[實用新型]一種質譜儀檢測器高壓保護電路

有效

• 申請號: 201721502230.3
• 申請日: 2017-11-13
• 公開（公告）號: CN207801455U
• 公開（公告）日: 2018-08-31
• 發明（設計）人: 應剛;劉建魁;游小燕;李林;周立
• 申請（專利權）人: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
• 主分類號: H02H3/20
• 分類號: H02H3/20
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種質譜儀檢測器高壓保護電路，包括：控制單元，高壓直流源模塊，高壓設置組件，開關控制組件，以及反饋組件，所述反饋組件將所述高壓直流源模塊通信狀態反饋給所述控制單元傳遞至所述控制單元，由所述控制單元進行判斷整體電路是否為狀態正常，并進而控制所述開關控制組件給所述高壓直流源模塊進行供電，同時所述高壓設置組件控制所述高壓直流源模塊輸出預定高壓值;本實用新型采用對電路工作狀態的判斷，并通過控制開關電路對檢測器進行供電和斷電操作，保證檢測器在工作過程中具有電壓，避免長時間無關損耗，同時，利用設置最高保護電壓，避免檢測器承載過高電壓，進一步保護了檢測器，提升使用壽命。

技術領域

本實用新型屬于質譜儀領域，尤其涉及其中的一種質譜儀檢測器高壓保護電路。

背景技術

質譜儀主要由進樣系統、離子源、離子導入和離子傳輸、質量分析器、探測器組成，同時輔以電學系統和真空系統保證儀器的正常運轉。在電感耦合等離子體質譜分析儀器中，要對樣品中微量的元素的種類和含量進行檢測，樣品經進樣系統導入后進入處于高真空狀態的離子化系統進行電離，常規的電離方法是電子離子化也就是電子轟擊法。它是利用燈絲加熱時產生的熱電子與氣相中的有機分子相互作用，使分子失去價電子，電離成為帶正電荷的分子離子。如果分子離子的內能較大，就可能發生化學鍵斷裂，生成m/Z較小的碎片離子。這些離子和碎片在電磁場的引導下進入質量分析器，利用離子在磁場或電場中的運動性質，可將不同質荷比的離子分開，然后由檢測器分別測量離子流的強度，得到特定的質譜圖，而分子結構不同，質譜圖也不同，根據峰的位置可以進行定性和結構分析，而峰的強度是和離子數成正比的，依此得到樣品的定量信息。

質量分析器篩選出需要的離子信號后，這些離子高速進入檢測器，在檢測器里帶正電荷的信號離子轉換成了電子流，經檢測器放大后輸出的脈沖信號被檢測器信號采集放大電路接收放大，并轉換成容易被MCU檢測的方波脈沖信號，一個脈沖就是一個計數值，計數數值的大小與質量分析器輸出的帶電離子數量成正比關系，理論上講有一個帶電離子就有一個計數值，但是由于進入檢測器的離子流速度很快，檢測器本身有死時間的局限性，所以被檢測的帶電離子和計數值很多時候不是一一對應關系，而是多個離子對應一個脈沖計數，MCU模塊得到了需要的計數值后，把這些數據傳給上位機，供上位機顯示譜圖用，而上位機根據需要進行適當的扣背景設置。

在實際檢測中，會存在一定的信噪比，其過大將直接影響信號圖譜的呈現，而且直接對檢測器施加上千伏高壓將會加速檢測器的損耗，超過檢測器的最大電壓將會使得檢測器直接報廢，因此需要尋找一種能夠解決上述問題的技術方案或方法。

實用新型內容

有鑒于此，需要克服現有技術中的上述缺陷中的至少一個。本實用新型提供了一種質譜儀檢測器高壓保護電路，包括控制單元，高壓直流源模塊，用于控制所述高壓直流源模塊輸出預定高壓且與所述控制單元相聯的高壓設置組件，用于控制給所述高壓直流源模塊供電的開關控制組件，以及將所述高壓直流源模塊通信狀態反饋給所述控制單元的反饋組件，所述反饋組件將所述高壓直流源模塊通信狀態反饋傳遞給所述控制單元，由所述控制單元進行判斷整體電路是否為狀態正常，并進而控制所述開關控制組件給所述高壓直流源模塊進行供電，同時所述高壓設置組件控制所述高壓直流源模塊輸出預定高壓值，若所述控制單元判斷所述整體電路正常，則輸入所述檢測器的電壓為正常值，若所述控制單元判斷所述整體電路不正?；虿还ぷ?，則則輸入所述檢測器的電壓為0。

根據本專利背景技術中對現有技術所述，在實際檢測中，會存在一定的信噪比，其過大將直接影響信號圖譜的呈現，而且直接對檢測器施加上千伏高壓將會加速檢測器的損耗，超過檢測器的最大電壓將會使得檢測器直接報廢；而本實用新型公開的質譜儀檢測器高壓保護電路，采用對電路工作狀態的判斷，并通過控制開關電路對檢測器進行供電和斷電操作，保證檢測器可以只在工作過程中具有電壓，避免了長時間的無關損耗，同時，利用設置最高保護電壓，可以避免檢測器承載過高的電壓，進一步保護了檢測器，提升使用壽命。

另外，根據本實用新型公開的用于多準直器的轉動結構還具有如下附加技術特征：