[實用新型]手動芯片測試蓋

有效

• 申請號: 201721359603.6
• 申請日: 2017-10-20
• 公開（公告）號: CN207380199U
• 公開（公告）日: 2018-05-18
• 發明（設計）人: 李俊敏;李俊強
• 申請（專利權）人: 東莞市睿輝機電科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 深圳茂達智聯知識產權代理事務所(普通合伙) 44394
• 代理人: 夏龍

本實用新型公開了一種手動芯片測試蓋，包括支撐座、壓頭、掛鉤、基座和調節螺栓，所述支撐座設于基座下方，所述支撐座上設有通孔，所述壓頭設于支撐座的通孔中，所述掛鉤鉸接于基座的側面，所述基座設有調節孔，所述調節孔內設有螺紋，所述調節螺栓與調節孔內的螺紋配合，所述壓頭彈性固定于基座的下部，所述調節螺栓的下部抵接壓頭。本實用新型提供的手動芯片測試蓋，可測試不同厚度的芯片，準確率高。

技術領域

本實用新型涉及芯片測試技術領域，具體地說，涉及一種用于手動芯片測試座的手動芯片測試蓋。

背景技術

在現有的芯片測試行業中，一般都是用芯片測試儀進行芯片各項功能的測試。在芯片的生產測試過程中，為了方便每個被測試芯片的每一個管腳與測試儀器實現簡單、快捷、準確、高效的連接，通常需要用測試座作為連接媒介；這樣的方式實現測試儀與被測芯片的連接，不僅提高生產效率，還提高測試精度。

由于適應大批量生產的自動化芯片測試座成本較高，在檢測規模較小、或減少企業投資時需要使用手動測試座。

中國專利文獻CN202471762U公開一種手動芯片測試座，包括底座和上蓋，上蓋連接于底座上，底座上設有空腔，空腔底部設有與電路板相連的下針模，下針模上設有針孔用于安裝彈簧探針，下針模上方設有上針模，上針模上設有針孔用于安裝彈簧探針，上針模和下針模之間裝有雙頭彈簧探針，通過下壓上蓋，使得放置于底座浮板上的待測芯片下降，壓縮彈簧探針，使得待測芯片的管腳與底座針模的探針相接觸，實現芯片管腳與電路板測試盤之間的良好的電性能導通，實現芯片的手動測試。然而，不同芯片的厚度不同，雖然彈簧探針具有一定的伸縮，不同厚度的芯片在該手動芯片測試座上被壓的過緊或過松，會影響其測試準度。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種手動芯片測試蓋，可測試不同厚度的芯片，準確率高。

本實用新型公開的手動芯片測試蓋所采用的技術方案是:

一種手動芯片測試蓋，包括支撐座、壓頭、掛鉤、基座和調節螺栓，所述支撐座設于基座下方，所述支撐座上設有通孔，所述壓頭設于支撐座的通孔中，所述掛鉤鉸接于基座的側面，所述基座設有調節孔，所述調節孔內設有螺紋，所述調節螺栓與調節孔內的螺紋配合，所述壓頭彈性固定于基座的下部，所述調節螺栓的下部抵接壓頭。

作為優選方案，手動芯片測試蓋還包括散熱件，所述散熱件包括散熱板和若干散熱片，所述散熱片設于散熱板上，所述散熱板設于壓頭上，所述調節螺栓中部設有散熱孔，所述散熱片穿過散熱孔。

作為優選方案，手動芯片測試蓋還包括散熱扇，所述散熱扇設于調節螺栓上，位于調節螺栓上方。

作為優選方案，所述調節螺栓包括旋鈕和螺紋部，所述螺紋部固定于旋鈕上，位于旋鈕下方，所述螺紋部設于調節孔中，所述旋鈕設于基座上方，所述螺紋部設有下散熱孔，所述旋鈕設有上散熱孔，所述散熱片穿過下散熱孔和上散熱孔。

作為優選方案，所述壓頭包括壓接件和壓塊，所述壓接塊與壓塊固定連接，所述壓塊上設有過孔，所述散熱板設于壓接件上，位于壓接件和壓塊之間，所述散熱片穿過過孔，所述壓塊彈性固定于基座的下部。

作為優選方案，所述散熱板下方設有對位凸部，所述壓接件上設有對位孔，所述對位凸部設于對位孔中。

作為優選方案，所述散熱板上設有彈性件孔，所述彈性件孔中設有彈性件，所述彈性件的一端抵住壓塊。

作為優選方案，所述壓塊和基座通過鎖緊件固定，所述鎖緊件上套設彈簧。