[實用新型]流道穩(wěn)定的表面等離子體子諧振檢測儀有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721491763.6 | 申請日: | 2017-11-10 |
| 公開(公告)號: | CN208255055U | 公開(公告)日: | 2018-12-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 梅丹陽;張海青;王金海;李洪增 | 申請(專利權(quán))人: | 北京英柏生物科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/552 | 分類號: | G01N21/552 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 102299 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 芯片組件 硅膠塊 光源 成像組件 支架組件 樣本池 本實用新型 表面等離子 透鏡機構(gòu) 諧振檢測 整理組件 平面的 棱鏡 流槽 流道 射出 表面等離子共振 方案解決 組件包括 成楔形 流通 抵壓 外壁 楔形 密封 芯片 檢測 流動 配合 | ||
1.一種流道穩(wěn)定的表面等離子體子諧振檢測儀,其特征在于,包括:
支架組件(10);
光源整理組件(20),所述光源整理組件(20)設(shè)置在所述支架組件(10)上,所述光源整理組件(20)包括光源和透鏡機構(gòu),所述光源通過所述透鏡機構(gòu)成楔形光束射出;
芯片組件(30),所述芯片組件(30)設(shè)置在所述支架組件(10)上,所述芯片組件(30)包括具有至少一個平面的棱鏡和設(shè)置在所述棱鏡的平面的外壁上的芯片;
成像組件(40),所述成像組件(40)設(shè)置在所述支架組件(10)上,所述楔形光束從所述芯片組件(30)射出后進入至所述成像組件(40);
樣本池組件,所述樣本池組件包括硅膠塊,所述硅膠塊上設(shè)置有流槽,所述芯片組件(30)與所述硅膠塊抵壓配合,以使樣品沿著所述流槽流動且所述芯片組件(30)和所述硅膠塊之間形成密封,流槽為兩個;
所述表面等離子體子諧振檢測儀還包括彈性抵壓組件(50),所述彈性抵壓組件(50)設(shè)置在所述支架組件(10)上并對所述芯片組件(30)提供壓力,以使所述芯片組件(30)和樣本池組件密封抵壓;
所述彈性抵壓組件(50)包括固定座、彈性件和抵壓部,所述固定座設(shè)置在所述支架組件(10)上,所述彈性件設(shè)置在所述固定座和所述抵壓部之間;
所述彈性抵壓組件(50)上還設(shè)置有壓力傳感器,通過所述壓力傳感器測量的壓力,以調(diào)整所述彈性抵壓組件(50)和所述芯片組件(30)的壓力。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的流道穩(wěn)定的表面等離子體子諧振檢測儀,其特征在于,所述彈性件為兩個彈簧,所述兩個彈簧對稱地設(shè)置在所述抵壓部的兩側(cè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的流道穩(wěn)定的表面等離子體子諧振檢測儀,其特征在于,所述抵壓部的側(cè)面設(shè)置有滑套,所述支架組件(10)具有與所述滑套相配合的立柱,所述滑套沿所述立柱的軸線移動以對所述抵壓部的運動進行限位。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的流道穩(wěn)定的表面等離子體子諧振檢測儀,其特征在于,所述表面等離子體子諧振檢測儀還包括采樣組件(60),所述采樣組件(60)設(shè)置在所述支架組件(10)上,所述采樣組件(60)包括采樣針,所述流槽和所述芯片組件(30)配合形成進樣口,所述采樣針和所述進樣口相配合。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的流道穩(wěn)定的表面等離子體子諧振檢測儀,其特征在于,所述表面等離子體子諧振檢測儀還包括溫度控制組件,所述溫度控制組件設(shè)置在所述支架組件(10)上,所述溫度控制組件與所述光源整理組件(20)和/或所述采樣組件(60)相連,以控制所述光源整理組件(20)和/或所述采樣組件(60)處于預(yù)定溫度。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的流道穩(wěn)定的表面等離子體子諧振檢測儀,其特征在于,所述棱鏡和所述芯片為一體結(jié)構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的流道穩(wěn)定的表面等離子體子諧振檢測儀,其特征在于,所述芯片組件(30)還包括芯片盒(70),所述芯片盒(70)包括外殼和內(nèi)殼,所述內(nèi)殼可在所述外殼內(nèi)移動,所述棱鏡和所述芯片設(shè)置在所述內(nèi)殼。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京英柏生物科技有限公司,未經(jīng)北京英柏生物科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201721491763.6/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





