[實用新型]一種電容器漏電流多通道獨立測試系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721511115.2 | 申請日： | 2017-11-14 |
| 公開（公告）號： | CN207440201U | 公開（公告）日： | 2018-06-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 劉坤;汪鋼;陸文興 | 申請（專利權(quán)）人： | 常州市致新精密電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01R31/02;G01R19/00 |
| 代理公司： | 南京源古知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32300 | 代理人： | 吳麗娜 |
| 地址： | 213000 江蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電容器 測試單元 電容充電 漏電流 獨立測試系統(tǒng) 本實用新型 模擬開關(guān) 切換單元 多通道 充電 測試電容器 待測電容器 電容器產(chǎn)品 測試效率 充電測試 互不干擾 時間結(jié)束 依次顯示 并聯(lián) 測試 | ||
本實用新型涉及一種電容器漏電流多通道獨立測試系統(tǒng)，主要由多個并聯(lián)的電容充電測試單元、模擬開關(guān)切換單元、A/D轉(zhuǎn)換單元以及CPU單元組成；所述電容充電測試單元通過模擬開關(guān)切換單元連接到A/D轉(zhuǎn)換單元，所述A/D轉(zhuǎn)換單元連接CPU。待測電容器分別與各電容充電測試單元連接，每個電容器擁有獨立的充電測試單元，充電互不干擾，充電時間結(jié)束后依次測試電容器漏電流值，依次顯示。本實用新型可以同時測試多個電容器產(chǎn)品，大大提高了測試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及電容器測試系統(tǒng)，尤其涉及一種電容器漏電流多通道獨立測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
電容器，是電子設(shè)備中大量使用、不可缺少的電子元件之一，廣泛應(yīng)用于隔直、耦合、旁路、濾波、調(diào)諧回路、能量轉(zhuǎn)換、控制電路等各個方面；電容器尤其是電解電容器，在使用之前衡量電容器的漏電流是不可缺少的步驟。
傳統(tǒng)的電容器漏電流測試方法為：將電解電容器的正負(fù)極分別與漏電流測試儀的正負(fù)極相連接，設(shè)定充電時間為60秒(有些特殊規(guī)格產(chǎn)品充電時間為120秒，具體請參照該電容的規(guī)格書)然后啟動儀器，充電時間完成后，儀器所顯示的值即為該電容的漏電流。
傳統(tǒng)測試方法的缺點在于：一次只能測試一個產(chǎn)品，效率低下，比如要測試10個產(chǎn)品，一個產(chǎn)品測試時間為60s，10個產(chǎn)品測試測試至少需要600s(還不包括客戶更換產(chǎn)品的時間)，效率很低，為了提高效率，客戶通常需要買多臺儀器并用，成本很高，一般客戶承受不起。
實用新型內(nèi)容
為了解決上述技術(shù)問題，提供一種檢測速度快、效率高的電容器測試系統(tǒng)，本實用新型提供以下技術(shù)方案：
一種電容器漏電流多通道獨立測試系統(tǒng)，由多個并聯(lián)的電容充電測試單元、模擬開關(guān)切換單元、A/D轉(zhuǎn)換單元、CPU單元以及信號輸出單元組成；所述電容充電測試單元通過模擬開關(guān)切換單元連接到A/D轉(zhuǎn)換單元，所述A/D轉(zhuǎn)換單元連接CPU單元，所述CPU單元連接信號輸出單元，待測電容器分別與各電容充電測試單元連接。
假如同時測試10個產(chǎn)品，一個產(chǎn)品測試時間為60s，10個產(chǎn)品的測試時間為同樣也為60s(傳統(tǒng)測試為600s),大大減少了測試時間，提高了測試效率。
進(jìn)一步的，所述電容充電測試單元包括短路測試單元、開路測試單元、充電單元以及漏電流測試單元，所述短路測試單元、開路測試單元、充電單元、漏電流測試單元分別與待測電容器的正負(fù)極連接，并分別通過模擬開關(guān)切換單元、A/D轉(zhuǎn)換單元與CPU單元連接。
采用上述方案進(jìn)行多個產(chǎn)品同時測試時，是一個電源對很多電解電容器同時充電，如某一電容器短路，那么此電源充電的眾多電解電容器可能都充不上電，那么測試時，很多合格品可能會認(rèn)為次品，浪費(fèi)很多；如電解電容器開路，其漏電流會非常小，不合格品可能會被認(rèn)為良品，帶來了質(zhì)量隱患。因此，需要在充電前先進(jìn)行一次電解電容器開路、短路測試，篩選出開路或者短路的電解電容器，避免產(chǎn)品浪費(fèi)的同時，提高產(chǎn)品的質(zhì)量。
進(jìn)一步的，所述信號輸出單元為HDL輸出單元。
本實用新型的有益效果在于：可以同時測試多個電容器產(chǎn)品，大大提高了測試效率；并能在提高測試的準(zhǔn)確性的同時避免產(chǎn)品的浪費(fèi)。
附圖說明
圖1、同時測試10個待測電容器時，本實用新型的測試系統(tǒng)框圖。
圖2、本實用新型的電容充電測試單元的結(jié)構(gòu)框圖。
圖3、圖2中短路測試單元的電路圖。
圖4、圖2中開路測試單元的電路圖。
圖5、圖1中模擬開關(guān)切換單元的電路圖。
具體實施方式
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