[實用新型]一種計算機性能衰減測試裝置

有效

• 申請號: 201721498999.2
• 申請日: 2017-11-12
• 公開（公告）號: CN207503210U
• 公開（公告）日: 2018-06-15
• 發明（設計）人: 陳皓穎
• 申請（專利權）人: 陳皓穎
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;H05K7/20
• 代理公司: 北京華仲龍騰專利代理事務所(普通合伙) 11548
• 代理人: 李靜

1.一種計算機性能衰減測試裝置，包括測試儀機殼（2）和散熱扇（4），其特征在于：所述測試儀機殼（2）的頂部設置有四個均勻分布的緩沖墊（10），所述測試儀機殼（2）的兩側設置有相互對稱的通風槽（15），所述測試儀機殼（2）的上方設置有手提桿（5），兩個相互對稱的所述散熱扇（4）安裝在測試儀機殼（2）的頂部，所述散熱扇（4）的外側設置有散熱扇保護罩（3），所述測試儀機殼（2）的正面設置有顯示屏（1），所述顯示屏（1）的下方設置有電源接口（6），所述電源接口（6）的一側設置有USB接口（7），所述USB接口（7）的另一側設置有電源開關（8），所述電源開關（8）遠離USB接口（7）的一側設置有指示燈（9），所述顯示屏（1）的一側設置有硬盤測試模塊（11），所述硬盤測試模塊（11）的下方設置有數字集成電路測試功能模塊（12），所述數字集成電路測試功能模塊（12）的底部設置有模擬集成電路測試功能模塊（13）。

2.根據權利要求1所述的一種計算機性能衰減測試裝置，其特征在于：所述手提桿（5）通過緊固螺絲（14）安裝在測試儀機殼（2）的頂部。

3.根據權利要求1所述的一種計算機性能衰減測試裝置，其特征在于：所述硬盤測試模塊（11）與測試儀機殼（2）、數字集成電路測試功能模塊（12）與測試儀機殼（2）、模擬集成電路測試功能模塊（13）與測試儀機殼（2）和通風槽（15）與測試儀機殼（2）均為一體式結構。

4.根據權利要求1所述的一種計算機性能衰減測試裝置，其特征在于：所述緩沖墊（10）與測試儀機殼（2）的連接方式為螺紋連接。

5.根據權利要求1所述的一種計算機性能衰減測試裝置，其特征在于：所述電源開關（8）與顯示屏（1）、硬盤測試模塊（11）與顯示屏（1）、數字集成電路測試功能模塊（12）與顯示屏（1）和模擬集成電路測試功能模塊（13）與顯示屏（1）的連接方式均為電性連接。

6.根據權利要求1所述的一種計算機性能衰減測試裝置，其特征在于：所述散熱扇保護罩（3）與測試儀機殼（2）的連接方式為卡合連接。