[實(shí)用新型]一種光學(xué)檢驗(yàn)測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721536069.1
• 申請(qǐng)日: 2017-11-16
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN207351654U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-05-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 曹華;黨軍;王振宇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 重慶醫(yī)科大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): G01M11/00
• 分類(lèi)號(hào): G01M11/00
• 代理公司: 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 31219
• 代理人: 尹麗云

1.一種光學(xué)檢驗(yàn)測(cè)試裝置，其特征在于：包括殼體、光學(xué)檢測(cè)單元、固定單元和用于采集待測(cè)光源的光信號(hào)并進(jìn)行會(huì)聚的光學(xué)會(huì)聚單元，所述光學(xué)會(huì)聚單元設(shè)置于殼體內(nèi)部，所述殼體通過(guò)固定單元與光學(xué)檢測(cè)單元固定連接用于將采集的待測(cè)光源的光信號(hào)會(huì)聚后傳遞至光學(xué)檢測(cè)單元進(jìn)行檢測(cè)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢驗(yàn)測(cè)試裝置，其特征在于：所述光學(xué)會(huì)聚單元包括若干透鏡組。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)檢驗(yàn)測(cè)試裝置，其特征在于：所述透鏡組與光學(xué)檢測(cè)單元的光路處于同一高度，且通過(guò)透鏡組的光信號(hào)會(huì)聚于光學(xué)檢測(cè)單元的焦平面。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)檢驗(yàn)測(cè)試裝置，其特征在于：所述待測(cè)光源為聲致發(fā)光的光信號(hào)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢驗(yàn)測(cè)試裝置，其特征在于：所述光學(xué)檢測(cè)單元包括emCCD相機(jī)或光電倍增管。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢驗(yàn)測(cè)試裝置，其特征在于：還包括處理單元，所述處理單元的輸入端與光學(xué)檢測(cè)單元的信號(hào)輸出端連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光學(xué)檢驗(yàn)測(cè)試裝置，其特征在于：所述處理單元包括處理器和存儲(chǔ)器。