[實用新型]一種二極管的檢測電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721176330.1
• 申請日: 2017-09-13
• 公開（公告）號: CN207352121U
• 公開（公告）日: 2018-05-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李剛;王士龍
• 申請（專利權(quán)）人: 東莞訊滔電子有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種二極管檢測電路，該檢測電路包括至少一個二極管檢測端、正向特性測試模塊、反向特性測試模塊、第一開關(guān)模塊、以及處理器，通過將待測的二極管電連接于二極管檢測端，由處理器發(fā)出第一控制信號，控制第一開關(guān)模塊選擇正向特性測試模塊或反向特性測試模塊，對待測二極管的正向?qū)娫椿蚍聪驅(qū)妷哼M行檢測，并將檢測結(jié)果輸入處理器，以供處理器進行分析。本實用新型實施例提供的二極管檢測電路能夠分別對待測二極管的正向?qū)娫春头聪驅(qū)妷哼M行檢測，從而減少了測試流程，增加了測試速度，提高了測試效率，能夠達到電子元器件高效生產(chǎn)與檢測。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型實施例涉及電路技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種二極管的檢測電路。

背景技術(shù)

二極管是最常用的電子元件之一，其具有單向?qū)ㄐ裕措娏髟诙O管中的流經(jīng)方向僅有一種。由于二極管的使用原理簡單，而被廣泛地應(yīng)用與常見的整流電路、檢波電路、穩(wěn)壓電路等各種調(diào)制電路。然而，二極管的性能將對其所應(yīng)用電路的功能產(chǎn)生一定的影響。

通常在電子電路中，將二極管的正極連接于高電位端，負極連接于地點為端，以使得二極管發(fā)揮其單向?qū)ㄐ阅埽朔N連接方式被稱為二極管的正向偏置；相應(yīng)的，若將二極管反接于電子電路中，當該電子電路中相對于二極管的反向電壓增大至一定數(shù)值時，則會有反向電流通過該二極管，從而使得二極管被擊穿。而對于不同的二極管其具有不同的偏置電壓和反向漏電流，即二極管的伏安特性具有一定的差異，常見的二極管根據(jù)其所使用的半導(dǎo)體材料可以分為硅基二極管和鍺基二極管等。因而，在使用前，需要對二極管的導(dǎo)通特性、發(fā)光情況等進行檢測。該檢測方法通常是在二極管出廠前，對其導(dǎo)通特性、發(fā)光顏色等進行逐一檢測。

但是，現(xiàn)有技術(shù)中，這種需要多工站聯(lián)合進行測試判斷以對二極管的性能進行檢測，這就使得整個測試過程的流程繁瑣，測試速度慢，從而影響測試效率，不利于電子元器件的高效生產(chǎn)與檢測。

實用新型內(nèi)容

有鑒于此，本實用新型實施例提供了一種二極管的檢測電路，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中二極管性能檢測的測試流程繁瑣、測試速度慢，從而影響測試效率的技術(shù)問題。

第一方面，本實用新型實施例提供了一種二極管檢測電路，包括：至少一個二極管檢測端、正向特性測試模塊、反向特性測試模塊、第一開關(guān)模塊、以及處理器；

所述二極管檢測端的正極與所述二極管的第一電極電連接、以及負極與所述二極管的第二電極電連接；

所述第一開關(guān)模塊的第一控制端與所述正向特性測試模塊的第一檢測端電連接、第二控制端與所述正向特性測試模塊的第二檢測端電連接、第三控制端與所述反向特性測試模塊的第一檢測端電連接、第四控制端與所述反向特性測試模塊的第二檢測端電連接、控制信號輸入端與所述處理器的第一控信號輸出端電連接、第一輸出端與所述二極管檢測端的正極電連接、以及第二輸出端與所述二極管檢測端的負極電連接，用于根據(jù)所述處理器輸出的第一控制信號，控制所述正向特性測試模塊或所述反向測試模塊對所述二極管的性能進行檢測；

所述正向特性測試模塊的輸入端與第一電源電連接、以及輸出端與所述處理器的檢測端電連接，用于根據(jù)所述第一開關(guān)模塊的控制，檢測所述二極管的正向?qū)妷海⑺稣驅(qū)妷狠斎胨鎏幚砥鳎?/p>

所述反向特性測試模塊的輸入端與所述第一電源電連接、以及輸出端與所述處理器的檢測端電連接，用于根據(jù)所述第一開關(guān)模塊的控制，檢測所述二極管的反向?qū)妷海⑺龇聪驅(qū)妷狠斎胨鎏幚砥鳎?/p>

所述處理器，用于根據(jù)所述正向?qū)妷汉?或所述反向?qū)妷海袛嗨龆O管的性能。

可選的，所述第一開關(guān)模塊包括第一電磁繼電器；