[實用新型]液晶玻璃基板研磨幅粗糙度輔助測量裝置和測量系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721246186.4
• 申請日: 2017-09-26
• 公開（公告）號: CN207163391U
• 公開（公告）日: 2018-03-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張北斗;李兆廷;石志強;李震;李俊生
• 申請（專利權(quán)）人: 蕪湖東旭光電科技有限公司;東旭光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01B5/28
• 分類號: G01B5/28
• 代理公司: 北京英創(chuàng)嘉友知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11447
• 代理人: 鄭永勝,陳慶超

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及液晶玻璃基板技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種液晶玻璃基板研磨幅粗糙度輔助測量裝置和測量系統(tǒng)。

背景技術(shù)

研磨幅粗糙度是評價研磨及研磨幅拋光質(zhì)量的一項重要指標，傳統(tǒng)研磨幅粗糙度測量采用橡皮泥或燕尾夾對玻璃樣品進行固定，玻璃樣品與粗糙度測量儀載物臺的垂直情況、以及玻璃樣品放置的位置很難把控，全靠個人經(jīng)驗。

實用新型內(nèi)容

本公開的目的是提供一種簡單高效的液晶玻璃基板研磨幅粗糙度輔助測量裝置和測量系統(tǒng)。

為了實現(xiàn)上述目的，本公開提供一種液晶玻璃基板研磨幅粗糙度輔助測量裝置，其特征在于，所述裝置包括基座、玻璃基板固定板和玻璃基板高度限位塊，所述基座上設(shè)置有用于將基座固定在粗糙度測量儀的載物臺上的固定機構(gòu)，所述玻璃基板固定板為間隔設(shè)置的兩塊且沿高度方向垂直于所述基座，兩塊所述玻璃基板固定板中沿高度方向貫穿有用于固定同一塊玻璃基板的卡槽，所述玻璃基板固定板的側(cè)面設(shè)置有緊固插入所述卡槽中的玻璃基板的緊固件，所述玻璃基板高度限位塊為兩塊且通過開口分別設(shè)置在一塊玻璃基板固定板的上方。

可選的，所述玻璃基板高度限位塊為U形結(jié)構(gòu)，所述玻璃基板固定板的頂部插入所述U形結(jié)構(gòu)的開口中并與所述U形結(jié)構(gòu)相抵頂。

可選的，所述固定機構(gòu)包括由上至下貫穿所述基座的內(nèi)螺紋孔和與所述內(nèi)螺紋孔相匹配的螺栓。

可選的，所述固定機構(gòu)為四個且兩兩分布于所述玻璃基板固定板中固定的玻璃基板的兩側(cè)。

可選的，所述緊固件為梅花緊固螺釘。

可選的，所述玻璃基板高度限位塊開口中的內(nèi)側(cè)面和玻璃基板固定板的外側(cè)面中的一者設(shè)置有條形凹槽，另一者設(shè)置有與所述條形凹槽相匹配的條形凸起，該條形凹槽和條形凸起沿垂直于高度方向延伸。

可選的，所述卡槽的寬度為1.5-3mm，高度為40-60mm，長度為15-30mm。

可選的，兩個玻璃基板固定板的距離為100-150mm。

本公開還提供一種液晶玻璃基板研磨幅粗糙度測量系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括本公開所提供的裝置和粗糙度測量儀。

本公開的研磨幅粗糙度輔助測量裝置是利用粗糙度測量儀對玻璃基板進行固定，實現(xiàn)了玻璃基板與粗糙度測量儀載物臺的垂直固定、玻璃基板放置位置固定和玻璃基板頂面的水平設(shè)置，從而能夠簡單快速地使玻璃基板滿足研磨幅粗糙度測量要求，減少了測量人員經(jīng)驗對測量結(jié)果的影響，使測量系統(tǒng)更加可靠、科學(xué)，提高了測量數(shù)據(jù)的準確性，提升了工作效率。

本公開的其他特征和優(yōu)點將在隨后的具體實施方式部分予以詳細說明。

附圖說明

附圖是用來提供對本公開的進一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與下面的具體實施方式一起用于解釋本公開，但并不構(gòu)成對本公開的限制。在附圖中：

圖1是本公開提供的研磨幅粗糙度輔助測量裝置一種具體實施方式的結(jié)構(gòu)示意圖(正視圖)。

圖2是本公開提供的研磨幅粗糙度輔助測量裝置一種具體實施方式的結(jié)構(gòu)示意圖(側(cè)視圖)。

圖3是本公開提供的研磨幅粗糙度輔助測量裝置一種具體實施方式的結(jié)構(gòu)示意圖(側(cè)視圖)。

圖4是本公開提供的研磨幅粗糙度輔助測量裝置一種具體實施方式的結(jié)構(gòu)示意圖(俯視圖)。

附圖標記說明

1基座 2固定機構(gòu) 3玻璃基板

4玻璃基板固定板 41卡槽5玻璃基板高度限位塊

6緊固件

具體實施方式

以下結(jié)合附圖對本公開的具體實施方式進行詳細說明。應(yīng)當理解的是，此處所描述的具體實施方式僅用于說明和解釋本公開，并不用于限制本公開。

在本公開中，在未作相反說明的情況下，使用的方位詞如“上、下、底、頂”通常是在本公開實施方式提供的研磨幅粗糙度輔助測量裝置工作的情況下定義的，具體地可參考圖1的圖面方向。

如圖1-4所示，本公開提供一種液晶玻璃基板研磨幅粗糙度輔助測量裝置，所述裝置包括基座1、玻璃基板固定板4和玻璃基板高度限位塊5，所述基座1上設(shè)置有用于將基座1固定在粗糙度測量儀的載物臺上的固定機構(gòu)2，所述玻璃基板固定板4為間隔設(shè)置的兩塊且沿高度方向垂直于所述基座1，兩塊所述玻璃基板固定板4中沿高度方向貫穿有用于固定同一塊玻璃基板3的卡槽41，所述玻璃基板固定板4的側(cè)面設(shè)置有緊固插入所述卡槽41中的玻璃基板的緊固件6，所述玻璃基板高度限位塊5為兩塊且通過開口分別設(shè)置在一塊玻璃基板固定板4的上方。

本公開提供的輔助測量裝置使用方式如下：