[實用新型]一種自動對焦式增強拉曼光譜信號的裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721491892.5
• 申請日: 2017-11-10
• 公開（公告）號: CN207976398U
• 公開（公告）日: 2018-10-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 徐曉軒;王斌
• 申請（專利權(quán)）人: 天津富偉科技有限公司
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65
• 代理公司: 天津諾德知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 12213
• 代理人: 欒志超

一種自動對焦式增強拉曼光譜信號的裝置，包括光源、待測樣品和拉曼探頭；所述光源發(fā)射的光線照射到所述待測樣品，所述光線經(jīng)所述待測樣品散射和/或折射至所述拉曼探頭；還包括自動對焦裝置和散射增強層，所述待測樣品置于所述散射增強層上；所述散射增強層與所述自動對焦裝置連接。本申請的有益效果是：自動對焦裝置使得待測樣品能夠自動對焦到最佳檢測位置，利于檢測和得到最優(yōu)光譜信號；散射增強層的設(shè)置，能夠加強漫散射的強度，提高拉曼信號信噪比，利于低含量物質(zhì)的檢測。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請屬于光譜測量技術(shù)領(lǐng)域，具體地說，涉及一種自動對焦式增強拉曼光譜信號的裝置。

背景技術(shù)

拉曼光譜(Raman spectra)，是一種散射光譜。拉曼光譜分析法是基于印度科學家C.V.拉曼(Raman)所發(fā)現(xiàn)的拉曼散射效應(yīng)，對與入射光頻率不同的散射光譜進行分析以得到分子振動、轉(zhuǎn)動方面信息，并應(yīng)用于分子結(jié)構(gòu)研究的一種分析方法。

當光子射入物質(zhì)時，就會發(fā)生多個不同事件中的一種。光子可以沒有任何改變通過，它也能被吸收或者它也能被散射。在散射的情況下，光子的行進方向由散射事件來改變。一般來說，光子的能量不改變-這就稱之為彈性散射。有時，光子的能量會改變-這就稱之為非彈性散射或者拉曼散射。能量改變的大小嚴格等于物質(zhì)振動的能量。由于振動所“允許”的能量(頻率) 通常形成確切定義的離散數(shù)值集，非彈性散射光的光譜通常也呈現(xiàn)出一組一個或多個確切定義的數(shù)值(實際上被稱為拉曼頻帶的頻帶)并且這些通常也都是與物質(zhì)相關(guān)的特性。

現(xiàn)有的拉曼光譜檢測裝置沒有自動對焦功能，待測樣品6放置于檢測區(qū)域后很難保證是最佳的檢測位置，尤其是到達微調(diào)的程度時，更是難以實現(xiàn)。而在非最佳檢測位置進行檢測的結(jié)果就是激光不能完全照射在樣品上，或者經(jīng)散射后的拉曼光譜不能被最大限度的收集。使得獲得到的拉曼光譜信號比較弱。尤其是被測物質(zhì)在樣品中含量較低時，更是難以檢測到或者檢測到過弱的信號不足以進行光譜分析。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請所要解決的技術(shù)問題是提供了一種自動對焦式增強拉曼光譜信號的裝置，能夠改善漫散射性能，提高拉曼信號的信噪比，從而利于檢測出低含量的物質(zhì)。

為了解決上述技術(shù)問題，本申請公開了一種自動對焦式增強拉曼光譜信號的裝置，并采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)。

一種自動對焦式增強拉曼光譜信號的裝置，包括光源、待測樣品和拉曼探頭；所述光源發(fā)射的光線照射到所述待測樣品，所述光線經(jīng)所述待測樣品散射和/或折射至所述拉曼探頭；還包括自動對焦裝置和散射增強層，所述待測樣品置于所述散射增強層上；所述散射增強層與所述自動對焦裝置連接。

進一步的，所述自動對焦裝置包括檢測室；所述檢測室內(nèi)配設(shè)縱向?qū)к墸凰隹v向?qū)к壧幣湓O(shè)與所述縱向?qū)к壔壥竭B接的縱向齒條；縱向齒輪與所述縱向齒條相嚙合；所述散射增強層置于所述縱向齒條的頂端；所述散射增強層的側(cè)面配設(shè)橫向齒條，所述橫向齒條與所述散射增強層可縱向活動連接；所述橫向齒條處配設(shè)與所述橫向齒條滑軌式連接的橫向?qū)к墸鰴M向?qū)к壟c所述檢測室固定連接；橫向齒輪與所述橫向齒條相嚙合；所述縱向齒輪和所述橫向齒輪均由電機驅(qū)動；所述檢測室內(nèi)配設(shè)位置傳感器。所述位置傳感器和所述電機均與控制單元電連接。

進一步的，所述縱向齒條的頂端配設(shè)水平向平臺，所述散射增強層置于所述平臺上。

進一步的，所述位置傳感器包括第一位置傳感器和第二位置傳感器；所述第一位置傳感器設(shè)在所述檢測室的上壁；所述第二位置傳感器設(shè)在所述檢測室的側(cè)壁。

進一步的，所述檢測室的上壁設(shè)有左、右兩個通光孔。

進一步的，所述左、右兩個通光孔的中心點分別與所述待測樣品所在平面呈135度和45度角。

進一步的，所述散射增強層為層狀結(jié)構(gòu)，從下向上依次包括吸附材料層和納米金屬層，所述吸附材料層的表面粗糙。