[實用新型]多路晶體管陣列測試輔助裝置

有效

• 申請號: 201721629196.6
• 申請日: 2017-11-29
• 公開（公告）號: CN207571257U
• 公開（公告）日: 2018-07-03
• 發明（設計）人: 何丹;盧歡;陳錦勇;張建宏;熊文力;楊藝;方玲
• 申請（專利權）人: 湖北航天技術研究院計量測試技術研究所
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 徐祥生

本實用新型涉及多路晶體管陣列測試輔助裝置，包括母板和子板，其特征是還包括轉換器，轉換器包括夾具、面包板和印制板，夾具上有第一插針，面包板上有第一、二通孔和第二插針，印制板上有第三、四通孔和第三插針，面包板通過第一通孔與第一插針的配合和第二插針與第三通孔的配合分別同夾具和印制板連接，子板上有第二插座、第四插針、第五、六通孔，第五、六通孔均分為多組，相應的第五通孔和第六通孔之間通過飛線連接，母板上有第一插座、輸入端和引出端，子板通過第二插座與第三插針的配合和第四插針與第一插座的配合分別同印制板和母板連接。本實用新型結構簡單、使用方便、既能保證測試精度又能提高工效和降低成本并且不損傷被測對象。

技術領域

本實用新型涉及晶體管陣列測試，具體而言是多路晶體管陣列測試輔助裝置。

背景技術

隨著現代電子元器件生產工藝水平的提高和型號產品小型化、低成本的需要，晶體管陣列被設計生產并廣泛應用于信號控制線路中。晶體管陣列一般是將同極性(同為NPN或同為PNP)或不同極性(分別為NPN或者PNP)的2個或2個以上的多個三極管封裝在雙列直插的一個管殼內，從而實現多路信號傳輸，達到縮小體積和降低成本的目的。晶體管陣列在投入使用前，為了判斷其可靠性，必須進行參數檢測。但測試起來比單個晶體管困難得多，特別是不同極性的晶體管陣列實現篩選難度更大。目前，對于不能實現多路自動測試的類型晶體管進行程序開發驗證時，一般可采用測試夾子進行單個器件的測試，其弊端如下：一是測試夾子為了保證接觸良好通常嚙合力較大，而晶體管陣列的引腳又比較脆弱，操作時容易夾傷器件的引腳；二是夾子接觸面較小，對大電流的器件影響測試精度；三是多路晶體管陣列采用這種方法單個進行測試時，因為引腳很多、分辨復雜，存在極性測錯的隱患；四是無法同時實現陣列間參數比對，需要另行手工計算，同時會受環境溫度影響而產生偏差；五是每個單管分別測試，耗費大量人工成本，工作效率低下；六是晶體管陣列種類繁多，如果定制專門的測試夾具，不僅價格昂貴，而且周期很長。因此，設計出結構簡單、使用方便、既能保證測試精度又能提高工效和降低成本并且不損傷被測對象的多路晶體管陣列測試輔助裝置十分必要。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種結構簡單、使用方便、既能保證測試精度又能提高工效和降低成本并且不損傷被測對象的多路晶體管陣列測試輔助裝置。

為實現上述目的，本實用新型采用如下技術方案：多路晶體管陣列測試輔助裝置，包括母板和子板，其特征是還包括轉換器，轉換器包括夾具、面包板和印制板，夾具的上部設置有待測器件倉和倉蓋，夾具的底部設置有第一插針，面包板上開設有第一通孔和第二通孔，第一通孔和第二通孔均帶有焊盤，第二通孔上焊接有第二插針，第一通孔和第二通孔一一對應并且通過導線連接，印制板上開設有第三通孔和第四通孔，第三通孔和第四通孔均帶有焊盤，第四通孔上焊接有第三插針，第三通孔和第四通孔一一對應并且通過印刷線路連接，面包板通過第一通孔與第一插針的配合同夾具連接，面包板通過第二插針與第三通孔的配合同印制板連接，子板上設置有與第三插針配合的第二插座、第四插針、第五通孔和第六通孔，第五通孔和第六通孔均帶有焊盤，第五通孔與插座的引腳一一對應并且通過印刷線路連接，第六通孔與第四插針一一對應并且通過印刷線路連接，第五通孔和第六通孔均按待測多路晶體管陣列分為多組，每組對應一個晶體管，相應的第五通孔和第六通孔之間通過飛線連接，母板上設置有與第四插針配合的第一插座、與測試系統輸出端配合的輸入端和引出端，第一插座通過印刷線路分別與輸入端和引出端連接，子板通過第二插座與第三插針的配合同印制板連接，子板通過第四插針與第一插座的配合同母板連接。

進一步地，所述相應第五通孔和第六通孔之間的飛線上套接有磁環。

進一步地，所述第二插座為雙排8芯插座，所述第四插針為雙排16芯插針，所述輸入端為25芯插座。