[實(shí)用新型]一種高頻垂直探針卡有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721629661.6 | 申請日： | 2017-11-29 |
| 公開（公告）號： | CN207457305U | 公開（公告）日： | 2018-06-05 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 周明 | 申請（專利權(quán)）人： | 強(qiáng)一半導(dǎo)體（蘇州）有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/067 | 分類號： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 無錫市匯誠永信專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 張歡勇 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試載板 芯片封裝基板 測試頭 高頻垂直 加強(qiáng)板 探針卡 匹配 螺栓螺紋連接 本實(shí)用新型 測試回路 測試路徑 測試頻率 高頻測試 連接螺栓 螺紋連接 安裝槽 插接孔 同軸線 去除 探針 焊接 組裝 替代 貫穿 制作 | ||
本實(shí)用新型涉及一種高頻垂直探針卡，包括測試載板，所述測試載板底部焊接有芯片封裝基板，所述芯片封裝基板內(nèi)側(cè)設(shè)有與加強(qiáng)板相匹配的安裝槽，所述加強(qiáng)板通過螺栓螺紋連接所述測試載板底部，所述芯片封裝基板底部設(shè)有測試頭，所述測試頭通過連接螺栓貫穿所述芯片封裝基板螺紋連接測試載板，所述測試頭底部設(shè)有與探針相匹配的插接孔，在設(shè)計(jì)解決方案中把PCB基板的要求和功能全部通過PCB設(shè)計(jì)方案直接在測試載板上實(shí)現(xiàn)，在整個測試回路中由原來的測試載板、PCB基板、芯片封裝基板，測試頭變?yōu)闇y試載板、芯片封裝基板，測試頭，減少了的測試路徑，組裝也更簡單，去除同軸線替代方案，在高頻測試時更好提高測試頻率，結(jié)構(gòu)簡單，制作成本低，使用方便。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種高頻垂直探針卡，屬于電子設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的垂直探針卡、包括PCB基板、芯片封裝基板，測試頭。測試過程中通過PCB基板與測試載板連接最終與測試機(jī)臺連接，另一端測試頭與測試晶圓連接，從而形成測試回路，正常測試最大測試頻率不超過200M,當(dāng)芯片測試頻率要求大于200M時大都采用同軸線替代方案來解決，現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)/不足：現(xiàn)有的垂直探針卡在測試高頻時采用同軸線替代方案，由于增加了同軸線，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，組裝和焊接困難，制作周期長，制作成本高，現(xiàn)有的垂直探針卡存在的技術(shù)問題有兩點(diǎn)，①測試頻率低②結(jié)構(gòu)復(fù)雜，制作和使用注意事項(xiàng)多，為此，我們提供了一種高頻垂直探針卡。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題克服現(xiàn)有的缺陷，提供一種高頻垂直探針卡，在設(shè)計(jì)解決方案中把PCB基板的要求和功能全部通過PCB設(shè)計(jì)方案直接在測試載板上實(shí)現(xiàn)，在整個測試回路中由原來的測試載板、PCB基板、芯片封裝基板，測試頭變?yōu)闇y試載板、芯片封裝基板，測試頭，減少了的測試路徑，組裝也更簡單，去除同軸線替代方案，在高頻測試時可以更好提高測試頻率，結(jié)構(gòu)簡單，制作成本低，使用方便，可以有效解決背景技術(shù)中的問題。
為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了如下的技術(shù)方案：
一種高頻垂直探針卡，包括測試載板，所述測試載板底部焊接有芯片封裝基板，所述芯片封裝基板內(nèi)側(cè)設(shè)有與加強(qiáng)板相匹配的安裝槽，所述加強(qiáng)板通過螺栓螺紋連接所述測試載板底部，所述芯片封裝基板底部設(shè)有測試頭，所述測試頭通過連接螺栓貫穿所述芯片封裝基板螺紋連接測試載板，所述測試頭底部設(shè)有與探針相匹配的插接孔。
進(jìn)一步而言，所述芯片封裝基板上設(shè)有與連接螺栓相匹配的通孔。
進(jìn)一步而言，所述芯片封裝基板設(shè)于所述測試載板底部中心位置。
進(jìn)一步而言，所述安裝槽設(shè)于所述芯片封裝基板中心位置。
進(jìn)一步而言，所述測試載板上設(shè)有與螺栓相匹配的螺紋孔。
進(jìn)一步而言，所述測試載板上設(shè)有與測試機(jī)臺連接的連接孔。
本實(shí)用新型有益效果：本實(shí)用新型在設(shè)計(jì)解決方案中把PCB基板的要求和功能全部通過PCB設(shè)計(jì)方案直接在測試載板上實(shí)現(xiàn)，在整個測試回路中由原來的測試載板、PCB基板、芯片封裝基板，測試頭變?yōu)闇y試載板、芯片封裝基板，測試頭，減少了的測試路徑，組裝也更簡單，去除同軸線替代方案，在高頻測試時可以更好提高測試頻率，結(jié)構(gòu)簡單，制作成本低，使用方便。
附圖說明
附圖用來提供對本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本實(shí)用新型的實(shí)施例一起用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對本實(shí)用新型的限制。
圖1是本實(shí)用新型一種高頻垂直探針卡結(jié)構(gòu)圖。
圖2是本實(shí)用新型一種高頻垂直探針卡剖視圖。
圖中標(biāo)號：1、測試載板；2、芯片封裝基板；3、加強(qiáng)板；4、測試頭；5、探針。
具體實(shí)施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于強(qiáng)一半導(dǎo)體（蘇州）有限公司，未經(jīng)強(qiáng)一半導(dǎo)體（蘇州）有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
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G01R 測量電變量；測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn)；這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備，例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合，例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
