[實用新型]一種用于介電常數測試的裝置

有效

• 申請號: 201721480491.X
• 申請日: 2017-11-08
• 公開（公告）號: CN207780119U
• 公開（公告）日: 2018-08-28
• 發明（設計）人: 袁帥
• 申請（專利權）人: 貴州航天計量測試技術研究所
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 貴陽中新專利商標事務所 52100
• 代理人: 商小川

本實用新型公開了一種用于介電常數測試的裝置，包括底座、上金屬板、下金屬板、被測件和矢量網絡分析儀，還包括千分尺滑臺、短路板、同軸線、耦合環和螺旋頂，下金屬板固定在千分尺滑臺上，上金屬板和下金屬板兩側各有一塊短路板，帶耦合環的同軸線穿過短路板與矢量網絡分析儀電連接，千分尺滑臺與螺旋頂螺紋連接，被測物置于密封的金屬腔中，降低了輻射對測量精度的影響，被測物的位置通過千分尺滑臺進行調節，同時同軸線的位置也可以調節，大大提高了檢測時操作方便程度，另外整個裝置結構牢固，被測物放置穩定，也提高了檢測精度。

技術領域

本實用新型涉及一種用于介電常數測試的裝置，屬于微波輻射測試介電常數裝置技術領域。

背景技術

隨著微波技術的發展，微波在化學、冶金、醫學等學科領域中的應用越來越廣泛。介電常數作為電磁場中描述材料的重要宏觀參數，決定并影響著微波與材料的相互作用，因此，在新形勢交叉學科的挑戰下，對物質介電常數提出了更高的要求。現有技術的介電常數測試裝置當中，以專利公開號：CN 101126778A比較典型，該裝置的不足之處在于：第一，只使用了一塊短路板，降低輻射損耗的效果有限，故此影響了測量精度；第二，被測物的位置調節操作不方便，也不能實現被測物位置的精確調節；第三，被測物置于開放的空間中，天線對外的電磁輻射對檢測結果有影響；第四，其同軸線位置不可調，增加了檢測的不方便，第五，該裝置一端為自由端，對比較小的被測物存在放置不穩的問題。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是：一種用于介電常數測試的裝置，使用兩塊短路板，被測物置于密封的金屬腔中，以解決輻射對測量精度的影響；被測物的位置通過千分尺滑臺進行調節，同時同軸線的位置也可以調節，以解決檢測時因被測物大小不一與耦合環耦合操作不便的問題；另外整個裝置結構牢固，被測物放置穩定，也提高了檢測精度。

本實用新型的技術方案是：一種用于介電常數測試的裝置，包括底座、上金屬板、下金屬板、被測件和矢量網絡分析儀，還包括千分尺滑臺、短路板、同軸線、耦合環和螺旋頂，下金屬板固定在千分尺滑臺上，上金屬板和下金屬板兩側各有一塊短路板，帶耦合環的同軸線穿過短路板與矢量網絡分析儀電連接。

優選的，在短路板上設置有多個調節孔，帶耦合環的同軸線可根據被測物的不同尺寸穿過不同的調節孔與被測物耦合。

優選的，所述千分尺滑臺下表面螺紋連接螺旋頂，螺旋頂下表面與底座接觸，在測試過程中，可通過旋鈕的順時針或逆時針轉動實現千分尺滑臺的垂直方向上的移動，進一步實現不同尺寸被測件的松動或壓緊。

優選的，所述螺旋頂為螺栓結構，由頭部和帶外螺紋的螺桿組成，所述頭部直徑為螺桿直徑的3-5倍，螺旋頂的頭部與底座接觸，頭部面積足夠大以保證千分尺滑臺的穩定性。

上述用于介電常數測試的裝置的使用方法：將被測件放置在下金屬板上，轉動螺旋頂使下金屬板緩慢上升，當被測件的上表面與上金屬板的下表面接觸時停止，將帶耦合環的同軸線從合適的調節孔伸入，使耦合環耦合到被測件上，矢量網絡分析儀的掃頻信號輸入輸出端連接到同軸線上，信號通過同軸線輸入到屏蔽腔內，由耦合環耦合到被測件上，再通過同軸線傳回矢量網絡分析儀。

本實用新型的有益效果是：本實用新型設計的一種用于介電常數測試的裝置，相比現有技術，優勢主要有：

第一，使用兩塊短路板，降低了輻射損耗，提高了測量精度；

第二，被測物的位置通過千分尺滑臺進行調節，千分尺滑臺能夠實現大距離調節和微調，方便快捷，解決了現有技術靠螺釘固定操作不方便的問題；

第三，裝置各部件組成的屏蔽腔為具有軸對稱結構的封閉金屬腔體，減少了現有技術的被測物置于開放空間中天線對外的電磁輻射對檢測結果的影響；

第四，帶耦合環的同軸線可以在調節孔上下移動，可以適應不同尺寸的被測件，是操作更加方便；