[實用新型]電子封裝外殼介質耐壓測試夾具

有效

• 申請號: 201721352879.1
• 申請日: 2017-10-20
• 公開（公告）號: CN207752094U
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發明（設計）人: 潘春美;鐘智楠
• 申請（專利權）人: 宜興市吉泰電子有限公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01R1/04
• 代理公司: 無錫大揚專利事務所(普通合伙) 32248
• 代理人: 楊青

本實用新型涉及電子元器件加工裝置，特別涉及電子封裝外殼介質耐壓測試夾具，包括底座，底座上方一側固定安裝有定位塊，另一側活動安裝有推塊，所述的推塊運動方向為遠離或者靠近定位塊的工作端面，推塊將扁平引線頂靠在定位塊的工作端面上；底座上還安裝有轉軸，轉軸平行于定位塊的工作端面，轉軸兩端分別連接扳手，所述的扳手之間固定安裝有壓板；所述的壓板位于定位塊的工作端面上方。本實用新型提供的電子封裝外殼介質耐壓測試夾具，一次測試一排引線與殼體間的介質耐壓，操作簡單，節約時間；且測試時引線端面與彈簧片緊密接觸，不易斷路，引線金層不易劃傷。

技術領域

本實用新型涉及電子元器件加工裝置，特別涉及電子封裝外殼介質耐壓測試夾具。

背景技術

在電子封裝用扁平式金屬外殼中有小部分產品，需根據用戶的特殊要求，在特定的環境濕度與時間下，對殼體與引線間施加指定的交流或直流電壓，從而測試殼體與引線之間的介質耐壓是否滿足要求。

手動操作一只測試筆與殼體接觸，另一只測試筆與引線接觸，通電導通，在一定的時間內介質能承受電壓而不被擊穿，每次只能測試單根引線與殼體間的介質耐壓，而一個產品通常有多根引線，綜合以上現象存在下列不足之處：

1.一次只能測試一根引線與殼體間的介質耐壓，而一個殼體上有多根引線，測試時間長，比較耗時。

2.由于引線直徑比較小，測試時，測試筆與引線接觸面積就小，容易滑落而斷開；

3.測試筆與引線接觸不當，容易造成引線金層劃傷。

實用新型內容

本實用新型提供一種受力均勻、合格率高扁平引線的折彎夾具。

具體的技術方案為：

扁平引線的折彎夾具，包括底座，底座上方一側固定安裝有定位塊，另一側活動安裝有推塊，所述的推塊運動方向為遠離或者靠近定位塊的工作端面，推塊將扁平引線頂靠在定位塊的工作端面上；底座上還安裝有轉軸，轉軸平行于定位塊的工作端面，轉軸兩端分別連接扳手，所述的扳手之間固定安裝有壓板；所述的壓板位于定位塊的工作端面上方。

所述的定位塊的工作端面上還設置有銷釘，所述的推塊朝向定位塊工作端面的一側設置有通孔，銷釘另一端插入在通孔內，對推塊進行導向并限位。

本實用新型提供的電子封裝外殼介質耐壓測試夾具，具有以下技術有點：

1.利用夾具，可以一次測試一排引線與殼體間的介質耐壓，省時省力；

2.殼體固定在夾具上，使引線直接與測試夾具上的彈簧片接觸，不容易斷開；

本實用新型提供的電子封裝外殼介質耐壓測試夾具，只需把被測殼體的一排引線先與彈簧片接觸，使殼體固定進定位塊內，一只測試筆接觸殼體，另一只測試筆直接放在夾具的導向孔里通過螺絲與引線接觸，打開電源開關，開始測試；可以一次測試一排引線與殼體間的介質耐壓，操作簡單，節約時間；且測試時引線端面與彈簧片緊密接觸，不易斷路，引線金層不易劃傷。

附圖說明

圖1是本實用新型的剖面結構示意圖；

圖2是本實用新型的俯視結構示意圖；

圖3是本實用新型的使用狀態側視結構示意圖。

具體實施方式

結合實施例說明本實用新型的具體實施方式。