[實用新型]光源恒溫的表面等離子體子諧振檢測儀

有效

• 申請號: 201721491764.0
• 申請日: 2017-11-10
• 公開（公告）號: CN208255056U
• 公開（公告）日: 2018-12-18
• 發明（設計）人: 梅丹陽;張海青;王金海;李洪增
• 申請（專利權）人: 北京英柏生物科技有限公司
• 主分類號: G01N21/552
• 分類號: G01N21/552;G01N21/01
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種光源恒溫的表面等離子體子諧振檢測儀，其特征在于，包括：

支架組件(10)；

光源整理組件(20)，所述光源整理組件(20)設置在所述支架組件(10)上，所述光源整理組件(20)包括光源和透鏡機構，所述光源通過所述透鏡機構成楔形光束射出，所述光源為LED光源；

芯片組件(30)，所述芯片組件(30)設置在所述支架組件(10)上，所述芯片組件(30)包括具有至少一個平面的棱鏡和設置在所述棱鏡的平面的外壁上的芯片；

成像組件(40)，所述成像組件(40)設置在所述支架組件(10)上，所述楔形光束從所述芯片組件(30)射出后進入至所述成像組件(40)；

溫度控制組件，所述溫度控制組件和所述光源進行熱量交換，以使所述光源處于預定溫度；

所述光源整理組件(20)還包括光源殼體，所述光源設置在所述光源殼體內，所述溫度控制組件與所述光源殼體相連接以對所述光源處于預定溫度；

所述溫度控制組件包括半導體制冷片組件，所述半導體制冷片組件包括冷端，所述冷端至少部分地貼設在所述光源殼體上，或者所述冷端通過傳熱結構與所述光源進行換熱。

2.根據權利要求1所述的表面等離子體子諧振檢測儀，其特征在于，所述冷端至少部分地包覆在所述光源殼體的外壁上。

3.根據權利要求1所述的表面等離子體子諧振檢測儀，其特征在于，所述半導體制冷片組件還包括安裝在所述支架組件(10)上的風扇，所述冷端通過所述風扇與通過所述芯片組件(30)的樣品換熱。

4.根據權利要求1所述的表面等離子體子諧振檢測儀，其特征在于，所述表面等離子體子諧振檢測儀還包括溫度檢測組件，所述溫度檢測組件用以檢測所述光源的溫度，以使所述光源處于預定的溫度。

5.根據權利要求1所述的表面等離子體子諧振檢測儀，其特征在于，所述表面等離子體子諧振檢測儀包括反應倉單元，所述溫度控制組件還包括反應倉換熱結構，所述反應倉換熱結構與反應倉單元換熱，以使所述反應倉單元處于預定溫度。

6.根據權利要求5所述的表面等離子體子諧振檢測儀，其特征在于，所述反應倉換熱結構包括反應倉換熱器和風扇，所述風扇將所述反應倉換熱器的熱量引至所述反應倉單元，以使所述反應倉單元處于預定溫度。

7.根據權利要求6所述的表面等離子體子諧振檢測儀，其特征在于，所述反應倉單元包括硅膠塊，所述硅膠塊上設置有流槽，所述芯片組件(30)與所述硅膠塊抵壓配合，以使樣品沿著所述流槽流動且所述芯片組件(30)和所述硅膠塊之間形成密封。

8.根據權利要求1所述的表面等離子體子諧振檢測儀，其特征在于，所述表面等離子體子諧振檢測儀還包括采樣組件(60)，所述溫度控制組件還包括采樣換熱結構，所述采樣換熱結構對所述采樣組件(60)進行換熱，以使樣品處于預定溫度。