[實用新型]一種封裝芯片引腳整形塊有效
| 申請號: | 201721519226.8 | 申請日: | 2017-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN207425817U | 公開(公告)日: | 2018-05-29 |
| 發明(設計)人: | 李領;李勛 | 申請(專利權)人: | 四川電科安信科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 成都嘉企源知識產權代理有限公司 51246 | 代理人: | 胡林 |
| 地址: | 610000 四川省成都*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 整形塊 絲桿 螺母 本實用新型 封裝芯片 滑動 控制槽 引腳 滑動設置 接觸配合 可調節性 面相接觸 傾斜設置 位置調節 軸向移動 轉動調節 自由切換 螺母軸 整形 止推 軸向 | ||
本實用新型公開了一種封裝芯片引腳整形塊,包括基座,所述基座上設置有調節槽和控制槽,調節槽和控制槽內分別滑動設置有通過斜面相接觸配合的調節塊和控制塊,所述控制塊通過連桿與整形塊相連,調節塊上設置有調節絲桿,調節絲桿上設置有調節螺母,由于調節螺母軸向固定于基座上,因此轉動調節螺母時,調節絲桿會發生軸向移動,從而帶動調節塊作軸向的滑動,由于調節塊與控制塊通過傾斜設置的止推面相接觸,因此調節塊會推動控制塊滑動,從而實現了調節塊的位置調節;本實用新型實現在不同整形規格之間的自由切換,提高了整形塊的可調節性,且其調節方式簡單、快速。
技術領域
本實用新型涉及集成電路封裝設備技術領域,具體涉及一種封裝芯片引腳整形塊。
背景技術
DIP封裝芯片是指采用雙列直插式封裝的集成電路芯片,絕大多數中小規模集成電路均采用此種封裝形式。采用此種封裝方式的芯片通常有兩排引腳,采用直插到具有芯片插座上,或直接插在具有相同焊孔數和幾何排列的電路板上進行焊接。
在DIP封裝芯片的加工過程中,有一道工序為切筋成型,其功能是將封裝在框架上IC產品分離成成品,產品在分離過程中及過程后,少部分產品會出現兩排引腳跨度不達標的缺陷,或者客戶要求將已經加工成型的產品的兩排引腳跨度按照要求進行擴大,但是其使用的整形塊大小固定,可調節性差,每更換一種整形規格就需要更換整形塊,嚴重浪費資源。
公開號為CN10640972A的中國發明專利于2017年2月15日公開了一種FP芯片整形裝置及整形方法,包括下整形塊、上整形塊;下整形塊與上整形塊之間通過合頁結構鉸接;下整形塊上開有整形凹槽;上整形塊上固定有與能夠整形凹槽配合的整形凸槽;在上整形塊上位于整形凸槽兩側的位置開有刀具切割口;上整形塊上還安裝有把手。本發明所提供的FP芯片整形裝置及整形方法,解決了FP封裝手工整形困難、共面性差、引腳易折斷等難題,能有效保證FP芯片成形質量和成形后芯片的共面型,提高芯片的可焊性,減少焊接不良的產生。
實用新型內容
針對現有技術中存在引腳整形可調節性差的缺陷,本實用新型公開了一種封裝芯片引腳整形塊,采用本實用新型能夠實現任意尺寸的芯片引腳調節,且具有操作簡單,精確度高等優點。
本實用新型通過以下技術方案實現上述目的:
一種封裝芯片引腳整形塊,包括基座,所述基座上設置有密封板,其特征在于:所述基座的兩側均設置有整形塊,基座內設置有調節槽,調節槽的兩側設置有與其相互連通的控制槽,所述調節槽和控制槽內分別滑動設置有相互配合的調節塊和控制塊,所述調節塊與控制塊之間通過傾斜設置的止推面相接觸;所述控制塊通過連桿與整形塊相連;所述調節塊上設置有調節絲桿,所述調節絲桿的一端伸出到基座外,且該段調節絲桿上設置有軸向固定于基座上的調節螺母。
所述基座上設置有滾動軸承,所述調節螺母固定安裝于滾動軸承的內圈,調節螺母上還設置有調節手柄。
所述調節絲桿與調節塊之間通過絲扣連接。
所述基座上還對稱設置兩個有定位槽,所述定位槽內滑動設置有定位桿,所述定位桿的兩端均通過螺紋分別與整形塊和定位塊相連。
所述定位桿上還套置有復位彈簧。
所述止推面與水平方向的夾角為30°-45°。
與現有技術相比,本實用新型具有以下有益效果:
1、本實用新型的基座上設置有調節槽和控制槽,調節槽和控制槽內分別滑動設置有通過斜面相接觸配合的調節塊和控制塊,所述控制塊通過連桿與整形塊相連,調節塊上設置有調節絲桿,調節絲桿上設置有調節螺母,由于調節螺母軸向固定于基座上,因此轉動調節螺母時,調節絲桿會發生軸向移動,從而帶動調節塊作軸向的滑動,由于調節塊與控制塊通過傾斜設置的止推面相接觸,因此調節塊會推動控制塊滑動,從而實現了調節塊的位置調節;本實用新型實現在不同整形規格之間的自由切換,提高了整形塊的可調節性,且其調節方式簡單、快速。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
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H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





