[實(shí)用新型]薄膜的厚度檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721387371.5
• 申請(qǐng)日: 2017-10-24
• 公開（公告）號(hào): CN207395650U
• 公開（公告）日: 2018-05-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 戚務(wù)昌;宋榮鑫;王凱;段平;杜忺峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 威海華菱光電股份有限公司
• 主分類號(hào): G01B7/06
• 分類號(hào): G01B7/06;G07D7/164
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 韓建偉;謝湘寧

本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N薄膜的厚度檢測(cè)裝置。該薄膜的厚度檢測(cè)裝置包括：共通電極單元，包括共通電極以及設(shè)置在共通電極一側(cè)的第一保護(hù)板；檢出電極單元，與共通電極單元在第一方向相對(duì)且間隔設(shè)置，檢出電極單元包括檢出電極、導(dǎo)電層與第二保護(hù)板，第二保護(hù)板設(shè)置在檢出電極的靠近共通電極單元的一側(cè)，導(dǎo)電層設(shè)置在第二保護(hù)板的表面上，第一保護(hù)板與第二保護(hù)板在第一方向上的間隔形成待測(cè)物的檢測(cè)通道，或者第一保護(hù)板與導(dǎo)電層在第一方向上的間隔形成檢測(cè)通道，第一方向與第一保護(hù)板以及第二保護(hù)板的厚度方向平行。導(dǎo)電層可以屏蔽薄膜與第一保護(hù)板及第二保護(hù)板摩擦產(chǎn)生的靜電荷，并且還能屏蔽紙幣本身所攜帶的靜電荷，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及檢測(cè)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種薄膜的厚度檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)

目前，公開的較先進(jìn)的紙幣的厚度檢測(cè)裝置如圖1所示，該厚度檢測(cè)裝置是利用靜電荷感應(yīng)的原理來檢測(cè)紙幣厚度的。該檢測(cè)裝置主要包括共通電極13’、共通電極透明板14’、檢出電極23’以及檢出電極透明板24’。其中，共通電極透明板14’設(shè)置在共通電極13’的靠近檢出電極23’的表面上，檢出電極透明板24’設(shè)置在檢出電極23’的靠近共通電極13’的表面上，檢出電極透明板24’與共通電極透明板14’之間的間隔形成待測(cè)物的檢測(cè)通道(也稱移動(dòng)通道)。共通電極透明板14’用來保護(hù)共通電極13’，檢出電極透明板24’用來保護(hù)檢出電極23’。

上述的厚度檢測(cè)裝置工作時(shí)，在共通電極13’上施加脈沖信號(hào)，檢出電極23’上就會(huì)感應(yīng)出電壓信號(hào)，當(dāng)待檢測(cè)的紙幣從檢出電極23’上方通過時(shí)，檢出電極23’上的電壓就會(huì)發(fā)生變化，電壓的變化大小與所通過物體的性質(zhì)和厚度有關(guān)，進(jìn)而根據(jù)電壓的大小可以得到待測(cè)物的厚度，也能判斷出待測(cè)物的厚度是否異常，其表面是否有異物、缺損或者折疊。

上述的厚度檢測(cè)裝置存在如下問題：當(dāng)紙幣通過厚度檢測(cè)裝置時(shí)，紙幣會(huì)與共通電極透明板14’及檢出電極透明板24’發(fā)生摩擦，從而產(chǎn)生大量的靜電荷，同時(shí)紙幣本身也會(huì)攜帶一定量的靜電荷，這些靜電荷會(huì)對(duì)檢出電極23’上的電壓變化造成干擾，從而影響了厚度檢測(cè)裝置對(duì)紙幣厚度檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

實(shí)用新型內(nèi)容

本申請(qǐng)的主要目的在于提供一種薄膜的厚度檢測(cè)裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中薄膜的厚度檢測(cè)裝置檢測(cè)不準(zhǔn)確的問題。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N薄膜的厚度檢測(cè)裝置，該薄膜的厚度檢測(cè)裝置包括：共通電極單元，包括共通電極以及設(shè)置在上述共通電極一側(cè)的第一保護(hù)板；檢出電極單元，與上述共通電極單元在第一方向相對(duì)且間隔設(shè)置，上述檢出電極單元包括檢出電極、導(dǎo)電層與第二保護(hù)板，上述第二保護(hù)板設(shè)置在上述檢出電極的靠近上述共通電極單元的一側(cè)，上述導(dǎo)電層設(shè)置在上述第二保護(hù)板的表面上，上述第一保護(hù)板與上述第二保護(hù)板在上述第一方向上的間隔形成待測(cè)物的檢測(cè)通道，或者上述第一保護(hù)板與上述導(dǎo)電層在上述第一方向上的間隔形成上述檢測(cè)通道，上述第一方向與上述第一保護(hù)板以及上述第二保護(hù)板的厚度方向平行。

進(jìn)一步地，上述導(dǎo)電層設(shè)置在上述第二保護(hù)板的靠近上述檢出電極的表面上。

進(jìn)一步地，上述導(dǎo)電層包括ITO層、導(dǎo)電膠帶和/或?qū)щ娪湍珜印?/p>

進(jìn)一步地，上述導(dǎo)電層的厚度大于或等于5μm。

進(jìn)一步地，上述厚度檢測(cè)裝置包括多個(gè)上述檢出電極，上述厚度檢測(cè)裝置還包括靜電感應(yīng)芯片，上述靜電感應(yīng)芯片包括多個(gè)上述檢出電極。

進(jìn)一步地，上述共通電極單元還包括：第一框體，與上述第一保護(hù)板形成第一容納空間，上述共通電極設(shè)置在上述第一容納空間中。

進(jìn)一步地，上述共通電極單元還包括：第一線路板，設(shè)置在上述第一容納空間中，且上述共通電極設(shè)置在上述第一線路板的靠近上述第一保護(hù)板的表面上。