[實用新型]一種用于太陽能晶硅電池片EL缺陷測試的裝置有效
| 申請號: | 201721601081.6 | 申請日: | 2017-11-27 |
| 公開(公告)號: | CN207409459U | 公開(公告)日: | 2018-05-25 |
| 發明(設計)人: | 李洪彬;戚運東;馬海慶;孟慶凱 | 申請(專利權)人: | 山東新華聯智能光伏有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 青島致嘉知識產權代理事務所(普通合伙) 37236 | 代理人: | 龐慶芳 |
| 地址: | 252000 山東省聊*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 匯流 導板 正極 上工裝 下工裝 主板 正極導電板 導電板 太陽能晶硅電池片 本實用新型 負極導電板 負極 互相平行 缺陷測試 垂直 單個電池 高額費用 一機多用 正極輸出 上表面 下表面 單片 探針 增效 太陽能 鑲嵌 節能 購買 生產 | ||
本實用新型提出一種用于太陽能晶硅電池片EL缺陷測試的裝置,包括上工裝和下工裝,所述上工裝包括上工裝主板,上工裝主板的下表面設置有正極匯流導板和多個互相平行的正極導電板,正極導電板垂直于正極匯流導板并與正極匯流導板相連接,正極導電板上鑲嵌有多個探針,所述下工裝包括下工裝主板,下工裝主板的上表面設置有“L”形導電板、負極匯流導板和多個互相平行的負極導電板,“L”形導電板為正極輸出導電板,負極導電板垂直于負極匯流導板并與正極匯流導板相連接。本實用新型可直接用在組件EL缺陷檢測設備上對單個電池片進行EL缺陷檢測,為組件生產廠家節省了購買單片太陽能EL缺陷檢測儀的高額費用,實現了一機多用,達到節能增效的目的。
技術領域
本實用新型屬于太陽能檢測設備領域,尤其涉及一種用于太陽能晶硅電池片EL缺陷測試的裝置。
背景技術
太陽能既是一次能源,又是可再生能源。它資源豐富,既可免費使用,又無需運輸,對環境無任何污染。為人類創造了一種新的生活形態,使社會及人類進入一個節約能源減少污染的時代,因此太陽能發電作為一種有效的能源再生方式廣為社會接受。人們現在使用的太陽能發電系統的核心部分是太陽能電池組件,其作用時把太陽能轉換成電能,轉化的電能可以直接并入國家電網使用,也可以在蓄電池中儲存起來。
目前,太陽能電池組件是由太陽能電池片通過串聯焊接在一起的,每個太陽能電池片的質量直接影響整個組件的質量,所以,每次生產前都要對電池片進行EL缺陷檢測和轉化效率檢測。有的組件生產廠家沒有配備專用的電池片EL缺陷檢測儀,而是等到焊接完整個組件后通過對組件的EL缺陷檢測來檢查電池片是否有隱裂、黑斑等缺陷,這就造成了比較大的風險,如果在組件部位發現電池片有缺陷,需要返工修理,不過很遺憾的是,電池片經過了焊接后就報廢了,無法退回采購方從而會浪費人力和財力。為了在一定程度上降低風險,品質部門一般會對來料按照一定比例進行抽檢。但是,組件專用EL缺陷檢測儀不能用于電池片的檢測,要想對單個電池片進行EL缺陷檢測,只能采購專用的電池片EL缺陷檢測儀,而一臺電池片EL缺陷檢測儀的成本為6-10萬元。本專利發明了一種裝置,使用這種裝置可以在組件EL缺陷檢測儀上直接對單個電池片進行EL缺陷檢測,可以達到和太陽能電池片專用EL缺陷檢測儀一樣的效果,對于生產組件的廠家來說,省去了另外購買設備的費用,達到了一機多用、節能增效的目的。
實用新型內容
本實用新型針對上述的太陽能電池片在EL缺陷測試中所存在的技術問題,提出一種設計合理、結構簡單、成本低廉且測試準確的用于太陽能晶硅電池片EL缺陷測試的裝置。
為了達到上述目的,本實用新型采用的技術方案為,本實用新型提供的一種用于太陽能晶硅電池片EL缺陷測試的裝置,包括上工裝和下工裝,所述上工裝包括上工裝主板,所述上工裝主板的下表面設置有1個正極匯流導板和多個互相平行的正極導電板,所述正極導電板垂直于正極匯流導板并與正極匯流導板相連接,所述正極導電板上鑲嵌有多個探針,所述下工裝包括下工裝主板,所述下工裝主板的上表面設置有1個“L”形導電板、1個負極匯流導板和多個互相平行的負極導電板,所述“L”形導電板為正極輸出導電板,所述負極導電板垂直于負極匯流導板的一條邊并與正極匯流導板相連接。
作為優選,所述探針的長度可自行調節至與正極導電板的高度一致。
作為優選,所述上工裝主板上設置有定位孔,所述下工裝主板上設置有與定位孔相配合的定位塊。
作為優選,所述上工裝主板的上方設置有配重塊。
作為優選,所述下工裝主板的下表面設置有多個墊塊。
與現有技術相比,本實用新型的優點和積極效果在于,
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





