并在MAP圖上進行顯示。Chroma3360P測試系統能夠提供高精度電壓，電流，并提供測量功能，也能提供高頻率的數字信號激勵。

現有的指紋芯片測試裝置無法使每個芯片的各項參數正常并且每項參數的一致性調整到最優，顯示電腦放置在測試裝置的頂部，固定不牢固，很可能滑落損壞，同時指示燈由于由連接桿固定，受到碰撞很可能折斷或者滑落損壞，機械夾內部由于是金屬構造，可能在夾取芯片時造成芯片的破損，同時也無防滑措施固定芯片，芯片可能會從機械夾的內部滑落的問題，為此我們提出基于Chroma3360P的指紋芯片測試系統。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供基于Chroma3360P的指紋芯片測試系統，以解決上述背景技術中提出的現有的指紋芯片測試裝置無法使每個芯片的各項參數正常并且每項參數的一致性調整到最優，顯示電腦放置在測試裝置的頂部，固定不牢固，很可能滑落損壞，同時指示燈由于由連接桿固定，受到碰撞很可能折斷或者滑落損壞，機械夾內部由于是金屬構造，可能在夾取芯片時造成芯片的破損，同時也無防滑措施固定芯片，芯片可能會從機械夾的內部滑落的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：基于Chroma3360P的指紋芯片測試系統，包括測試裝置，所述測試裝置的頂部設置有顯示電腦，所述測試裝置的內部設置有測試箱，所述測試箱的外側設置有透明罩，所述測試裝置的底部設置有測試裝置底箱，所述測試裝置底箱的底部設置有防滑支柱，所述防滑支柱的內側設置有萬向輪，所述測試裝置的表面設置有啟動開關，所述啟動開關的頂部設置有連接按鈕，所述顯示電腦的一側設置有防護圍罩，所述防護圍罩的內部設置有指示燈，所述測試箱的內部設置有良品放置板，所述良品放置板的一側設置有不良品放置板，所述不良品放置板的一側設置有機械手，所述機械手的一端設置有機械夾，所述機械手的一側設置有測試DUT，所述測試DUT的一側設置有測試機，所述測試裝置的上表面設置有電腦放置槽，所述電腦放置槽的外側設置有彈簧栓，所述機械夾的外側設置有防滑橡膠層。

優選的，所述機械夾與防滑橡膠層通過嵌合的方式固定連接。

優選的，所述顯示電腦與測試裝置通過電腦放置槽與彈簧栓卡合固定連接。

優選的，所述測試裝置與防護圍罩通過焊塑的方式固定連接。

優選的，所述防護圍罩為一種圓形圍面結構。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：模擬芯片的實際工作環境,對芯片的直流參數和交流參數進行測試,從而使每個芯片的各項參數正常并且每項參數的一致性調整到最優，同時顯示電腦可以通過彈簧栓牢牢固定在測試裝置頂部的凹槽中，避免了電腦的滑落，而指示燈的外側有圍面保護，防止連接桿折斷或者滑落，機械夾內部的防滑橡膠層可以在防止芯片滑落的同時起到保護芯片的作用。

附圖說明