[實用新型]一種基于可控硅的閉環(huán)檢測電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721640445.1 | 申請日： | 2017-11-30 |
| 公開（公告）號： | CN207675841U | 公開（公告）日： | 2018-07-31 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 楊志聰;伍曉鋒 | 申請（專利權(quán)）人： | 中山市康必威自動化機械有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 廣東中億律師事務(wù)所 44277 | 代理人： | 杜海江 |
| 地址： | 528400 廣東省中山市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 閉環(huán)檢測電路 可控硅 過零點檢測電路 輸出端連接 閉環(huán)檢測 負載電路 監(jiān)測電路 驅(qū)動電路 主控電路 主控芯片 兩相步進電機 本實用新型 信號采集器 應(yīng)用范圍廣 振蕩器線圈 電路結(jié)構(gòu) 發(fā)送檢測 負載電機 降低生產(chǎn) 零點信號 內(nèi)部電路 比較器 故障率 輸入端 導通 電路 采集 發(fā)送 監(jiān)測 | ||
本實用新型公開了一種基于可控硅的閉環(huán)檢測電路，包括主控電路，主控電路的輸入端分別連接有監(jiān)測電路和過零點檢測電路，輸出端連接有驅(qū)動電路，驅(qū)動電路的輸出端連接有負載電路，過零點檢測電路采集零點信號并發(fā)送至主控芯片，為可控硅Q15的導通提供標準，降低內(nèi)部電路的故障率，監(jiān)測電路監(jiān)測負載電路中的負載電機，若負載在線，則發(fā)送檢測信號至主控芯片，實現(xiàn)閉環(huán)檢測；閉環(huán)檢測電路可對兩相步進電機、振蕩器線圈等負載進行閉環(huán)檢測，應(yīng)用范圍廣，另外，該電路無需設(shè)計比較器和信號采集器，具有同樣可靠性的同時合理地縮小電路結(jié)構(gòu)的大小，降低生產(chǎn)的成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種檢測電路，特別是一種基于可控硅的閉環(huán)檢測電路。
背景技術(shù)
隨著社會的發(fā)展，人們對設(shè)備的性能要求越來越高，然而市面上許多的設(shè)備如組合秤，其內(nèi)部電路的振動器驅(qū)動是采用開環(huán)控制方式，并不具備閉環(huán)檢測和實時監(jiān)控功能，不可對內(nèi)部電路進行實時監(jiān)控，當振動器線圈出現(xiàn)斷路、接觸不良或者過載燒壞等現(xiàn)象，不能給出反饋信息，讓組合秤得到及時維修，很容易影響組合秤運轉(zhuǎn)的性能,導致稱重包裝產(chǎn)生精度差，甚至會縮短組合秤的使用壽命，另一方面，若設(shè)備發(fā)生故障，則需要進行全面的檢測和診斷，尋找故障的原因，極大地增加維修的時間和難度，同時，要求檢修人員具備足夠的經(jīng)驗和技能水平。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實用新型提供一種電路結(jié)構(gòu)簡單、具有實時監(jiān)測功能的基于可控硅的閉環(huán)檢測電路。
本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：
一種基于可控硅的閉環(huán)檢測電路，包括主控電路，所述主控電路的輸入端分別連接有監(jiān)測電路和過零點檢測電路，輸出端連接有驅(qū)動電路，所述驅(qū)動電路的輸出端連接有負載電路，所述主控電路采用的主控芯片型號為MB9AF111K，所述監(jiān)測電路包括光耦合器U2、二極管D17、電阻R72和電阻R73；所述光耦合器U2的1端口連接所述二極管D17的負極，所述二極管D17的正極通過所述電阻R73 接220V電壓；所述光耦合器U2的3端口分兩路，一路通過所述電阻R72接5V電壓，另一路接所述主控芯片的42端口；所述光耦合器U2的4端口接地。
所述驅(qū)動電路包括輸出光耦U1、反相觸發(fā)器A1、反相觸發(fā)器A2、可控硅Q15、電阻R42、電阻R43和電阻R45；所述輸出光耦U1的1 端口通過所述電阻R45接5V電壓；所述輸出光耦U1的2端口依次通過所述反相觸發(fā)器A1和反相觸發(fā)器A2接所述主控芯片的44端口；所述輸出光耦U1的3端口懸空；所述輸出光耦U1的4端口通過所述電阻R43接220V電壓；所述輸出光耦U1的5端口分兩路，一路接所述可控硅的G引腳，另一路通過所述電阻R42接所述可控硅Q15的 T1引腳。
所述負載電路包括負載電機B1、電容C20和電阻R41，所述電容 C20的一端通過所述電阻R41接所述可控硅的T2引腳，另一端分三路，第一路通過所述負載電機接220電壓，第二路接所述光耦合器 U2的2端口，第三路接所述可控硅Q15與所述電阻R42間的節(jié)點。
所述過零點檢測電路包括光耦合器U3、反相觸發(fā)器A3、連接器 CON4、二極管D14、電容C36、電阻R44和電阻R46；所述光耦合器 U3的1端口接所述二極管D14的負極；所述電阻R44一端接所述二極管D14的正極，另一端分三路，一路接所述可控硅Q15引腳T2與所述電阻R41間的節(jié)點，第二路接入220V電壓，第三路接所述連接器CON4的3引腳；所述光耦合器U3的2端口分兩路，一路接220V 電壓，另一路接所述連接器CON4的2引腳；所述光耦合器U3的3端口分兩路，一路通過所述反相觸發(fā)器A3接所述主控芯片的43端口，另一路依次通過所述電阻R46和電容C36接地；所述電阻R46與電容 C36間的節(jié)點接入5V電壓，所述光耦合器U3的4端口接地。
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