[實用新型]一種可熱插拔測試工裝電路

有效

• 申請號: 201721270166.0
• 申請日: 2017-09-29
• 公開（公告）號: CN207232329U
• 公開（公告）日: 2018-04-13
• 發明（設計）人: 鐘順時;曾祥孔;柳彬;柏瀾;盛超;皇豐輝;張曉明;趙偉
• 申請（專利權）人: 武漢華海通用電氣有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙)42224
• 代理人: 方可

技術領域

本實用新型電路測試技術領域，更具體地，涉及一種可熱插拔測試工裝電路。

背景技術

對電路板進行批量單板測試時，需要根據電路板的電路特性制作測試裝置，以提高測試效率。對于測試裝置，需要與單板進行頻繁拔插。測試裝置一般包括電源信號、輸入信號、輸出信號、通信信號，根據是否可帶電操作將測試工裝分為可熱插拔工裝和不可熱插拔工裝。對于需要頻繁拔插的測試工裝，熱插拔性能影響單板測試的效率和穩定性，并且，熱插拔過程中的靜電問題和浪涌問題可能對器件造成損壞。

目前測試工裝操作過程是在斷電狀態下做接口對接，在測試環境確定后再進行測試操作；測試效率低，且對整個測試設備斷電、上電的過程增大電能損耗。另一方面，現有測試工裝的熱插拔電路一般采用插入識別電路和拔出識別電路，插入時對信號進行軟開通，拔出時對信號進行軟關斷，只對信號進行緩沖處理，對于上電前狀態無法判斷，在插錯或故障情況下無法進行識別和保護，易造成器件損壞。

實用新型內容

針對現有技術的以上缺陷或改進需求，本實用新型提供了一種可熱插拔測試工裝電路，其目的在于解決現有測試工裝電路在待測板卡熱插拔過程中易造成器件損壞的問題。

為實現上述目的，按照本實用新型的一個方面，提供了一種可熱插拔測試工裝電路，包括微控制(Microcontroller Unit；MCU)單元、輸入射隨電路、輸出射隨電路、靜電防護(Electro-Static discharge；ESD)通信電路、電源切換電路、接口識別電路和對外接口電路；

其中，輸入射隨電路、輸出射隨電路、ESD通信電路、電源切換電路、接口識別電路的一端與MCU單元相連，另一端與對外接口電路相連；

MCU單元用于提供GPIO接口、實現AD轉換和DA轉換；

輸入射隨電路用于吸收輸入模擬量信號中的高頻干擾信號，增加信號的輸入阻抗，防止熱插拔或外部干擾引入的尖峰電壓信號損壞MCU單元；

輸出射隨電路用于阻抗匹配，提高MCU單元的帶負載能力，并通過模擬開關芯片實時監控輸出模擬量狀態；

ESD通信電路用于提供隔離通信功能，并利用ADM3251或其他隔離通信模塊的靜電防護功能在熱插拔過程對器件進行保護；

電源切換電路用于對輸入電源進行濾波及電壓變換，以便不同電路供電需求，并可通過三極管驅動繼電器控制電源的投切控制；

接口識別電路用于對配置不同的連接對象通過接口進行識別，以便在熱插拔過程中快速識別出連接對象并判斷是否投切電源。

優選的，上述的可熱插拔測試工裝電路，其MCU單元采用單片機或數字處理器實現。

優選的，上述的可熱插拔測試工裝電路，其輸入射隨電路包括依次相連的高頻吸收電路、分壓電路和射隨電路；

其中，高頻吸收電路用于對輸入的信號進行濾波，吸收輸入模擬量中的高頻干擾信號；

分壓電路用于對高頻吸收電路輸出的信號進行分壓處理，使輸入信號滿足MCU單元輸入電平范圍要求；

射隨電路用于對分壓電路輸出的信號進行緩沖，減小熱插拔過程中電路間直接連接帶來的影響。

優選的，上述的可熱插拔測試工裝電路，其輸出射隨電路包括依次連接的射隨電路和選通電路；

其中，射隨電路用于阻抗匹配，提高MCU的帶負載能力；

選通電路用于實時監控輸出模擬量狀態，并用于根據輸出模擬量狀態進行實時選通控制。

優選的，上述的可熱插拔測試工裝電路，其ESD通信電路包含依次連接的RS232通信電路和CAN通信電路；

其中，RS232通信電路用于對待測板卡的RS232串口的通信功能進行測試，模擬待測板卡需要發送或接收的電壓、電流、開關機及故障等信號；

CAN通信電路用于待測板卡中含CAN通信的功能性測試，模擬待測板卡需要發送或接收的電壓、電流、開關機及故障等信號。

優選的，上述的可熱插拔測試工裝電路，其電源切換電路包括繼電器控制電路、輸入濾波電路、數字電源轉換電路和模擬電源轉換電路；

其中，濾波電路的輸入端用于接入電源信號，濾波電路的輸出端分別與繼電器控制電路、數字電源轉換電路、模擬電源轉換電路相連；

繼電器控制電路用于控制模擬電源的投切；

輸入濾波電路用于吸收輸入電源中的高頻干擾信號；

數字電源轉換電路用于給MCU單元提供電源；

模擬電源轉換電路用于給運算放大器、模擬開關芯片等外圍電路提供電源。