[實用新型]一種激光粒度儀樣品窗

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721453609.X
• 申請日: 2017-11-03
• 公開（公告）號: CN207423739U
• 公開（公告）日: 2018-05-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 任中京;李文濤
• 申請（專利權(quán)）人: 濟南微納顆粒儀器股份有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 山東眾成清泰律師事務(wù)所 37257
• 代理人: 牟迅

一種激光粒度儀樣品窗，包括一內(nèi)部設(shè)有空腔的主體，所述主體設(shè)置有進料口和出料口，激光照射方向上主體相對的兩壁分別設(shè)有兩個通光孔，主體空腔內(nèi)部緊貼內(nèi)壁設(shè)有兩個氣幕盒，所述氣幕盒為中空結(jié)構(gòu)且設(shè)有進氣口和出氣口，兩個氣幕盒的出氣口各自分別靠近兩個通光孔，所述通光孔直接與主體的外部相通；由壓縮空氣作為隔離幕，將粉體樣品密封在兩氣幕之間，不會使粉體外溢；沒有增加介質(zhì)諸如玻璃、塑料等，激光直接照射在粉體樣品上，沒有改變測試環(huán)境；結(jié)構(gòu)簡單，運行穩(wěn)定，維護成本低，基本無需清潔。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及一種粉體測試用結(jié)構(gòu)，具體涉及一種激光粒度儀樣品窗。

背景技術(shù)

現(xiàn)有粉體樣品干法測試所用樣品窗大都采用無保護開放式或者全密封的方式，兩種方式各有利弊。無保護開放式優(yōu)點是結(jié)構(gòu)簡單，無需清潔，激光直接照射樣品進行測試，無其他介質(zhì)干擾；缺點是樣品容易通過樣品窗上的開孔外溢，對環(huán)境和其它元器件造成污染。全密閉式優(yōu)點是粉體樣品全部被密封起來，不會外溢。缺點是引入了密封材料如玻璃，測試時激光必須先透過玻璃才能照射到粉體樣品上，散射后的光還得通過玻璃才能照射到探測器上。激光歷經(jīng)兩次玻璃折射，勢必會對樣品測試結(jié)果的信號強度和準(zhǔn)確性產(chǎn)生很大的影響。

發(fā)明內(nèi)容

為解決上述現(xiàn)有技術(shù)干法測試用樣品窗存在的粉體樣品外溢、密封材料影響激光測試等缺陷，本實用新型提供了一種結(jié)構(gòu)簡單，運行穩(wěn)定，維護成本低，基本無需清潔的無保護開放式激光粒度儀樣品窗，有效避免了粉體外溢；樣品窗沒有額外介質(zhì)諸如玻璃、塑料等，激光直接照射在粉體樣品上，沒有改變測試環(huán)境。

本實用新型的技術(shù)方案為：一種激光粒度儀樣品窗，包括一內(nèi)部設(shè)有空腔的主體，所述主體設(shè)置有進料口和出料口，其特征在于：激光照射方向上主體相對的兩壁分別設(shè)有兩個通光孔，主體空腔內(nèi)部緊貼內(nèi)壁設(shè)有兩個氣幕盒，所述氣幕盒為中空結(jié)構(gòu)且設(shè)有進氣口和出氣口，兩個氣幕盒的出氣口各自分別靠近兩個通光孔，所述通光孔直接與主體的外部相通。

進一步的，所述主體為方管狀。

進一步的，為了進一步保證粉體樣品不會溢出，同時保護光學(xué)器件不受污染，主體兩側(cè)的激光粒度儀光學(xué)器件室內(nèi)為正壓。

所述主體空腔內(nèi)設(shè)有由主體進料口延伸到通光孔上方的進料管，所述進料管設(shè)在主體的空腔中部。

進一步的，通光孔為圓形。

進一步的，為了更方便通入壓縮空氣，還包括蓋體、上蓋，蓋體位于主體上方，上蓋位于蓋體上方，上蓋下部緊貼主體與蓋體設(shè)置，主體上端與蓋體和上蓋緊密貼合形成氣室，所述氣室位于氣幕盒進氣口處的蓋體兩端上方，氣室具有進口，所述氣室設(shè)置兩個，氣幕盒的進氣口分別位于兩個氣室內(nèi)。

進一步的，所述氣幕盒的進氣口和出氣口分別向主體的中心擴張。

進一步的，為了滿足往兩側(cè)氣幕盒通入壓縮空氣，進氣口外接氣動快插接頭。

進一步的，所述蓋體為法蘭蓋。

進一步的，所述主體、氣幕盒、蓋體、上蓋、進口均為不銹鋼材質(zhì)。

本實用新型技術(shù)方案具有以下有益效果：

1.本實用新型由壓縮空氣作為隔離幕，將粉體樣品密封在兩氣幕之間，不會使粉體外溢；

2.本實用新型的通光孔沒有額外介質(zhì)諸如玻璃、塑料等，激光還是直接照射在粉體樣品上，沒有改變測試環(huán)境；

3.本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，運行穩(wěn)定，維護成本低，基本無需清潔。

附圖說明

圖1是本實用新型提供的激光粒度儀樣品窗的正面示意圖。

圖2是本實用新型提供的激光粒度儀樣品窗的側(cè)面示意圖。