[實用新型]一種激光粒度儀

有效

• 申請號: 201721655959.4
• 申請日: 2017-12-01
• 公開（公告）號: CN207488128U
• 公開（公告）日: 2018-06-12
• 發明（設計）人: 趙渭敏
• 申請（專利權）人: 寧波金輪磁材技術有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種激光粒度儀，解決了在加樣過程中，樣品沿著加樣漏斗向下加入攪拌池的過程中部分會附著在加樣漏斗的底部，而附著在漏斗底部的余樣難以清除會對下一次的測樣造成影響的問題，其技術方案要點是一種激光粒度儀，包括具有攪拌池的儀器本體、設置在儀器本體上與攪拌池連通的加樣漏斗，所述加樣漏斗具有供樣品投入的進樣口，所述儀器本體設置有清樣桿，所述清樣桿包括從進樣口伸出的手握桿以及鉸接在手握桿上的刮板，所述刮板與手握桿之間設置有迫使刮板向手握桿一側發生彎折的扭簧，達到了能夠將附著在加樣裝置底部的殘留樣品清除，避免對下一次樣品的測量造成影響。

技術領域

本實用新型涉及激光儀器，特別涉及一種激光粒度儀。

背景技術

激光粒度測量法是基于激光整體光散射原理來測量顆粒尺寸的一種通用的粒徑測量方法，理論上可以測量任何一種原料在另一相中的粒徑結構。只要各相的折光指數不同，介質對于激光波長是透明的，就可使用激光散射測量。

如授權公告號為CN206192827U的中國實用新型提出了一種激光粒度儀，包括將待測樣品投入攪拌池的加樣裝置、設置在攪拌池下方用于分散樣品的攪拌池內的樣品的分散池、接收分散池內分散后樣品的樣品池以及用于測試樣品池內樣品粒度的激光測試單元。

該激光粒度儀能夠對樣品粒度進行測量，但是由于在加樣過程中，樣品沿著加樣漏斗向下加入攪拌池的過程中部分會附著在加樣漏斗的底部，而附著在漏斗底部的余樣難以清除會對下一次的測樣造成影響。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種激光粒度儀，能夠將附著在加樣裝置底部的殘留樣品清除，避免對下一次樣品的測量造成影響。

本實用新型的上述技術目的是通過以下技術方案得以實現的：

一種激光粒度儀，包括具有攪拌池的儀器本體、設置在儀器本體上與攪拌池連通的加樣漏斗，所述加樣漏斗具有供樣品投入的進樣口，所述儀器本體設置有清樣桿，所述清樣桿包括從進樣口伸出的手握桿以及鉸接在手握桿上的刮板，所述刮板與手握桿之間設置有迫使刮板向手握桿一側發生彎折的扭簧。

通過采用上述技術方案，樣品從進樣口中進入攪拌池內，當樣品粒度測量結束后，將清樣桿拉直并伸入進樣口后，刮板在扭簧的作用下發生向手握桿一側發生彎折，被加樣漏斗抵住之后停止彎折，隨后旋轉手握桿帶動刮板沿著加樣漏斗下端面進行周向的旋轉，擦去附著在加樣漏斗下端面上的殘留樣品，避免殘留的樣品對下一次的測量造成影響。

作為優選，所述刮板向手握桿方向彎折的端面上設置有除塵布。

通過采用上述技術方案，通過除塵布的設計，刮板彎折時除塵布與加樣漏斗下端面抵接，能夠增大將殘留樣品擦除的效果。

作為優選，所述手握桿外部滑移連接有迫使刮板和手握桿保持同軸線的拉直套。

通過采用上述技術方案，通過拉直套的設計，滑移拉直套使拉直套套設在手握桿和刮板的鉸接處，可以避免扭簧帶動刮板發生彎折，不需要一直用手阻止刮板的彎折，待清樣桿伸入進樣口后再向手握桿一側滑動拉直套，刮板在扭簧的作用下發生彎折，能夠操作更加簡單省力。

作為優選，所述拉直套上設置有方向與手握桿軸線方向一致的摩擦紋路。

通過采用上述技術方案，摩擦紋路能夠增大人手與拉直套之間的摩擦，能夠更加方便的帶動拉直套在手握桿上的滑移。

作為優選，所述手握桿上設置有避免拉直套脫出手握桿的環形擋板。

通過采用上述技術方案，通過環形擋板的設計，能夠避免在滑移拉直套的過程中將拉直套誤滑出手握桿。

作為優選，所述加樣漏斗朝向攪拌池的端部為圓弧過渡。

通過采用上述技術方案，通過將加樣漏斗的端部設置為圓弧過渡，刮塵板在擦拭完畢后能夠更加順暢地從進樣口中取出。