[實(shí)用新型]貼片式電阻檢測系統(tǒng)及包含該檢測系統(tǒng)的生產(chǎn)設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721302252.5
• 申請日: 2017-10-09
• 公開（公告）號: CN207497658U
• 公開（公告）日: 2018-06-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張健;溫子松;吳建萬
• 申請（專利權(quán)）人: 惠州市大容電子科技有限公司
• 主分類號: B65G47/91
• 分類號: B65G47/91;B65G29/00;B65G43/08;B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 廣州市華學(xué)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245
• 代理人: 葉敏明

1.一種檢測系統(tǒng)，其特征在于，用于對貼片式電阻進(jìn)行檢測，包括：運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤、頂部檢測裝置、底部檢測裝置、側(cè)部檢測裝置，所述頂部檢測裝置、所述底部檢測裝置、所述側(cè)部檢測裝置依次環(huán)繞于所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤設(shè)置；

所述頂部檢測裝置用于對所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤上的貼片式電阻的頂部進(jìn)行CCD檢測，所述底部檢測裝置用于對所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤上的貼片式電阻的底部進(jìn)行CCD檢測，所述側(cè)部檢測裝置用于對所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤上的貼片式電阻的側(cè)部進(jìn)行CCD檢測。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤上設(shè)有固定治具，所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤上開設(shè)有與所述固定治具對應(yīng)的底部檢測通孔；

所述頂部檢測裝置包括：頂部檢測支撐架、頂部檢測CCD、頂部檢測光源，所述頂部檢測CCD及所述頂部檢測光源沿豎直方向可調(diào)節(jié)固定于所述頂部檢測支撐架上，所述頂部檢測CCD及所述頂部檢測光源位于所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤的正上方；

所述底部檢測裝置包括：底部檢測支撐架、底部檢測CCD、底部檢測光源，所述底部檢測CCD及所述底部檢測光源沿豎直方向可調(diào)節(jié)固定于所述底部檢測支撐架上，所述底部檢測CCD及所述底部檢測光源位于所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤的正下方；

所述側(cè)部檢測裝置包括：側(cè)部檢測支撐架、側(cè)部檢測CCD、側(cè)部檢測光源，所述側(cè)部檢測CCD及所述側(cè)部檢測光源沿水平方向可調(diào)節(jié)固定于所述側(cè)部檢測支撐架上，所述側(cè)部檢測CCD及所述側(cè)部檢測光源位于所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤的側(cè)面。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述固定治具的數(shù)量為多個(gè)，多個(gè)所述固定治具以所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動軸為中心呈環(huán)形陣列分布。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述頂部檢測CCD遠(yuǎn)離所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤設(shè)置，所述頂部檢測光源靠近所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤設(shè)置。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述底部檢測CCD遠(yuǎn)離所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤設(shè)置，所述底部檢測光源靠近所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤設(shè)置。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述側(cè)部檢測CCD遠(yuǎn)離所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤設(shè)置，所述側(cè)部檢測光源靠近所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤設(shè)置。

7.一種生產(chǎn)設(shè)備，包括權(quán)利要求1至6中任意一項(xiàng)所述的檢測系統(tǒng)，還包括上下料系統(tǒng)，所述上下料系統(tǒng)包括上料裝置及下料裝置，所述上料裝置用于將貼片式電阻上料于所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤中，所述下料裝置用于將所述運(yùn)輸轉(zhuǎn)盤中的貼片式電阻進(jìn)行下料。