[實用新型]一種優(yōu)化集成式雙光路激光電離效應模擬系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721524323.6 | 申請日: | 2017-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN208208151U | 公開(公告)日: | 2018-12-07 |
| 發(fā)明(設計)人: | 孫鵬;李沫;湯戈;陳飛良;馬莉;代剛;張健 | 申請(專利權)人: | 中國工程物理研究院電子工程研究所 |
| 主分類號: | G09B23/18 | 分類號: | G09B23/18;G09B23/22 |
| 代理公司: | 成都天嘉專利事務所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 蔣斯琪 |
| 地址: | 621999 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 雙光路 半導體器件 激光電離 效應模擬 優(yōu)化集成 伽馬射線 本實用新型 實驗室條件 雙波長脈沖 輻射源 輻射劑量 結構優(yōu)化 控制模塊 模擬系統(tǒng) 設計周期 試驗成本 試驗效率 衰減模塊 顯微觀察 激光器 劑量率 抗輻射 雙波長 光路 驗證 測試 輸出 靈活 研究 | ||
本實用新型公開了一種優(yōu)化集成式雙光路激光電離效應模擬系統(tǒng),該系統(tǒng)主要包括雙波長脈沖激光器、雙光路衰減模塊、顯微觀察模塊、測試與控制模塊四個部分。該系統(tǒng)在同時實現532nm和1064nm雙波長輸出的基礎上,對整個模擬系統(tǒng)進行了光路和結構優(yōu)化,使其能夠更加靈活快捷地在實驗室條件下對半導體器件輻射劑量率效應進行研究和驗證,特別是針對伽馬射線等輻射源作用于半導體器件劑量率效應的模擬,具有方便、快捷、準確、安全性高等特點。該實用新型有效降低了試驗成本,提高了試驗效率,縮短了抗輻射加固的設計周期。
技術領域
本實用新型屬于半導體器件輻射效應研究領域,特別是一種優(yōu)化集成式雙光路激光電離效應模擬系統(tǒng)。
背景技術
現在很多社會應用場景中,都存在著各種各樣的輻射因素。當輻射因素與半導體器件之間相互作用時,會引發(fā)電離效應、位移效應等物理過程,嚴重影響器件乃至整個系統(tǒng)的工作性能,甚至可能使之永久失效。因此對輻射效應影響的研究以及對相應抗輻射加固技術是必要的研究課題。
早期,研究人員主要依靠電子直線加速器、各種放射源等大型地面裝置開展輻射效應研究。但這些大型地面輻射模擬裝置存在如輻射測量范圍有限、參數調節(jié)非常困難、改變輻射種類和能量需要的時間長、對被測器件有損傷、難于精確提供器件在輻射下的精確時間和空間信息、需要嚴格的輻射屏蔽和保護措施等局限性,難以滿足科研人員在設計初期,在實驗室中靈活、快捷、安全地對半導體器件輻射效應和工作性能進行研究和驗證的需求。
由于激光可以在半導體器件內產生同某些輻射效應相近的電學特征,因此,激光模擬輻射電離效應方法應運而生,并且得到了國外科研界的推廣和認可,在半導體器件輻射效應敏感性測試、抗輻射加固器件的批量篩選以及防護措施驗證等方面中證實了其獨特優(yōu)勢,可以在很大程度上彌補地面裝置模擬方法的不足,具有非常廣闊的應用前景。
目前國內現有的激光模擬系統(tǒng)大多為單粒子效應激光模擬系統(tǒng),且多為單波長試驗系統(tǒng),波長切換成本昂貴,不能滿足輻射劑量率效應激光模擬要求。
實用新型內容
針對目前國內尚無針對劑量率效應激光模擬系統(tǒng)的現狀,以及其它地面模擬裝置的固有限制,本實用新型提供了一種優(yōu)化集成式雙光路激光電離效應模擬系統(tǒng)。該系統(tǒng)可同時輸出532nm和1064nm的雙波長激光對輻射電離效應進行模擬,并且在光路和結構上進行了進一步優(yōu)化,使其可靈活快捷地在實驗室條件下對半導體器件輻射劑量率效應進行研究和驗證。
本實用新型的技術方案如下:
一種優(yōu)化集成式雙光路激光電離效應模擬系統(tǒng),其特征在于:包括調整底座,光源,雙光路衰減模塊,顯微觀察模塊,測試與控制模塊;
所述調整底座,用于穩(wěn)定支撐整個模擬系統(tǒng);
所述光源,安裝于調整底座上部,用于產生波長為532nm和1064nm的脈沖激光,使兩路激光沿水平方向進入到雙光路衰減模塊;
所述雙光路衰減模塊,用于對雙通道脈沖激光的能量進行衰減;
所述顯微觀察模塊,用于對反射出的激光照射到待測樣品上形成的光斑進行觀察;
所述測試與控制模塊,用于采集并記錄待測樣品輻射電離效應的響應電信號。
所述調整底座包含調平螺絲和縱向安裝于調整底座上的導軌,調平螺絲用于調節(jié)調整底座的水平位置,導軌用于調整系統(tǒng)的高度。
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