[實(shí)用新型]樣品臺(tái)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201721395198.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-10-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN207541000U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 唐永炳;蔣春磊;陳光海;石磊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳先進(jìn)技術(shù)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01N23/20025 | 分類號(hào): | G01N23/20025 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 梁香美 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 樣品槽 壓條 母座 樣品臺(tái) 壓緊 橡皮泥 影響測(cè)試結(jié)果 本實(shí)用新型 頂緊裝置 平臺(tái)設(shè)置 樣品保持 樣品放置 樣品位置 樣品支撐 因素影響 頂緊 變形 測(cè)試 保存 保證 | ||
本實(shí)用新型涉及X射線衍射儀技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種樣品臺(tái)。其包括母座、平臺(tái)和至少一根壓條;所述母座內(nèi)設(shè)置有樣品槽;所述平臺(tái)設(shè)置在所述樣品槽內(nèi);所述壓條設(shè)置在所述母座設(shè)置有所述樣品槽的端面上,用于壓緊設(shè)置在所述樣品槽內(nèi)的樣品;所述平臺(tái)遠(yuǎn)離所述壓條的一側(cè)設(shè)置有頂緊裝置,用于將所述平臺(tái)向上頂起,進(jìn)而將所述平臺(tái)上的樣品頂緊。本實(shí)用新型提供的樣品臺(tái),通過(guò)在母座的樣品槽內(nèi)設(shè)置平臺(tái),將樣品放置在平臺(tái)上后,通過(guò)壓條對(duì)樣品保持壓緊,進(jìn)而保存樣品支撐的穩(wěn)定性,進(jìn)而保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性;避免了測(cè)試時(shí)橡皮泥受重力等因素影響變形而使得樣品位置的變化,影響測(cè)試結(jié)果。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及X射線衍射儀技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種樣品臺(tái)。
背景技術(shù)
X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction,XRD)是通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。
XRD設(shè)備的樣品臺(tái)為長(zhǎng)方形玻璃片,在樣品位置有個(gè)方形的凹槽,這種設(shè)計(jì)適用于粉末樣品的裝載。在現(xiàn)有技術(shù)中,XRD用簡(jiǎn)易片狀樣品臺(tái),包括上部開(kāi)口的桶體,桶體內(nèi)部設(shè)有三個(gè)不在同一直線上并帶有內(nèi)螺紋的凹槽,凹槽內(nèi)通過(guò)螺紋連接有豎直設(shè)置的橡皮泥支撐件,橡皮泥支撐件上設(shè)置有橡皮泥團(tuán),橡皮泥團(tuán)上設(shè)置有一塊載玻片,桶體外壁的頂部設(shè)有一轉(zhuǎn)軸,轉(zhuǎn)軸與蓋板連接,蓋板為環(huán)形結(jié)構(gòu),該蓋板包括相互扣合的上蓋板和下蓋板,在上蓋板和下蓋板之間設(shè)置有可更換透明蓋板,該透明蓋板的下表面與下蓋板下表面處于同一平面上,橡皮泥支撐件的下端為圓柱體,上端為圓臺(tái)體,圓柱體橡皮泥支撐件外壁上設(shè)有環(huán)形擋板,使用更加方便、檢測(cè)結(jié)果更加精確的XRD用簡(jiǎn)易片狀樣品臺(tái)。
現(xiàn)有設(shè)計(jì)雖然使用與片或塊狀樣品的XRD的測(cè)試,但是,使用橡皮泥來(lái)支撐樣品,在檢測(cè)過(guò)程中由于重力難免會(huì)有所下降,造成樣品與基準(zhǔn)平面不在同一平面上,檢測(cè)結(jié)果有偏差。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種樣品臺(tái),以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題。
本實(shí)用新型提供的樣品臺(tái),包括母座、平臺(tái)和至少一根壓條;
所述母座內(nèi)設(shè)置有樣品槽;
所述平臺(tái)設(shè)置在所述樣品槽內(nèi);
所述壓條設(shè)置在所述母座設(shè)置有所述樣品槽的端面上,用于壓緊設(shè)置在所述樣品槽內(nèi)的樣品;
所述平臺(tái)遠(yuǎn)離所述壓條的一側(cè)設(shè)置有頂緊裝置,用于將所述平臺(tái)向上頂起,進(jìn)而將所述平臺(tái)上的樣品頂緊。
進(jìn)一步的,所述頂緊裝置包括頂緊螺栓;
所述母座上設(shè)置有至少一個(gè)頂緊孔;
所述頂緊孔為螺紋孔,能夠通過(guò)頂緊螺栓穿過(guò)所述頂緊孔后與所述平臺(tái)相抵。
進(jìn)一步的,所述平臺(tái)遠(yuǎn)離所述壓條的一側(cè)設(shè)置有頂緊槽;
所述頂緊槽與所述頂緊孔相對(duì)應(yīng)設(shè)置;
所述頂緊螺栓能夠插入到所述頂緊槽內(nèi)。
進(jìn)一步的,所述頂緊孔為沉頭孔。
進(jìn)一步的,所述壓條貼緊設(shè)置在所述母座上,用于保證所述平臺(tái)上的樣品靠近所述壓條一側(cè)的表面與所述母座靠近所述壓條一側(cè)的表面平齊。
進(jìn)一步的,所述壓條上設(shè)置有至少一個(gè)固定孔;
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





