[實用新型]K波段微波物位計標定裝置

有效

• 申請號: 201721244814.5
• 申請日: 2017-09-26
• 公開（公告）號: CN207180827U
• 公開（公告）日: 2018-04-03
• 發明（設計）人: 趙國成
• 申請（專利權）人: 上海妙聲力儀表有限公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 上海精晟知識產權代理有限公司31253
• 代理人: 吳慶

1.K波段微波物位計標定裝置，包括支架，其特征在于：在所述支架上設有多個相互連接的圓柱形標定管段；在所述標定管段內壁設有用于吸收微波的吸波圈；在相鄰的標定管段連接處設有供鏡面反射板插入的插板槽；在所述標定管段的兩端設有前擋板和第一反射板；在所述前擋板外設有用于標定產品的裝配板；在該裝配板上開設有用于激光測距的測試孔；所述反射板上開設有定位孔，并可以利用反射板的孔來定位及判斷反射板的準直程度。

2.根據權利要求1所述的K波段微波物位計標定裝置，其特征在于：所述前擋板上設有一與所述反射板結構相似的通口。

3.根據權利要求2所述的K波段微波物位計標定裝置，其特征在于：所述裝配板的一側設有與所述通口重合的缺口。

4.根據權利要求1所述的K波段微波物位計標定裝置，其特征在于：所述標定管段的總長度為15m～30m。

5.根據權利要求4所述的K波段微波物位計標定裝置，其特征在于：所述各個標定管段直徑為0.3m～3m，各段的長度為1m～5m。

6.根據權利要求1所述的K波段微波物位計標定裝置，其特征在于：所述吸波圈的厚度為0.05～0.5m。