[實(shí)用新型]一種光纖質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201721175834.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN207248785U | 公開(公告)日: | 2018-04-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳沖;劉云;唐彬;侯懂杰;孫志嘉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)石油大學(xué)(北京) |
| 主分類號(hào): | G01N21/95 | 分類號(hào): | G01N21/95;G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11127 | 代理人: | 王濤,湯在彥 |
| 地址: | 102249*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光纖 質(zhì)量 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
1.一種光纖質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,包括:第一暗箱,第二暗箱,設(shè)置于所述第一暗箱中的光源及反射鏡,設(shè)置于所述第二暗箱中的光纖固定裝置、CCD相機(jī)及步進(jìn)電機(jī),以及圖像處理系統(tǒng);
所述第一暗箱及所述第二暗箱水平并排放置;所述第一暗箱正面設(shè)有開門,用于更換待測(cè)光纖;
所述光纖固定裝置及CCD相機(jī)固定在所述步進(jìn)電機(jī)上,所述光纖固定裝置用于固定所述待測(cè)光纖;所述第一暗箱與第二暗箱各設(shè)置有通光孔;
所述光源發(fā)出的光束經(jīng)過反射鏡、第一暗箱的通光孔及第二暗箱的通光孔后照射到所述待測(cè)光纖的入射端,所述CCD相機(jī)采集所述待測(cè)光纖的出射端的圖像信息,并傳輸至所述圖像處理系統(tǒng)進(jìn)行圖像信息處理。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述光源的出光口設(shè)置有寬度可調(diào)的狹縫,所述第二暗箱外側(cè)設(shè)有手動(dòng)調(diào)節(jié)旋鈕,用于手動(dòng)調(diào)節(jié)所述狹縫的寬度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光纖質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述光源為波長(zhǎng)430nm的藍(lán)色LED光源,經(jīng)過所述狹縫發(fā)出所述光束。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述光纖固定裝置包括:支架、刻槽板、O型圈及蓋板;
所述光纖固定裝置通過支架固定在所述步進(jìn)電機(jī)上;
所述支架用于支撐所述刻槽板;
所述O型圈設(shè)置于所述刻槽板的凹槽內(nèi),所述O型圈用于放置所述待測(cè)光纖;
所述蓋板蓋住所述刻槽板的凹槽。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,還包括:供電裝置,所述供電裝置與所述步進(jìn)電機(jī)電連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的光纖質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述待測(cè)光纖為波移光纖;
所述波移光纖的數(shù)量及長(zhǎng)度可調(diào)整。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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