[實(shí)用新型]一種X-CT系統(tǒng)用測(cè)量夾具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201721626135.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN207457105U | 公開(公告)日: | 2018-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 荊曉冬;梁法國(guó);鄭世棋;吳愛華;翟玉衛(wèi);王一幫;劉晨;喬玉娥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N23/046 | 分類號(hào): | G01N23/046 |
| 代理公司: | 石家莊國(guó)為知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120 | 代理人: | 張二群 |
| 地址: | 050000 *** | 國(guó)省代碼: | 河北;13 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 透明薄板 樣品臺(tái) 測(cè)量夾具 微小器件 柱體 測(cè)試夾具 旋轉(zhuǎn)軸 本實(shí)用新型 準(zhǔn)確度 待測(cè)器件 定位凹臺(tái) 螺紋連接 掃描轉(zhuǎn)臺(tái) 相對(duì)位移 一體結(jié)構(gòu) 底面 減小 片柱 衰減 載片 粘結(jié) 膠片 粘貼 匹配 平行 測(cè)量 填補(bǔ) | ||
本實(shí)用新型公開了一種X?CT系統(tǒng)用測(cè)量夾具,屬于測(cè)試夾具領(lǐng)域。所述測(cè)量夾具包括:樣品臺(tái),底面設(shè)置與掃描轉(zhuǎn)臺(tái)匹配的定位凹臺(tái);載片柱,下部與所述樣品臺(tái)螺紋連接,且所述載片柱的旋轉(zhuǎn)軸與所述樣品臺(tái)的旋轉(zhuǎn)軸平行,中部為柱體,上部為設(shè)置在所述柱體頂面上、與所述柱體成一體結(jié)構(gòu)的透明薄板;膠片,用于粘結(jié)待測(cè)器件,粘貼在所述透明薄板的表面。上述技術(shù)方案中,透明薄板不會(huì)相對(duì)樣品臺(tái)產(chǎn)生相對(duì)位移,進(jìn)而微小器件也不會(huì)發(fā)生位移,測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠,同時(shí)透明薄板減小了對(duì)X射線的衰減,實(shí)現(xiàn)了用X?CT高準(zhǔn)確度地測(cè)量微小器件的結(jié)構(gòu),填補(bǔ)了微小器件測(cè)試夾具的空白。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于測(cè)試夾具技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種X-CT系統(tǒng)用測(cè)量夾具,用于夾持測(cè)量半導(dǎo)體芯片微米級(jí)結(jié)構(gòu)的三維形貌。
背景技術(shù)
X-CT(X-ray computed tomography,X射線電子計(jì)算機(jī)斷層掃描)技術(shù)是運(yùn)用物理技術(shù),以測(cè)定X射線在物體內(nèi)的衰減系數(shù)為基礎(chǔ),采用數(shù)學(xué)方法,經(jīng)計(jì)算機(jī)處理,求解出衰減系數(shù)值在物體某剖面上的二維分布矩陣,轉(zhuǎn)變?yōu)閳D像上的灰度分布,從而實(shí)現(xiàn)重新建立斷面圖像的成像技術(shù)。
X-CT技術(shù)多應(yīng)用于醫(yī)學(xué)影像之中,通過X-CT建立人體內(nèi)部病變處斷面的圖像,能夠幫助醫(yī)生觀測(cè)患者病情。隨著科技的發(fā)展,X-CT逐漸被更多地應(yīng)用在醫(yī)學(xué)以外的領(lǐng)域,如工業(yè)檢測(cè)、安保檢測(cè)、科研測(cè)量、3D成像等領(lǐng)域。
利用顯微X-CT技術(shù)能夠完成微米量級(jí)物體三維形貌的測(cè)量工作。在測(cè)量過程中,被測(cè)樣品由測(cè)量夾具固定在360°旋轉(zhuǎn)的掃描轉(zhuǎn)臺(tái)上,從各個(gè)角度獲取大量的圖像信息,之后將各個(gè)角度的圖像信息分析整合,最終重建出被測(cè)物體表面或內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維形貌。
現(xiàn)有測(cè)量夾具多用于測(cè)量體積較大的樣品上微米級(jí)結(jié)構(gòu)的三維形貌,不適用于測(cè)量體積很小的半導(dǎo)體芯片等微小器件上的微米級(jí)結(jié)構(gòu)。原因分析如下:現(xiàn)有測(cè)量夾具的結(jié)構(gòu)中包括與所述掃描轉(zhuǎn)臺(tái)定位的樣品臺(tái),在所述樣品臺(tái)上活動(dòng)限位有兩片平行的金屬板,通過調(diào)節(jié)貫穿所述金屬板的定位銷和螺柱來調(diào)節(jié)兩者之間距離,進(jìn)而達(dá)到夾緊并定位被測(cè)物體的效果。
然而,現(xiàn)有夾具兩金屬板之間的最小間距為2.5mm,對(duì)于微小器件而言,如1500μm×1500μm的芯片而言,該間隙太大,采用現(xiàn)有夾具無法可靠固定,尤其當(dāng)掃描微米量級(jí)結(jié)構(gòu)時(shí),需要將近16個(gè)小時(shí),在長(zhǎng)時(shí)間的掃描過程中,若被測(cè)物體在某一時(shí)刻出現(xiàn)偏移晃動(dòng),會(huì)導(dǎo)致最終重構(gòu)出的圖像與實(shí)際不同,可靠性很差,或者定位方式影響圖像采集。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型實(shí)施例的目的在于提供一種X-CT系統(tǒng)用測(cè)量夾具,旨在解決現(xiàn)有測(cè)量夾具不能有效固定微小器件、造成測(cè)量偏差很大的問題。
本實(shí)用新型實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的,一種X-CT系統(tǒng)用測(cè)量夾具,包括:
樣品臺(tái),底面設(shè)置與掃描轉(zhuǎn)臺(tái)匹配的定位凹臺(tái);
載片柱,下部與所述樣品臺(tái)固定連接,且所述載片柱的旋轉(zhuǎn)軸與所述樣品臺(tái)的旋轉(zhuǎn)軸平行,中部為柱體,上部為設(shè)置在所述柱體頂面上、與所述柱體成一體結(jié)構(gòu)的透明薄板;
膠片,用于粘結(jié)待測(cè)器件,設(shè)置在所述透明薄板的表面。
進(jìn)一步地,還包括:透明保護(hù)罩,設(shè)置在所述芯片粘貼板的外周,且下端與所述載片柱的中部過盈配合。
本實(shí)用新型實(shí)施例的有益效果在于:所述樣品臺(tái)與載片柱固定連接,在所述載片柱上設(shè)置一體結(jié)構(gòu)的透明薄板,所述透明薄板用于粘貼待測(cè)的微小器件,實(shí)現(xiàn)微小器件的可靠定位,在掃描旋轉(zhuǎn)過程中,透明薄板不會(huì)相對(duì)樣品臺(tái)產(chǎn)生相對(duì)位移,進(jìn)而微小器件也不會(huì)發(fā)生位移,測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠,同時(shí)透明薄板減小了對(duì)X射線的衰減,實(shí)現(xiàn)了用X-CT高準(zhǔn)確度地測(cè)量微小器件的結(jié)構(gòu),填補(bǔ)了微小器件測(cè)試夾具的空白。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例一提供的測(cè)量夾具的立體結(jié)構(gòu)示意圖;
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