[實(shí)用新型]基于小型離散產(chǎn)品的測(cè)試夾具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721626508.8
• 申請(qǐng)日: 2017-11-29
• 公開（公告）號(hào): CN207457295U
• 公開（公告）日: 2018-06-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫曉明;杜嶠
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 河北中瓷電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04
• 代理公司: 石家莊國(guó)為知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120
• 代理人: 王麗巧

本實(shí)用新型提供了一種基于小型離散產(chǎn)品的測(cè)試夾具，包括基板和若干套定位組件，定位組件包括滑塊、限位塊和定位塊，滑塊能夠在基板上滑動(dòng)，限位塊和定位塊固定在滑塊一側(cè)的基板上，待測(cè)試產(chǎn)品能夠放在限位塊、定位塊與滑塊圍成的測(cè)試工位內(nèi)；滑塊一側(cè)間隔設(shè)置若干個(gè)彈簧頂針，定位塊對(duì)應(yīng)滑塊上彈簧頂針設(shè)在滑塊一側(cè)，限位塊設(shè)在定位塊相鄰側(cè)、且其端部的彈簧頂針垂直于滑塊上的彈簧頂針，利用限位塊和滑塊上的彈簧頂針對(duì)待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行限位；測(cè)試工位與待測(cè)試產(chǎn)品外形相匹配、且中部設(shè)有鏤空部，方便實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的雙面測(cè)試。本實(shí)用新型通過滑塊、定位塊和限位塊將待測(cè)試產(chǎn)品限位在測(cè)試工位，利用限位塊和滑塊上的彈簧頂針對(duì)待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行固定。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于電性能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，是涉及一種基于小型離散產(chǎn)品的測(cè)試夾具。

背景技術(shù)

隨著現(xiàn)代科技工藝向高精度、微尺寸、精確化方向的不斷發(fā)展，電子模塊的集成度越來越高，電性能測(cè)試愈加精密、復(fù)雜。在電子行業(yè)，尤其是電子封裝外殼行業(yè)，逐步減小的體積和更加密集的線路，增加了人工檢測(cè)的難度。但是由于電性能是后道工藝中產(chǎn)品性能的保證，極小比例的失效也將會(huì)產(chǎn)生巨大的損失，所以批量測(cè)試電性能以保證產(chǎn)品符合要求，是必不可少的一道工序。在這種情況下，機(jī)械化、自動(dòng)化代替人工測(cè)試的要求越來越急迫。

現(xiàn)階段有能力解決封裝外殼電性能批量測(cè)試的設(shè)備為飛針測(cè)試設(shè)備，該設(shè)備現(xiàn)階段主要針對(duì)元件布置高密度、層數(shù)多、布線密度大、測(cè)點(diǎn)距離小的單一PCB板(印刷電路板)進(jìn)行測(cè)試的一種儀器，而在小型離散產(chǎn)品測(cè)試中，由于能力和夾具限制，還不能實(shí)現(xiàn)。測(cè)試時(shí)固定產(chǎn)品的工裝夾具已經(jīng)成為限制精密小型復(fù)雜結(jié)構(gòu)產(chǎn)品尤其是需要雙面測(cè)試的小型離散產(chǎn)品的瓶頸。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的在于提供一種基于小型離散產(chǎn)品的測(cè)試夾具，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的因缺少精密小型復(fù)雜結(jié)構(gòu)產(chǎn)品尤其是需要雙面測(cè)試的小型離散產(chǎn)品的專用夾具而不能實(shí)現(xiàn)批量測(cè)試的技術(shù)問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是：提供一種基于小型離散產(chǎn)品的測(cè)試夾具，包括基板和若干套定位組件，所述定位組件包括滑塊、限位塊和定位塊，所述滑塊、限位塊和定位塊均設(shè)置在基板同側(cè)，所述滑塊能夠在基板上滑動(dòng)，所述限位塊和定位塊一一對(duì)應(yīng)固定在滑塊一側(cè)的基板上，待測(cè)試產(chǎn)品能夠放置在限位塊、定位塊與滑塊圍成的測(cè)試工位內(nèi)；所述滑塊一側(cè)間隔設(shè)置若干個(gè)彈簧頂針，所述定位塊對(duì)應(yīng)滑塊上彈簧頂針設(shè)置在滑塊一側(cè)，所述限位塊設(shè)置在定位塊相鄰側(cè)、且限位塊端部的彈簧頂針垂直于滑塊上的彈簧頂針，利用限位塊和滑塊上的彈簧頂針對(duì)待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行限位；所述測(cè)試工位與待測(cè)試產(chǎn)品外形相匹配、且中部設(shè)有用于測(cè)試的鏤空部。

進(jìn)一步地，所述基板設(shè)置在底板上，所述底板為磁性材料，所述基板上設(shè)有若干個(gè)與滑塊相匹配的鏤空區(qū)，所述滑塊下端通過磁鐵與底板相吸；所述鏤空區(qū)的寬度大于滑塊寬度，使滑塊在相對(duì)定位塊的運(yùn)動(dòng)方向上有活動(dòng)余量。

進(jìn)一步地，所述定位組件在基板上呈多行多列布局排列，對(duì)應(yīng)每行限位塊和定位塊的基板底部設(shè)有矩形沉槽，所述沉槽對(duì)應(yīng)設(shè)置在每行鏤空區(qū)一側(cè)、且邊緣與鏤空區(qū)相交；所述底板上設(shè)有與沉槽對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)條孔，所述測(cè)試工位設(shè)置在沉槽上方、且測(cè)試工位的鏤空部貫穿基板上沉槽及底板上長(zhǎng)條孔設(shè)置。

進(jìn)一步地，所述滑塊底部設(shè)有凹槽，所述磁鐵安裝在凹槽內(nèi)、且使磁鐵底面與滑塊底面平齊。

進(jìn)一步地，所述限位塊和定位塊與基板一體成型。

進(jìn)一步地，所述基板與底板通過螺栓連接固定。

進(jìn)一步地，所述基板四周設(shè)有凸檐，所述底板尺寸不大于凸檐內(nèi)尺寸。

進(jìn)一步地，所述彈簧頂針端部套裝護(hù)套，所述護(hù)套為絕緣材質(zhì)。

進(jìn)一步地，所述彈簧頂針分別嵌裝在滑塊及限位塊內(nèi)。