[實用新型]一種PLC波分復用技術光學測試系統

有效

• 申請號: 201721577233.3
• 申請日: 2017-11-23
• 公開（公告）號: CN207460182U
• 公開（公告）日: 2018-06-05
• 發明（設計）人: 翟中生;唐旭晨;蔣甜甜
• 申請（專利權）人: 揚州智銳光電科技有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079
• 代理公司: 常州佰業騰飛專利代理事務所(普通合伙) 32231
• 代理人: 劉松

本實用新型公開了一種PLC波分復用技術光學測試系統，屬于光纖技術領域，包括C波段光源模塊、1×N分光器、濾波器控制電路、可調光濾波器模塊、光功率探測器、偏振控制器、耦合器和計算機控制系統，可同時測試需測試的模塊(DTM)多個通道的基礎光學指標；本實用新型的通道數支持1～N(N＞16)，滿足傳統C波段波分系統中器件的測試；本實用新型所有指標可以獨立設置閾值范圍，系統自動完成設計中組件間的切換和測試記錄，且具備自動判斷測試結果的功能；本實用新型的系統具有自身監控和校準功能，能實時監控系統光源和濾波器的波長準確性和功率準確性，保證系統在測試時處于準確和可靠的狀態，確保測試結果的準確性，減少了測試誤差。

技術領域

本實用新型屬于光纖技術領域。

背景技術

隨著目前波分技術的持續升級，光纖網絡中使用的器件種類和功能越來越復雜，各種不同功能的器件和模塊越來越多,諸如可調功率光復用器(VMUX)、光分插復用器(OADM)、衰減器(VOA)光開關(OSW)等光器件，這些器件和模塊的光學指標特性決定了傳輸網絡的質量和穩定性，這些器件目前都主要應用在C波段的通信波長范圍類。

目前，這些傳統C波段的器件和模塊，在生產和測試過程中，所使用的測試設備型號和種類較多，并且這些設備主要由國外廠家生產，價格昂貴，對于傳統C波段的測試需求來說，成本較高，價值利用率太低，從而導致器件廠家生產成本居高不下。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種PLC波分復用技術光學測試系統，解決了同時測試待測試模塊的多個通道的基礎光學指標的技術問題。

為實現上述目的，本實用新型采用以下技術方案：

一種PLC波分復用技術光學測試系統，包括C波段光源模塊、1×N分光器、濾波器控制電路、可調光濾波器模塊、光功率探測器、偏振控制器、耦合器和計算機控制系統，C波段光源模塊的輸出端與可調光濾波器模塊的輸入端連接，可調光濾波器模塊的輸出端與偏振控制器的輸入端連接，偏振控制器的輸出端與耦合器的輸入端連接，耦合器的第一輸出端與1×N分光器的公共端連接、第二輸出端與光功率探測器連接，1×N分光器的輸出端與待測試模塊的輸入端連接，待測試模塊的輸出端與光功率探測器連接；可調光濾波器模塊連接濾波器控制電路，濾波器控制電路、偏振控制器和光功率探測器均與計算機控制系統連接。

所述C波段光源模塊的光源為具有寬波段輸出的寬帶光源；所述C波段光源模塊的型號為ASE-C。

所述可調濾波器為具有調制寬帶光源為任意單波長或窄帶輸出波長的調制光學濾波器件，其型號為OTF-10。

所述光功率探測器包括數個光探測器或者陣列集成式光學探測器。

所述光功率探測器為具有N個通道的陣列探測器，其型號為PD-ARRAY40。

所述耦合器為2X2均分耦合器，其型號為COUPLER2-2。

所述計算機控制系統為電腦或工控機。

本實用新型所述的一種PLC波分復用技術光學測試系統，可同時測試需測試的模塊(DTM)多個通道的基礎光學指標，如插入損耗(IL)和偏振相關損耗(PDL)，回波損耗(RL)，衰減精度，方向性，波長精度，帶寬，增益平坦度，隔離度等光學指標；本實用新型的通道數支持1～N(N＞16)，滿足傳統C波段波分系統中器件的測試；本實用新型所有指標可以獨立設置閾值范圍，系統自動完成設計中組件間的切換和測試記錄，且具備自動判斷測試結果的功能；本實用新型的系統具有自身監控和校準功能，能實時監控系統光源和濾波器的波長準確性和功率準確性，保證系統在測試時處于準確和可靠的狀態，確保測試結果的準確性，減少了測試誤差。

附圖說明

圖1是本實用新型的系統結構圖。

具體實施方式