[實用新型]一種可實現同一料帶上多個非接模塊同時測試的裝置

有效

• 申請號: 201721526168.1
• 申請日: 2017-11-15
• 公開（公告）號: CN207689584U
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: 潘曉輝;申曄
• 申請（專利權）人: 上海華虹集成電路有限責任公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型專利公開了一種可實現同一料帶上多個非接模塊同時測試的裝置，該裝置包括：測針、夾手、滑塊、滑塊鎖扣、托料裝置、導軌槽和50歐姆射頻線；其中所述測針用于與非接模塊進行通信。所述夾手用于控制測針與非接模塊pad的接觸緊密程度；所述滑塊和滑塊鎖扣用于對非接模塊料帶進行定位；所述托料裝置和導軌槽用于固定非接模塊料帶；所述50歐姆射頻線用于與讀卡機的連接，進行射頻信號傳輸。本實用新型專利的特點在于能夠對一個料帶上9個以內的(含9個)非接模塊進行同時測試，且相互之間測試結果不受干擾，極大的提高了料帶上非接觸模塊的測試效率。

技術領域

本實用新型用于非接模塊的測試領域，解決了料帶上非接模塊測試效率低下，相互信號有干擾的問題。

背景技術

現階段非接模塊測試狀態是，同一料帶上一次只能測試一顆模塊，效率非常低，或者需要將模塊從料帶中剪下實現多個模塊同時測試但是存在信號相互干擾。為了解決上述問題，本實用新型提供了一種測試裝置，可以實現同一料帶上多個非接模塊同時測試，并且各個模塊之間不會有信號相互干擾。

實用新型內容

本實用新型專利解決的技術問題是實現同一料帶上多個非接模塊同時測試，能夠同時對 9個以內的(含9個)非接模塊進行測試，而且各個模塊之間不會有信號相互干擾，同時提高測試效率。

為解決上述技術問題，本實用新型公開了料帶一種可實現同一料帶上多個非接模塊同時測試的裝置，包括：測針、夾手、滑塊、滑塊鎖扣、托料裝置、導軌槽、和50歐姆射頻線；

其中所述測針用于與非接模塊進行通信。

所述夾手用于控制測針與非接模塊pad的接觸緊密程度；

所述滑塊和滑塊鎖扣用于對非接模塊料帶進行定位；

所述托料裝置和導軌槽用于固定非接模塊料帶；

所述50歐姆射頻線用于與讀卡機的連接，進行射頻信號傳輸。

附圖說明

圖1是所述非接模塊料帶測試裝置的結構示意圖。

圖2是包含所述非接模塊料帶測試裝置測試系統框架連接圖。

圖3是使用所述非接模塊料帶測試裝置測試模塊的流程圖。

具體實施方式

下面結合附圖與具體實施方式對本實用新型作進一步詳細的說明：

結合圖1所示，在下面的實施例中,所述非接模塊料帶測試裝置，包括：測針、夾手、滑塊、滑塊鎖扣、托料裝置、導軌槽和、50歐姆歐姆射頻線。

結合圖2所示，所述非接模塊料帶測試裝置分別于料帶和讀卡器相連，PC端通過發送指令控制讀卡器對模塊進行測試。

圖3所示的是所述非接模塊料帶測試裝置測試模塊的流程圖，具體測試步驟如下：

第一步將50歐姆射頻線和讀卡機相連接；

第二步抬起夾手(抬起滑塊鎖扣)將滑塊滑至最右端，將料帶放在托料裝置上，拉動料帶并將料帶插入導軌槽；

第三步將夾手放下，使測針稍高于模塊位置，手動定位料帶位置，將起始的9個待測模塊的天線兩端與測針對準；

第四步壓下夾手，讀卡器發送測試指令，開始9個模塊的測試；

第五步9個模塊完成測試后，抬起夾手，將滑塊滑至最左端，按下滑塊鎖扣，滑動滑塊到最右端，滑塊會帶動導軌槽中的料帶向前移動3格(3*3個模塊)；

第六步重復第四步和第五步。

以上通過具體實施方式對本實用新型進行了詳細的說明，但這些并非構成對本實用新型的限制。在不脫離本實用新型原理的情況下，本實用新型專利所述的非接模塊料帶測試裝置的還可做出許多變形和改進，比如增加50歐姆射頻線的數量等等，這些均應視為本實用新型的保護范圍。