[實用新型]一種測量物體體積的裝置

有效

• 申請號: 201721454464.5
• 申請日: 2017-11-03
• 公開（公告）號: CN207600547U
• 公開（公告）日: 2018-07-10
• 發明（設計）人: 何天青;金燕平
• 申請（專利權）人: 常州廣為儀器科技有限公司
• 主分類號: G01F17/00
• 分類號: G01F17/00;G01N15/08
• 代理公司: 北京方韜法業專利代理事務所(普通合伙) 11303
• 代理人: 朱麗華

本實用新型公開了一種測量物體體積的裝置，包括第一測量容器，其包括第一箱體和第一蓋體，第一箱體上開設有第一氣體出口和第一氣體入口，第一氣體出口用于與真空泵連接，第一氣體入口用于為第一測量容器內釋放氣體；第二測量容器用于設置在第一測量容器內，包括第二箱體和第二蓋體，第二箱體上開設有第一氣體通孔，第一氣體通孔通過三通管分別與真空泵和流量計連接，與真空泵連通時實現容器內的真空，與流量計連通時用于向第二測量容器內釋放氣體，三通管上連接有壓力傳感器，用于測量容器內的氣體壓力；封裝氣袋用于封裝待測物體。該裝置結構簡單，成本低，測定準確可靠，能適合各種形狀物體體積測量，應用范圍廣。

技術領域

本實用新型涉及測量物體體積的技術領域，特別是涉及一種測量物體體積的裝置。

背景技術

工農業以及科學實驗等諸多領域都需要測量物體的孔隙率，物體的孔隙通常形狀不規則,而且尺寸大小不一，特別是對多孔隙物體，如果用量規逐一測量每一個孔隙的大小和深度會費時費力.而且很多情況下,物體的孔隙會從表面延伸至內部,其在內部的延伸無論形狀和大小經常和表面孔隙不相關，無法從表面測得或推算。

目前對物體的孔隙率的測量，常采用的是利用阿基米德原理,使用三維激光掃描技術,或者X射線斷層掃描來測量。利用阿基米德原理測量物體體積可測量任意形狀的物體孔隙率，其操作方法是,首先把物體完全浸入水中,得到不含有孔隙的物體的體積.然后把物體的表面孔隙用蠟封住,或是把物體放入塑料袋里,抽出塑料袋里的空氣后,再用熱量溶化塑料袋口(真空封裝),再把蠟密封后的物體或塑料袋密封的物體放入水里測得包含孔隙的物體體積,這兩項體積的差既是物體的孔隙體積。阿基米德原理測量操作簡單，費用低，但是需要把物體浸入水中，對于很多精密的以及不能浸入水中的物體無法使用。而且,阿基米德測量法測量需要配備水箱，體積大，不方便現場使用。

三維激光測量技術的出現和發展為獲取不規則物體的體積提供了全新的技術手段。而具體到體積測定時，三維激光掃描數據處理量大,需要配置內存大和高速CPU計算機，掃描和數據處理時間長。很多時候,使用者只需要知道物體的體積,但三維激光掃描需要先對物體逐點掃描建立物體的三維數字模型,然后才能得到體積，不僅費時而且浪費資源。三維激光掃描對被測物體的表面要求比較高，物體表面如果太暗，太亮，或太粗糙，都會妨礙激光讀取，從而影響測量精度。三維激光掃描對工作環境的要求也比較高，環境必須相對恒溫，沒有灰塵，震動小。在許多工業場所，這些要求往往達不到。另外，三維激光掃描不能用于測量零碎物體，例如一定體積的藥物粉劑，工業粉末，造紙的木屑，建筑上的沙子和碎石的體積(人們常常需要測量零碎物體的體積,從而知道物體放置在一起時的空隙率)。

X射線斷層掃描技術是把物體置于X射線束下，利用斷層掃描技術(CT)來測量物體的表面和內部孔隙。X射線斷層掃描技術可以精確測量物體表面和內部的孔隙率，但是儀器價格昂貴，測量耗時長，并且有輻射劑量，對被測量物體或使用者都可能有不利效果。

由此可見，上述現有的測量物體體積和孔隙率的裝置及方法在結構、方法與使用上，顯然仍存在有不便與缺陷，而亟待加以進一步改進。如何能創設一種新的測量物體體積的裝置，使其能簡單準確的測量物體的表觀體積和實際體積，從而獲得物體的孔隙率，且適用范圍廣，成為當前業界極需改進的目標。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是提供一種測量物體體積的裝置，使其能簡單準確的獲得物體的實際體積和表觀體積，且適用范圍廣，從而克服現有的測量物體體積裝置的不足。

為解決上述技術問題，本實用新型提供一種測量物體體積的裝置，包括第一測量容器、第二測量容器、真空泵、流量計和壓力傳感器，

所述第一測量容器包括第一箱體和與其密封配合的第一蓋體，所述第一箱體上開設有第一氣體出口和第一氣體入口，所述第一氣體出口通過第一真空管與所述真空泵連接，所述第一真空管上設有第一閥門，所述第一氣體入口連接第二真空管，所述第二真空管上設有第二閥門；