[實用新型]運算放大電路以及放大電路的測試設備

有效

• 申請號: 201721183440.0
• 申請日: 2017-09-14
• 公開（公告）號: CN207691761U
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: 羅國發
• 申請（專利權）人: 深圳和而泰智能控制股份有限公司
• 主分類號: H03F1/34
• 分類號: H03F1/34;H03F3/70;G01R31/28;G05B19/042
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

本實用新型公開一種運算放大電路以及放大電路的測試設備。所述放大電路的測試設備用于測試第一放大電路的功能，所述第一放大電路包括運算放大器和反饋電路；所述放大電路的測試設備包括控制器、放大倍數衰減電路及連接于所述放大倍數衰減電路兩端的接頭。本實用新型技術方案通過設置放大倍數衰減電路，并通過使所述放大倍數衰減電路并聯于第一放大電路的反饋電路的兩端，以形成第二放大電路，由于第二放大電路的放大倍數低于第一放大電路的放大倍數，進而能夠在滿足MCU檢測量程的前提下，使得MCU不需要輸出過小幅值的測試信號，就能夠滿足測試要求，進而能夠實現利用MCU對高倍放大電路進行自動化測試的目的。

技術領域

本實用新型涉及放大電路測試領域，特別涉及一種運算放大電路以及放大電路的測試設備。

背景技術

運算放大器(簡稱“運放”)是具有很高放大倍數的電路單元。在實際電路中，通常結合反饋電路共同組成某種功能模塊。它是一種帶有特殊耦合電路及反饋的放大器。其輸出信號可以是輸入信號加、減或微分、積分等數學運算的結果。

對于含有運放的放大電路，如果要測試該放大電路的功能，實驗室或研發時的做法是采用一個信號源做輸入，然后在輸出端用示波器查看波形的頻率和幅度是否正確。但是這種方法用在生產線上具有以下問題：1、產線工人知識水平有限，信號發生器和示波器的操作較為復雜，工人操作困難；2、用人工的方式來做運放電路的功能測試，測試時間長，且容易出現誤操作，造成檢測效率低下。

為解決這個問題，有些工廠采用了自動的測試方法；考慮到使用了運算放大電路的PCB上一般都會具有MCU，MCU內部集成了A/D和D/A模塊。因此利用MCU的D/A功能輸出正弦波作為運放電路的輸入，信號經過運放電路后再回到MCU的A/D采集端，由MCU去判斷波形的幅度和頻率，以此來檢測運放電路的功能是否正常。

這種測試運放電路解決了人工測試時的問題，但是對于電荷放大電路和高放大倍數的多級運放電路的測試上就體現出了局限性。因為這兩種電路的放大倍數都很大，比如5000倍。MCU一般是3.3V系統或5V系統，以5V系統為例，其A/D模塊的最大量程是5V；如果電路正常，就能把1mV的信號放大5000 倍，變成5V，達到了最大量程，那么這就要求MCU的D/A模塊要輸出1mV以下的正弦波，但是MCU無法輸出如此低幅度的波形，因此，無法針對電荷放大電路和高放大倍數的多級運放電路進行自動測試。

實用新型內容

本實用新型的主要目的是提出一種運算放大電路以及放大電路的測試設備，旨在通過降低待測放大電路的放大倍數，以對高倍數放大電路實現自動測試。

為實現上述目的，本實用新型提出的一種運算放大電路，該運算放大電路包括第一放大電路、放大倍數衰減電路；所述第一放大電路包括運算放大器和反饋電路；所述運算放大器的正向端或反向端為所述第一放大電路的信號輸入端，所述運算放大器的輸出端為所述第一放大電路的信號輸出端；

所述反饋電路的輸入端與所述運算放大器的輸出端連接，所述反饋電路的輸出端與所述運算放大器的反向端連接；

所述放大倍數衰減電路與所述反饋電路并聯，且所述放大倍數衰減電路與所述第一放大電路共同形成第二放大電路，以使所述第二放大電路的放大倍數小于所述第一放大電路的放大倍數。

優選地，所述反饋電路包括第一電阻，所述放大倍數衰減電路包括第二電阻；

所述第一電阻的第一端、第二電阻的第一端、以及運算放大器的反向端互連，所述第一電阻的第二端、第二電阻的第二端、以及運算放大器的輸出端互連。

優選地，所述第一放大電路為帶選頻特性的正向放大電路，所述反饋電路包括第三電阻、第一電容；所述第一放大電路還包括第四電阻、第二電容；所述放大倍數衰減電路包括第五電阻、第三電容；