[實用新型]建筑工程質量檢測器垂直度檢測尺校準裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721260739.1
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN207180575U
• 公開（公告）日: 2018-04-03
• 發(fā)明（設計）人: 金靜霞;王濤;楊莉;夏建平;鄒榮;向驍
• 申請（專利權）人: 湖北省計量測試技術研究院
• 主分類號: G01B5/245
• 分類號: G01B5/245
• 代理公司: 武漢維創(chuàng)品智專利代理事務所(特殊普通合伙)42239
• 代理人: 余麗霞

1.一種建筑工程質量檢測器垂直度檢測尺校準裝置，包括底座(6)，所述底座(6)下底面設置有兩個或以上支撐腳(7)，其特征在于：所述底座(6)上豎立設置有立柱(3)，所述立柱(3)頂部設置有用于夾持檢測尺的上端夾持組件(2)，所述立柱(3)底部一側設置有工作臺升降組件(5)，所述工作臺升降組件(5)位于底座(6)上，所述工作臺升降組件(5)上設置有微分頭夾座(8)，所述微分頭夾座(8)一端固定設置有數(shù)顯微分頭(1)，所述微分頭夾座(8)另一端固定設置有頂尺組件(4)。

2.根據(jù)權利要求1所述的建筑工程質量檢測器垂直度檢測尺校準裝置，其特征在于：所述上端夾持組件(2)包括被檢尺固定套筒(2.1)和裝置頂部固定架(2.2)，所述被檢尺固定套筒(2.1)兩側各有一個旋轉緊固軸(2.1.1)，所述裝置頂部固定架(2.2)兩側各有一個V形槽(2.2.1)，所述旋轉緊固軸(2.1.1)固定設置在V形槽(2.2.1)的一個側面。

3.根據(jù)權利要求1或2所述的建筑工程質量檢測器垂直度檢測尺校準裝置，其特征在于：所述立柱(3)為大理石立柱，所述立柱(3)上設置有隔間布置的孔(3.1)。

4.根據(jù)權利要求1或2所述的建筑工程質量檢測器垂直度檢測尺校準裝置，其特征在于：所述立柱(3)兩側面平面度＜0.005mm。