[實用新型]電子天平密度測量套件裝置

有效

• 申請號: 201721348127.8
• 申請日: 2017-10-18
• 公開（公告）號: CN207882104U
• 公開（公告）日: 2018-09-18
• 發明（設計）人: 崔歡
• 申請（專利權）人: 賽多利斯科學儀器（北京）有限公司
• 主分類號: G01N9/00
• 分類號: G01N9/00
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 岳永先;王亞男

1.一種電子天平密度測量套件裝置，其特征在于，包括：

支撐架(1)，該支撐架(1)為具有對稱中心線的軸對稱結構且底端連接于電子天平的秤盤座上，并連接為使得該支撐架(1)的重心以及所述電子天平的稱量中心均位于該支撐架(1)的所述對稱中心線上；

樣品放置機構(2)和/或浮力機構(6)，該樣品放置機構(2)和/或浮力機構(6)設置于所述支撐架(1)上，并沿所述支撐架(1)的所述對稱中心線朝向該支撐架(1)的底端延伸；以及，

燒杯支架(3)，該燒杯支架(3)支撐于所述電子天平的面板上，且該燒杯支架(3)與所述支撐架(1)之間具有間隙。

2.根據權利要求1所述的電子天平密度測量套件裝置，其特征在于，所述支撐架(1)和樣品放置機構(2)和/或浮力機構(6)能夠導電，其中，所述支撐架(1)的底端通過連接頭(101)連接于所述秤盤座上，所述連接頭(101)采用非金屬材料制成并能夠利用萬用表測得電阻值。

3.根據權利要求2所述的電子天平密度測量套件裝置，其特征在于，所述支撐架(1)包括連接至所述連接頭(101)的若干條支撐臂(12)。

4.根據權利要求2所述的電子天平密度測量套件裝置，其特征在于，所述支撐臂(12)的橫截面為圓形。

5.根據權利要求3所述的電子天平密度測量套件裝置，其特征在于，所述支撐臂(12)連接有支撐件(102)，該支撐件(102)具有通孔，所述樣品放置機構(2)和/或浮力機構(6)支撐于該支撐件(102)上并穿過所述通孔延伸。

6.根據權利要求5所述的電子天平密度測量套件裝置，其特征在于，所述樣品放置機構(2)和/或浮力機構(6)包括用于支撐于所述支撐件(102)上的安裝蓋(21)和連接于該安裝蓋(21)下側的浮子或樣品托盤。

7.根據權利要求6所述的電子天平密度測量套件裝置，其特征在于，所述安裝蓋(21)包括第一蓋體和設置于該第一蓋體下端的第二蓋體，所述第一蓋體或第二蓋體支撐于所述支撐件(102)上，并使得所述第二蓋體的外周與所述通孔的內周相配合。

8.根據權利要求6所述的電子天平密度測量套件裝置，其特征在于，所述浮子包括浮子本體(64)，所述浮子本體(64)為玻璃浮子，體積為10±0.01立方厘米。

9.根據權利要求1至8中任一項所述的電子天平密度測量套件裝置，其特征在于，還包括不同規格的燒杯(4)，所述燒杯(4)放置于所述燒杯支架(3)上并使得所述樣品放置機構(2)和/或浮力機構(6)延伸至該燒杯(4)內。

10.根據權利要求9所述的電子天平密度測量套件裝置，其特征在于，該電子天平密度測量附件裝置還包括溫度計(5)和夾子，所述溫度計(5)為非直線結構，并通過所述夾子夾設于所述燒杯(4)上。