[實用新型]一種紫外LED器件測試裝置

有效

• 申請號: 201721609558.5
• 申請日: 2017-11-27
• 公開（公告）號: CN207571256U
• 公開（公告）日: 2018-07-03
• 發明（設計）人: 夏正浩;張康;羅明浩;王波;陳美琴;閔海;林威
• 申請（專利權）人: 中山市光圣半導體科技有限責任公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/01;G01M11/02
• 代理公司: 中山市科創專利代理有限公司 44211
• 代理人: 胡犇

本實用新型公開一種紫外LED器件測試裝置，包括：用于夾持安裝紫外LED器件(10)的測試臺(1)；能分別與測試臺(1)緊密連接而罩住紫外LED器件(10)的第一熒光罩(2)和第二熒光罩(3)，并且第一熒光罩(2)與第二熒光罩(3)的激發譜和發射譜均不相同；能測出從第一熒光罩(2)和第二熒光罩(3)射出光的光參數的光參數測試儀(4)；與測試臺(1)連接而能測出紫外LED器件(10)的電參數的電參數測試儀(5)。本測試裝置操作方便，在測試過程中不會對人體造成傷害。

【技術領域】

本實用新型涉及一種紫外LED器件測試裝置。

【背景技術】

紫外線是指波長從10nm至400nm的電磁波譜中輻射的總稱，一般不能引起人們的視覺察覺，其可以用來滅菌，但是過多的紫外線照射會對人體造成皮膚癌等巨大傷害。目前紫外光廣泛應用于油墨固化、殺菌消毒、精密光刻、藥物分析、生物醫療等諸多領域，因此減少控制紫外線對人體的傷害極具必要。

隨著半導體技術的進步，發光波長在200nm至400nm的紫外LED 器件具有高效率、長壽命、低成本、波長可控、體積小、無污染、易于二次光學設計等諸多優點，將逐步取代傳統的汞燈、氙燈、金屬鹵化物燈等紫外光源。但由于紫外LED器件基于半導體外延芯片制造工藝生產，其電流電壓、發光波長及發光強度是在一定的區間內分布，因此在實際應用時需要對紫外LED器件進行測試和分選，從而保證同一型號產品的參數一致性。但隨著紫外LED發光波長越來越短、出光功率越來越大，且特別是應用在固化、曝光等領域的紫外光源其單顆器件功率可達10W以上，而紫外LED器件在測試工序中需要模擬產品使用條件，少量的紫外光泄漏即可能對人體產生巨大的傷害。高能量的紫外光泄漏加上長期的紫外光暴露環境將會嚴重威脅生產員工的身體健康。目前的傳統測試方法正是直接點亮紫外LED器件采用光參數測試儀收光、測試，紫外光泄露大，嚴重危害測試人員的身體健康。

因此，本實用新型正是基于以上的不足而產生的。

【實用新型內容】

本實用新型目的是克服了現有技術的不足，提供一種結構簡單，操作方便，在對紫外LED器件測試時能夠防止紫外光泄露的紫外LED 器件測試裝置。

本實用新型是通過以下技術方案實現的：

一種紫外LED器件測試裝置，其特征在于：包括：

用于夾持安裝紫外LED器件10的測試臺1；

能分別與測試臺1緊密連接而罩住紫外LED器件10的第一熒光罩2和第二熒光罩3，并且第一熒光罩2與第二熒光罩3的激發譜和發射譜均不相同；

能測出從第一熒光罩2和第二熒光罩3射出光的光參數的光參數測試儀4；

與測試臺1連接而能測出紫外LED器件10的電參數的電參數測試儀5；

所述的紫外LED器件10包括紫外LED外延片或紫外LED芯片或紫外LED封裝芯片或紫外LED燈，所述的紫外LED器件10的波長為 200nm至400nm，所述的第一熒光罩2和第二熒光罩3的發射主波長范圍分別為400nm至780nm，所述的第一熒光罩2和第二熒光罩3采用的熒光粉包括硅酸鹽、鋁酸鹽、氮化物或氧化物。

如上所述的紫外LED器件測試裝置，其特征在于：所述的測試臺1上設有用于夾持紫外LED器件10并能根據紫外LED器件10的尺寸規格進行更換的夾具6。

如上所述的紫外LED器件測試裝置，其特征在于：所述的光參數測試儀4包括用于收集從第一熒光罩2和第二熒光罩3射出光的光收集裝置41及與光收集裝置41連接的光譜儀42，所述光收集裝置 41包括積分球、光纖或光探測器。

如上所述的紫外LED器件測試裝置，其特征在于：還包括能根據測得的光電參數而將紫外LED器件10進行分類的分選部件7。