[實用新型]一種用于閃爍材料精密測試的設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721367583.7 | 申請日： | 2017-10-23 |
| 公開（公告）號： | CN207336410U | 公開（公告）日： | 2018-05-08 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李中波;唐華純 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海御光新材料科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/227 | 分類號： | G01N23/227 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 201807 上海*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 用于 閃爍 材料 精密 測試 設(shè)備 | ||
1.一種用于閃爍材料精密測試的設(shè)備，其特征在于，包括：
防護箱、測試信號采集處理裝置、光源激發(fā)器、閃爍探測器，光源激發(fā)器、閃爍探測器分別與所述測試信號采集處理裝置相連接，所述光源激發(fā)器設(shè)置在所述防護箱內(nèi)部，所述測試信號采集處理裝置設(shè)置在所述防護箱外部，所述光源激發(fā)器與閃爍探測器相對設(shè)置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述光源激發(fā)器為X射線發(fā)生器,所述X射線發(fā)生器內(nèi)設(shè)置有X射線焦點，通過X射線焦點發(fā)出X射線照射在所述閃爍探測器上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述光源激發(fā)器設(shè)置在所述防護箱底部。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3之一所述的設(shè)備，其特征在于，所述閃爍探測器包括光電轉(zhuǎn)換器、光纖信號采集器、樣品臺，所述樣品臺上容置有閃爍元件，所述光纖信號采集器設(shè)置在所述閃爍元件上方，所述光纖信號采集器與光電轉(zhuǎn)換器相連接，所述光纖信號采集器、樣品臺設(shè)置所述防護箱內(nèi)部，光纖信號采集器設(shè)置在所述防護箱外部，所述光電轉(zhuǎn)換器與測試信號采集處理裝置相連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的設(shè)備，其特征在于，所述光電轉(zhuǎn)換器為電荷耦合器件。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述測試信號采集處理裝置包括信號采集單元及控制單元。
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