[實用新型]一種雙路對稱折反式三維物體形貌檢測裝置

有效

• 申請號: 201721583658.5
• 申請日: 2017-11-23
• 公開（公告）號: CN207487611U
• 公開（公告）日: 2018-06-12
• 發明（設計）人: 馬天翔;石迎;霍一博;邊飛虎;耿榮榮;田勇志
• 申請（專利權）人: 鄭州大學
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 鄭州立格知識產權代理有限公司 41126
• 代理人: 李紅衛

1.一種雙路對稱折反式三維物體形貌檢測裝置，其特征在于：包括光源、準直模塊、處理模塊、第一光路、第二光路和用于采集待測物體圖像數據的工業攝像機；

所述光源發出的光線經準直模塊到達處理模塊；

所述準直模塊包括沿光源光線方向依次設置的第一透鏡、第二透鏡和第一普通光闌；

所述處理模塊包括數字微鏡器件，數字微鏡器件表面設置有微鏡片，微鏡片將處理后的光源光線在兩個對稱方向上形成兩束分別經由第一光路和第二光路的一次反射光線；

所述第一光路包括有依次設置的第一電子開關式光闌、第三透鏡、第一全反射鏡，第一光路上的一次反射光線經過第一電子開關式光闌、第三透鏡到達第一全反射鏡，經由第一全反射鏡形成第一光路上的二次反射光線，所述二次反射光線經過第二普通光闌到達待測物體；所述第二光路與第一光路相同，且相同的器件相對于光源光線所在的直線對稱設置；

所述工業攝像機的鏡頭光心與待測物體中心所在的直線和第一光路、第二光路上兩束二次反射光線的角平分線重合。

2.如權利要求1所述的雙路對稱折反式三維物體形貌檢測裝置，其特征在于：所述光源、準直模塊、處理模塊、第一光路和第二光路包括的所有器件的中心均位于同一平面上。

3.如權利要求2所述的雙路對稱折反式三維物體形貌檢測裝置，其特征在于：所述第一透鏡與第二透鏡的距離為兩者焦距之和。

4.如權利要求3所述的雙路對稱折反式三維物體形貌檢測裝置，其特征在于：所述數字微鏡器件表面與光源光線垂直設置。

5.如權利要求4所述的雙路對稱折反式三維物體形貌檢測裝置，其特征在于：所述光源發出的光線與兩束一次反射光線的角度跟別為+24°、-24°。

6.如權利要求5所述的雙路對稱折反式三維物體形貌檢測裝置，其特征在于：所述第一全反射鏡的中心設置在第三透鏡的焦距處。

7.如權利要求1-6任一項所述的一種雙路對稱折反式三維物體形貌檢測裝置，其特征在于：所述光源為激光源。