[實用新型]中央處理器測試機

有效

• 申請號: 201721678889.4
• 申請日: 2017-12-06
• 公開（公告）號: CN207601201U
• 公開（公告）日: 2018-07-10
• 發明（設計）人: 梁紅斌;鄭榮;席洪旺
• 申請（專利權）人: 英特爾產品（成都）有限公司;英特爾公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京永新同創知識產權代理有限公司 11376
• 代理人: 楊勝軍

本實用新型提供一種中央處理器測試機，至少包括用于對中央處理器進行測試的測試部位、用于抓取并且轉運中央處理器的操作部位、主機系統、和不間斷電源，至少所述主機系統和所述不間斷電源被封裝在殼體中，在所述殼體上設置有可打開的門，其特征在于，所述主機系統和所述不間斷電源并排地設置在所述殼體中，所述不間斷電源位于所述主機系統與所述門之間，所述門上設置有多個通風孔。根據本實用新型可以顯著提高中央處理器測試機的測試效率，并且明顯減少中央處理器測試機的運行維護成本。

技術領域

本實用新型涉及對中央處理器(CPU)的測試，尤其涉及一種中央處理器測試機。

背景技術

在中央處理器制造過程中，需要在中央處理器測試機上對每個單獨的中央處理器進行測試。中央處理器測試機通常包括用于對中央處理器進行測試的測試部位、用于抓取并且轉運中央處理器的操作部位、主機系統、不間斷電源、電路板、以及傳導氣體的導管，這些組件中的至少一部分被封裝在殼體中，殼體上設置有可打開的門。通過打開門，操作人員可以接近位于殼體內部的組件，以進行維護和更換。在中央處理器測試機運行期間，這些組件尤其是主機系統和不間斷電源會產生大量的熱量，但是由于殼體處于密閉狀態且內部自由空間非常狹窄，殼體內部氣流不流暢，導致殼體內部總是處于90至100℃高溫。不間斷電源設計的正常工作溫度通常是25±3℃，高溫會使得不間斷電源很快就沒有電了，不能起任何作用。主機系統在這種高溫下也頻繁出現死機現象，電路板上的電容和二極管等元器件在這種高溫下也頻繁出現故障。這都將導致中央處理器測試機需要停機維修。因而，現有的中央處理器測試機需要頻繁停機維護、更換各種組件或元器件，這不僅顯著降低了中央處理器測試機的測試效率，而且顯著增大了中央處理器測試機的運行維護成本。

因此，需要對現有技術的中央處理器測試機進行改進。

實用新型內容

本實用新型的目的就是要提出一種改進的中央處理器測試機，這種中央處理器測試機通過降低殼體密閉空間內的溫度，能夠避免頻繁停機維護、更換各種組件或元器件，從而顯著提高中央處理器測試機的測試效率，并且明顯減少中央處理器測試機的運行維護成本。

根據本實用新型，提供一種中央處理器測試機，至少包括用于對中央處理器進行測試的測試部位、用于抓取并且轉運中央處理器的操作部位、主機系統、和不間斷電源，至少所述主機系統和所述不間斷電源被封裝在殼體中，在所述殼體上設置有可打開的門，其特征在于，所述主機系統和所述不間斷電源并排地設置在所述殼體中，所述不間斷電源位于所述主機系統與所述門之間，所述門上設置有多個通風孔。

優選地，在所述門的后側表面上設置有過濾膜。

優選地，在所述門與所述不間斷電源之間的空間中設置有至少一個風扇。

優選地，所述風扇是扁平形風扇。

優選地，所述風扇被固定在支撐板上，所述支撐板上安裝所述風扇的位置處形成有透氣部。

優選地，所述透氣部是由多個螺旋扇形孔形成的圓形部。

優選地，所述支撐板被安裝在所述殼體的框架上。

優選地，在所述支撐板的透氣部上設置另外一層過濾膜。

根據本實用新型，通過將所述不間斷電源設置成靠近所述門、并且在所述門上設置有多個通風孔，殼體外側的冷空氣可以通過通風孔進入殼體中，以降低殼體內部環境的溫度，避免中央處理器測試機頻繁停機維護、更換各種組件或元器件，從而顯著提高中央處理器測試機的測試效率，并且明顯減少中央處理器測試機的運行維護成本。

附圖說明

圖1是根據本實用新型的中央處理器測試機的簡化示意圖；

圖2是圖1中被簡化顯示的中央處理器測試機的主視圖；