[實用新型]用于金屬化半孔光電產品電性能檢測的通用測試治具

有效

• 申請號: 201721391819.0
• 申請日: 2017-10-26
• 公開（公告）號: CN207623421U
• 公開（公告）日: 2018-07-17
• 發明（設計）人: 聶興培;武守坤;陳春;樊廷慧;吳世亮;衛雄;吳軍權
• 申請（專利權）人: 惠州市金百澤電路科技有限公司;深圳市金百澤電子科技股份有限公司;西安金百澤電路科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/073
• 代理公司: 深圳市千納專利代理有限公司 44218
• 代理人: 潘麗君

1.用于金屬化半孔光電產品電性能檢測的通用測試治具，其特征在于：所述通用測試治具為依據金屬化半孔專用測試針進行設計的具有10層纖維板結構的測試治具，具體為與PCB焊盤接觸的為5.0mm厚的第1層纖維板和3.0mm厚的第2層纖維板，第3層至第9層為1.0mm厚的纖維板，第10層為與針床接觸的3.0mm厚的纖維板，所述第1層纖維板和第2層纖維板接觸連接，所述第2層至第10層纖維板為間隔連接，第2層至第9層任意兩相鄰纖維板之間均設有多處第一支撐柱，第9層與第10層纖維板之間設有位置與第一支撐柱相對應的第二支撐柱。

2.根據權利要求1所述的用于金屬化半孔光電產品電性能檢測的通用測試治具，其特征在于：所述第一支撐柱和第二支撐柱均為采用不銹鋼制成的直徑相同的環形柱，所述環形柱的外徑為20mm，所述環形柱的內徑為6mm。

3.根據權利要求2所述的用于金屬化半孔光電產品電性能檢測的通用測試治具，其特征在于：所述第一支撐柱和第二支撐柱的高度不相同，所述第一支撐柱的高度為10mm，所述第二支撐柱的高度為3mm。

4.根據權利要求3所述的用于金屬化半孔光電產品電性能檢測的通用測試治具，其特征在于：所述金屬化半孔治具上按照常規流程插針有金屬化半孔專用測試針，測試針插針后兩端分別伸出治具2.0mm。

5.根據權利要求4所述的用于金屬化半孔光電產品電性能檢測的通用測試治具，其特征在于：所述第1層纖維板的正面和第10層纖維板的反面與第一支撐柱和第二支撐柱相對應處進行沉錐形孔，并通過鑼母在沉錐形孔處將第一支撐柱與第1層纖維板固緊，將第二支撐柱與第10層纖維板固緊。

6.根據權利要求1至5任一項權利要求所述的用于金屬化半孔光電產品電性能檢測的通用測試治具，其特征在于：所述金屬化半孔專用測試針由針頭、針桿和針腳構成，所述針腳直徑以通用測試機針盤彈簧孔的直徑為標準，減小0.5mm～0.2mm進行設計，所述針桿直徑與針腳直徑相同，所述針頭直徑比金屬化半孔直徑大0.1mm或者與金屬化半孔孔環直徑相同，所述針腳、針桿和針頭一起的總長度與通用治具用普通測試針長度相同。

7.根據權利要求6所述的用于金屬化半孔光電產品電性能檢測的通用測試治具，其特征在于：所述針腳直徑為0.5mm～0.8mm，所述針桿直徑與針腳直徑相同。

8.根據權利要求7所述的用于金屬化半孔光電產品電性能檢測的通用測試治具，其特征在于：所述針頭直徑比金屬化半孔直徑大0.1mm或者與金屬化半孔孔環直徑相同。

9.根據權利要求8所述的用于金屬化半孔光電產品電性能檢測的通用測試治具，其特征在于：所述測試針的長度為95mm，其中針頭長度為10mm，針腳和針桿的長度的各為85mm。

10.根據權利要求9所述的用于金屬化半孔光電產品電性能檢測的通用測試治具，其特征在于：所述金屬化半孔專用測試針中的針頭、針桿和針腳采用不銹鋼材料一次成型。